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S-파라미터 곡선 분석을 이용한 회로의 건전성(Health)을 예측하는 방법에 있어서,입력 포트와 출력 포트를 갖는 회로의 S-파라미터 곡선(S-parameter plot)을 획득하는 단계;상기 S-파라미터 곡선에 기초하여 상기 회로의 피크 주파수 값(Fp)을 결정하는 단계; 및상기 피크 주파수 값(Fp)에 기초하여 상기 회로의 건전성을 예측하는 단계를 포함하는 회로 건전성 향상 방법
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제1항에 있어서,상기 회로가 프레시(fresh) 상태일 때의 제1 피크 주파수 값(Fp1)을 획득하는 단계; 및상기 회로가 열화(old) 상태일 때의 제2 피크 주파수 값(Fp2)을 획득하는 단계를 더 포함하고,상기 회로의 건전성을 예측하는 단계는,상기 제1 피크 주파수 값(Fp1), 상기 제2 피크 주파수 값(Fp2), 및 상기 피크 주파수 값(Fp)에 기초하여 상기 회로의 잔존 수명을 추정하는 단계를 포함하는, 회로 건전성 향상 방법
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제2항에 있어서,상기 회로의 잔존 수명은 상기 피크 주파수 값과 상기 제2 피크 주파수 값의 차이(Fp-Fp2)와 상기 제1 피크 주파수 값과 상기 제2 피크 주파수 값의 차이(Fp1-Fp2)의 비에 기초하여 추정되는
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제2항에 있어서,상기 회로가 열화(old) 상태일 때의 제2 피크 주파수 값(Fp2)을 획득하는 단계는,상기 회로에 화학적, 물리적, 또는 열적 자극을 미리 설정된 횟수만큼 반복하여 인가한 후, 상기 회로의 피크 주파수 값을 획득하는 단계를 포함하는, 회로 건전성 향상 방법
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제1항에 있어서,상기 회로의 S-파라미터 곡선을 획득하는 단계는,상기 입력 포트의 반사파와 입사파의 비율인 상기 입력 포트의 반사 계수(S11) 곡선을 획득하는 단계를 포함하는, 회로 건전성 향상 방법
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제1항에 있어서,상기 회로의 S-파라미터 곡선을 획득하는 단계는,상기 입력 포트의 반사파와 출력 포트의 입사파의 비율인 역전달 계수(S12) 곡선을 획득하는 단계를 포함하는, 회로 건전성 향상 방법
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제1항에 있어서,상기 회로의 S-파라미터 곡선을 획득하는 단계는,상기 출력 포트의 반사파와 상기 입력 포트의 입사파의 비율인 회로의 전달 계수(S21) 곡선을 획득하는 단계를 포함하는, 회로 건전성 향상 방법
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제1항에 있어서,상기 회로의 S-파라미터 곡선을 획득하는 단계는,상기 출력 포트의 반사파와 상기 출력 포트의 입사파의 비율인 상기 출력 포트의 반사 계수(S22) 곡선을 획득하는 단계를 포함하는, 회로 건전성 향상 방법
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제1항에 있어서,상기 회로의 피크 주파수 값(Fm)을 결정하는 단계는,상기 S-파라미터 곡선에서 미리 설정된 주파수 대역에서 최대 값 또는 최소 값을 갖는 주파수를 상기 피크 주파수 값(Fm)으로 결정하는 단계를 포함하는, 회로 건전성 향상 방법
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S-파라미터 곡선 분석을 이용하여 분석대상 회로의 건전성(Health)을 예측하는 장치로서,메모리;입력 포트와 출력 포트를 갖는 분석대상 회로의 S-파라미터 곡선(S-parameter plot)을 획득하여 S-파라미터 곡선 데이터를 상기 메모리에 저장하는 S-파라미터 측정기; 및상기 메모리에 저장된 상기 S-파라미터 곡선 데이터에 기초하여 상기 분석대상 회로의 피크 주파수 값(Fp)을 결정하고, 상기 피크 주파수 값(Fp)에 기초하여 상기 분석대상 회로의 건전성을 예측하도록 구성되는 적어도 하나의 프로세서를 포함하는 회로 건전성 향상 장치
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제10항에 있어서,상기 프로세서는 상기 분석대상 회로가 프레시(fresh) 상태일 때의 제1 피크 주파수 값(Fp1), 상기 분석대상 회로가 열화(old) 상태일 때 제2 피크 주파수 값(Fp2), 및 상기 피크 주파수 값(Fp)에 기초하여 상기 분석대상 회로의 잔존 수명을 추정하도록 구성되는, 회로 건전성 향상 장치
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제11항에 있어서,상기 분석대상 회로의 잔존 수명은 상기 피크 주파수 값과 상기 제2 피크 주파수 값의 차이(Fp-Fp2)와 상기 제1 피크 주파수 값과 상기 제2 피크 주파수 값의 차이(Fp1-Fp2)의 비에 기초하여 추정되는
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제11항에 있어서,상기 제2 피크 주파수 값(Fp2)은 상기 회로에 화학적, 물리적, 또는 열적 자극을 미리 설정한 횟수만큼 반복하여 인가한 후 획득한 상기 분석 대상 회로의 피크 주파수 값인, 회로 건전성 향상 장치
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제10항에 있어서,상기 분석대상 회로의 피크 주파수 값(Fp)은, 상기 분석대상 회로의 S-파라미터 곡선에서 미리 설정된 주파수 대역에서 최대 값 또는 최소 값을 갖는 주파수 값인, 회로 건전성 향상 장치
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병렬로 연결되는 복수의 회로;상기 복수의 회로의 회로 건전성(Health)을 평가하고, 이를 기초로 교체 신호를 인가하는 회로 건전성 향상 장치;상기 교체 신호를 수신하여 상기 복수의 회로 중 하나를 선택하는 스위치 회로; 및상기 스위치 회로에 의해 선택된 하나의 회로에 전력을 공급하는 전원을 포함하고,상기 회로 건전성 향상 장치는, 메모리; 입력 포트와 출력 포트를 갖는 분석대상 회로의 S-파라미터 곡선(S-parameter plot)을 획득하여 S-파라미터 곡선 데이터를 상기 메모리에 저장하는 S-파라미터 측정기; 및 상기 메모리에 저장된 상기 S-파라미터 곡선 데이터에 기초하여 상기 분석대상 회로의 피크 주파수 값(Fp)을 결정하고, 상기 피크 주파수 값(Fp)에 기초하여 상기 분석대상 회로의 건전성을 예측하도록 구성되는 적어도 하나의 프로세서를 포함하는 전자 장치
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제15항에 있어서,상기 회로 건전성 향상 장치는 상기 분석대상 회로가 프레시(fresh) 상태일 때의 제1 피크 주파수 값(Fp1), 상기 분석대상 회로가 열화(old) 상태일 때 제2 피크 주파수 값(Fp2), 및 상기 피크 주파수 값(Fp)에 기초하여 상기 분석대상 회로의 잔존 수명을 추정하고,상기 분석대상 회로의 잔존 수명이 미리 설정된 값 이하일 때, 상기 스위치 회로에 교체 명령을 인가하는, 전자 장치
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