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광학 분석 장치 및 광학 분석 방법

  • 기술번호 : KST2022014061
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 광학 분석 장치는, 소정의 파장으로 단색화된 단색화 광을 방출하는 단색광 방출 수단; 상기 단색화 광 중 일부가 기준 시료를 통과하는 기준 시료부; 상기 단색화 광 중 나머지 일부가 측정 시료를 통과하는 측정 시료부; 상기 기준 시료부를 통과한 광의 세기를 검출하는 기준광 검출부; 상기 측정 시료부를 통과한 광의 세기를 검출하는 측정광 검출부; 및 상기 기준광 검출부의 검출값 및 상기 측정광 검출부의 검출값으로부터 상기 측정 시료의 광학 상수를 산출하는 광학 상수 산출부를 포함할 수 있다.
Int. CL G01M 11/02 (2019.01.01) G01M 11/00 (2006.01.01) G01N 21/21 (2006.01.01) G01N 21/55 (2014.01.01) G01N 21/59 (2006.01.01)
CPC G01M 11/02(2013.01) G01M 11/30(2013.01) G01N 21/211(2013.01) G01N 21/55(2013.01) G01N 21/59(2013.01)
출원번호/일자 1020210008740 (2021.01.21)
출원인 한국전력공사, 부산대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0105864 (2022.07.28) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전력공사 대한민국 전라남도 나주시
2 부산대학교 산학협력단 대한민국 부산광역시 금정구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김효정 서울특별시 서초구
2 조국현 부산광역시 동구
3 이한빈 부산광역시 해운대구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 정안 대한민국 서울특별시 강남구 선릉로 ***, ***호(논현동,썬라이더빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.01.21 수리 (Accepted) 1-1-2021-0082785-29
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번호 청구항
1 1
소정의 파장으로 단색화된 단색화 광을 방출하는 단색광 방출 수단;상기 단색화 광 중 일부가 기준 시료를 통과하는 기준 시료부;상기 단색화 광 중 나머지 일부가 측정 시료를 통과하는 측정 시료부;상기 기준 시료부를 통과한 광의 세기를 검출하는 기준광 검출부;상기 측정 시료부를 통과한 광의 세기를 검출하는 측정광 검출부; 및상기 기준광 검출부의 검출값 및 상기 측정광 검출부의 검출값으로부터 상기 측정 시료의 광학 상수를 산출하는 광학 상수 산출부를 포함하는 광학 분석 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 단색광 방출 수단은,여러 파장을 동시에 가지고 있는 백색광을 방출하는 광원; 및상기 백색광을 소정의 원하는 파장으로 단색화하는 단색화부를 포함하는 광학 분석 장치
3 3
제1항에 있어서,동시에 두 가지 상태의 시료를 측정할 수 있도록, 상기 단색화 광을 두 가지로 쪼개는 광 쪼갬 장치를 더 포함하는 광학 분석 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 광학 상수 산출부는, 굴절률 및 두께가 알려진 광투과 판재로서 상기 측정 시료에 대하여, 투과도를 측정하고, 상기 굴절률, 두께 및 투과도를 이용하여 광학 상수를 산출하는 광학 분석 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 투과도는 상기 측정 시료부에 장착된 측정 시료에 대한 상기 측정광 검출부(106)의 측정값을, 상기 기준광 검출부에서 검출된 기준 시료에 대한 검출값으로 나누어준 값으로 정의되는 광학 분석 장치
6 6
제4항에 있어서,상기 광학 상수 산출부는, 하기 수학식에 따라 반사 계수를 산출하는 광학 분석 장치
7 7
제6항에 있어서,상기 광학 상수 산출부는, 하기 수학식에 따라 흡수 계수를 산출하는 광학 분석 장치
8 8
제7항에 있어서,상기 광학 상수 산출부는, 하기 수학식에 따라 반사도를 산출하는 광학 분석 장치
9 9
제7항에 있어서,상기 광학 상수 산출부는, 하기 수학식에 따라 흡수도를 산출하는 광학 분석 장치
10 10
제1항에 있어서,상기 광학 상수 산출부는, 굴절률 및 두께, 흡수 계수가 알려진 광투과 판재와, 상기 광투과 판재상에 알려진 두께로 코팅된 코팅막을 구비한 복합 판재에 대하여, 투과도를 측정하고, 알려진 값들과 투과도를 이용하여 상기 코팅막의 광학 상수를 산출하는 광학 분석 장치
11 11
제10항에 있어서,상기 코팅막은 코팅 매질에 첨가제가 첨가되어 있으며,상기 광학 상수 산출부는, 하기 수학식에 따라 상기 코팅 매질 및 첨가제의 흡수 계수를 산출하는 광학 분석 장치
12 12
제11항에 있어서,상기 광학 상수 산출부는, 하기 수학식에 따라 반사도를 산출하는 광학 분석 장치
13 13
제11항에 있어서,상기 광학 상수 산출부는, 하기 수학식에 따라 흡수도를 산출하는 광학 분석 장치
14 14
단색화 광을 기준 시료에 통과시킨 광 세기를 검출하는 단계;단색화 광을 측정 시료에 통화시킨 광 세기를 검출하는 단계;상기 측정 시료에 대한 검출값을 상기 기준 시료에 대한 검출값으로 나누어준 값으로 투과도를 산출하는 단계; 및상기 측정 시료의 굴절률, 두께 및 상기 투과도를 이용하여 상기 측정 시료의 광학 상수를 산출하는 단계를 포함하는 광학 분석 방법
15 15
제14항에 있어서,단색화 광을 생성하는 단계;상기 단색화 광을 두 개로 분리하는 단계;분리된 단색화 광 중 하나를 기준 시료에 통과시키는 단계; 및분리된 단색화 광 중 나머지 하나를 측정 시료에 통과시키는 단계를 더 포함하는 광학 분석 방법
16 16
제14항에 있어서,상기 측정 시료는, 굴절률 및 두께, 흡수 계수가 알려진 광투과 판재와, 첨가제를 함유하며 상기 광투과 판재상에 알려진 두께로 코팅된 코팅막을 구비한 복합 판재이며,상기 측정 시료에 통과시킨 광 세기를 검출하는 단계는, 상기 광투과 판재를 통과시킨 광 세기를 검출하는 단계;상기 광투과 판재 및 상기 첨가제가 함유되지 않은 코팅막으로 이루어진 무첨가 복합 판재를 통과시킨 광 세기를 검출하는 단계; 및상기 광투과 판재 및 상기 첨가제가 함유된 코팅막으로 이루어진 상기 복합 판재를 통과시킨 광 세기를 검출하는 단계를 포함하는 광학 분석 방법
17 17
제16항에 있어서, 상기 측정 시료의 광학 상수를 산출하는 단계에서는,상기 광투과 판재의 투과도, 굴절률, 두께를 이용하여 상기 광투과 판재의 광학 상수를 산출하는 단계;상기 광투과 판재의 광학 상수 및 상기 무첨가 복합 판재의 굴절률, 두께를 이용하여 상기 무첨가 복합 판재의 광학 상수를 산출하는 단계; 및상기 광투과 판재의 광학 상수, 상기 무첨가 복합 판재의 광학 상수 및 상기 복합 판재의 굴절률, 두께를 이용하여 상기 복합 판재의 광학 상수를 산출하는 단계를 포함하는 광학 분석 방법
18 18
제14항에 있어서,상기 측정 시료는, 굴절률 및 두께, 흡수 계수가 알려진 광투과 판재와, 상기 광투과 판재상에 알려진 두께로 코팅된 코팅막을 구비한 복합 판재이며,상기 측정 시료에 통과시킨 광 세기를 검출하는 단계는, 상기 광투과 판재를 통과시킨 광 세기를 검출하는 단계;상기 복합 판재를 통과시킨 광 세기를 검출하는 단계를 포함하고,상기 측정 시료의 광학 상수를 산출하는 단계에서는,상기 광투과 판재의 투과도, 굴절률, 두께를 이용하여 상기 광투과 판재의 광학 상수를 산출하는 단계; 및상기 광투과 판재의 광학 상수 및 상기 복합 판재의 굴절률, 두께를 이용하여 상기 복합 판재의 광학 상수를 산출하는 단계를 포함하는 광학 분석 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.