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방청 내구성 검증 장치 내 도장 부품을 삽입하여 방청 내구성 검증을 하는 방법으로서,사용자가 미리 설정한 검증 조건을 토대로 도장 부품에 전압을 인가하는 단계;상기 도장 부품을 건조시키는 단계;상기 도장 부품에 전류를 인가하는 단계; 및상기 도장 부품을 세척하는 단계를 포함하는, 방청 내구성 검증 방법
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청구항 1에 있어서,상기 사용자가 미리 설정한 검증 조건은,방청 내구성 검증 장치 내 용액의 온도를 50도씨(°C) 이하로 유지하는 조건을 포함하는, 방청 내구성 검증 방법
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청구항 1에 있어서,상기 사용자가 미리 설정한 검증 조건은,방청 내구성 검증 장치 내 공기압을 0
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청구항 1에 있어서,상기 도장 부품에 전압을 인가하는 단계는,포화 감홍 기준 전극(Saturated Calomel Reference Electrode; SCE)을 기준으로 음극분극에 마이너스(-) 1000 내지 마이너스 700미리볼트(mV)를 인가하고, 양극분극에 마이너스(-) 490 내지 마이너스 200미리볼트(mV)를 인가하는 단계를 포함하는, 방청 내구성 검증 방법
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청구항 1에 있어서,상기 도장 부품을 건조시키는 단계는,방청 내구성 검증 장치 내 용액을 제거하고, 방청 내구성 검증 장치 내 온도를 60도씨(°C) 이하로 유지하고, 상대습도를 70 내지 90퍼센트(%)로 유지한 상태에서 도장 부품을 건조시키는 단계를 포함하는, 방청 내구성 검증 방법
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청구항 1에 있어서,상기 도장 부품에 전류를 인가하는 단계는,포화 감홍 기준 전극(Saturated Calomel Reference Electrode; SCE)을 기준으로 양극분극에 인가되는 전압인 마이너스(-) 490 내지 마이너스 200미리볼트(mV)에 해당하는 전류 값을 측정하는 단계; 및상기 측정된 전류 값을 정전류로 인가하는 단계를 포함하는, 방청 내구성 검증 방법
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청구항 1에 있어서,상기 도장 부품을 세척하는 단계는,증류수로 도장 부품을 세척하는 단계를 포함하는, 방청 내구성 검증 방법
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프로세서; 및상기 프로세서를 통해 실현되는 적어도 하나의 명령을 저장하는 메모리를 포함하고,상기 적어도 하나의 명령은,사용자가 미리 설정한 검증 조건을 토대로 도장 부품에 전압을 인가하도록 하는 명령;상기 도장 부품을 건조시키도록 하는 명령;상기 도장 부품에 전류를 인가하도록 하는 명령; 및상기 도장 부품을 세척하도록 하는 명령을 포함하는, 방청 내구성 검증 장치
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청구항 8에 있어서,상기 사용자가 미리 설정한 검증 조건은,방청 내구성 검증 장치 내 용액의 온도를 50도씨(°C) 이하로 유지하는 조건을 포함하는, 방청 내구성 검증 장치
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청구항 8에 있어서,상기 사용자가 미리 설정한 검증 조건은,방청 내구성 검증 장치 내 공기압을 0
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청구항 8에 있어서,상기 도장 부품에 전압을 인가하도록 하는 명령은,포화 감홍 기준 전극(Saturated Calomel Reference Electrode; SCE)을 기준으로 음극분극에 마이너스(-) 1000 내지 마이너스 700미리볼트(mV)를 인가하고, 양극분극에 마이너스(-) 490 내지 마이너스 200미리볼트(mV)를 인가하도록 하는 명령을 포함하는, 방청 내구성 검증 장치
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청구항 8에 있어서,상기 도장 부품을 건조시키도록 하는 명령은,방청 내구성 검증 장치 내 용액을 제거하고, 방청 내구성 검증 장치 내 온도를 60도씨(°C) 이하로 유지하고, 상대습도를 70 내지 90퍼센트(%)로 유지한 상태에서 도장 부품을 건조시키도록 하는 명령을 포함하는, 방청 내구성 검증 장치
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청구항 8에 있어서,상기 도장 부품에 전류를 인가하도록 하는 명령은,포화 감홍 기준 전극(Saturated Calomel Reference Electrode; SCE)을 기준으로 양극분극에 인가되는 전압인 마이너스(-) 490 내지 마이너스 200미리볼트(mV)에 해당하는 전류 값을 측정하도록 하는 명령; 및상기 측정된 전류 값을 정전류로 인가하도록 하는 명령을 포함하는, 방청 내구성 검증 장치
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청구항 8에 있어서,상기 도장 부품을 세척하도록 하는 명령은,증류수로 도장 부품을 세척하도록 하는 명령을 포함하는, 방청 내구성 검증 장치
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