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오염입자의 실시간 복합 측정이 가능한 수직형 플라즈마 처리 장치

  • 기술번호 : KST2022014128
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 플라즈마 처리 장치를 이용한 플라즈마 처리 공정 중 발생하는 오염입자를 측정하기 위한 것으로, 공정 챔버와, 상기 공정 챔버의 일측에 형성되며 코팅부품이 탑재되는 코팅부품 홀더와, 상기 코팅부품의 플라즈마 처리를 위해 플라즈마를 생성시키는 플라즈마 발생부를 포함하는 플라즈마 처리 장치에 있어서, 상기 공정 챔버 하측부에 형성되며, 상기 코팅부품의 플라즈마 처리 공정 영역 하측부에 형성되는 배기부를 포함하며, 상기 공정 챔버 일측에 형성되며, 상기 공정 챔버 내부에 레이저광을 조사하여 광산란에 의한 오염입자를 측정하는 제1 오염입자 측정부와, 상기 공정 챔버 타측에 형성되며, 상기 공정 영역의 플라즈마 상태를 진단하는 플라즈마 진단부와, 상기 배기부에 형성되며, 상기 배기부를 통과하는 오염입자에 레이저광을 조사하여 광산란에 의한 오염입자를 실시간으로 측정하는 제2 오염입자 측정부를 포함하는 오염입자의 실시간 복합 측정이 가능한 수직형 플라즈마 처리 장치를 기술적 요지로 한다. 이에 의해 공정 챔버 내부 및 배기부에서의 오염입자의 측정이 가능하며, 공정 챔버 내부에서의 플라즈마 상태의 진단이 가능하여 오염입자에 대한 측정을 복합적이면서 실시간으로 수행할 수 있는 이점이 있다.
Int. CL H01J 37/32 (2006.01.01) G01N 15/02 (2006.01.01) G01N 21/39 (2006.01.01)
CPC H01J 37/32853(2013.01) H01J 37/32834(2013.01) H01J 37/32935(2013.01) H01J 37/32715(2013.01) G01N 15/0205(2013.01) G01N 21/39(2013.01) H01J 2237/3321(2013.01) H01J 2237/3341(2013.01)
출원번호/일자 1020210007940 (2021.01.20)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0105353 (2022.07.27) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2021.01.20)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 윤주영 대전광역시 유성구
2 김민중 대전광역시 서구
3 소종호 대전광역시 대덕구
4 최은미 세종특별자치시 달빛*로
5 김하영 충청북도 괴산군
6 맹선정 경기도 하남시 미사

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이준성 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길 **, ***호 준성특허법률사무소 (대치동, 대치빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.01.20 수리 (Accepted) 1-1-2021-0075186-26
2 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2021.08.09 수리 (Accepted) 1-1-2021-0914663-06
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2021.10.18 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2021.12.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2022-0032085-21
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2022.04.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2022-0282685-89
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2022.06.13 수리 (Accepted) 1-1-2022-0611271-73
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2022.06.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2022-0611270-27
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
공정 챔버와, 상기 공정 챔버의 일측에 형성되며 코팅부품이 탑재되는 코팅부품 홀더와, 상기 코팅부품의 플라즈마 처리를 위해 플라즈마를 생성시키는 플라즈마 발생부를 포함하는 플라즈마 처리 장치에 있어서,상기 코팅부품의 플라즈마 처리 공정 영역에 대해 수직 방향으로 상기 공정 챔버 하측부에 형성되는 배기부를 포함하며,상기 공정 챔버 일측에 형성되며, 상기 공정 챔버 내부에 레이저광을 조사하여 광산란에 의한 오염입자를 측정하는 제1 오염입자 측정부;상기 공정 챔버 타측에 형성되며, 상기 공정 영역의 플라즈마 상태를 진단하는 플라즈마 진단부;상기 배기부에 형성되며, 상기 배기부를 통과하는 오염입자에 레이저광을 조사하여 광산란에 의한 오염입자를 실시간으로 측정하는 제2 오염입자 측정부;를 포함하는 오염입자의 실시간 복합 측정이 가능한 수직형 플라즈마 처리 장치
2 2
제 1항에 있어서, 상기 제1 오염입자 측정부는,상기 공정 영역에 레이저를 조사하는 레이저모듈;상기 레이저모듈 전방에 위치하며 레이저광을 조절하는 레이저조절부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 오염입자의 실시간 복합 측정이 가능한 수직형 플라즈마 처리 장치
3 3
제 2항에 있어서, 상기 공정 챔버 일측에 형성된 윈도우를 통해 측정되며, 상기 제1 오염입자 측정부에서 측정된 오염입자의 광산란 이미지를 측정하는 이미지 센서가 더 구비된 것을 특징으로 하는 오염입자의 실시간 복합 측정이 가능한 수직형 플라즈마 처리 장치
4 4
제 2항에 있어서, 상기 레이저모듈의 대향되는 위치에 레이저광 덤프(dump)가 형성된 것을 특징으로 하는 오염입자의 실시간 복합 측정이 가능한 수직형 플라즈마 처리 장치
5 5
제 1항에 있어서, 상기 플라즈마 진단부는,상기 공정 영역의 플라즈마를 진단하는 플라즈마 진단 프로브;상기 공정 챔버 외측부에 위치하며, 상기 플라즈마 진단 프로브를 유동시키는 유동형 프로브 조절부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 오염입자의 실시간 복합 측정이 가능한 수직형 플라즈마 처리 장치
6 6
제5항에 있어서, 상기 유동형 프로브 조절부는,물리적 조절에 의해 상기 플라즈마 진단 프로브의 위치를 조절하는 것을 특징으로 하는 오염입자의 실시간 복합 측정이 가능한 수직형 플라즈마 처리 장치
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제 1항에 있어서, 상기 코팅부품 홀더는,유동형 홀더 조절부에 의해 코팅부품의 위치를 조절하는 것을 특징으로 하는 오염입자의 실시간 복합 측정이 가능한 수직형 플라즈마 처리 장치
8 8
제 7항에 있어서, 상기 유동형 홀더 조절부는,물리적 조절에 의해 구현되는 것을 특징으로 하는 오염입자의 실시간 복합 측정이 가능한 수직형 플라즈마 처리 장치
9 9
제 1항에 있어서, 상기 공정 챔버는 둘레를 따라 복수개의 가스 유입부가 형성된 것을 특징으로 하는 오염입자의 실시간 복합 측정이 가능한 수직형 플라즈마 처리 장치
10 10
제 10항에 있어서, 상기 가스 유입부는,상기 공정 챔버 상측에 더 조밀하게 형성된 것을 특징으로 하는 오염입자의 실시간 복합 측정이 가능한 수직형 플라즈마 처리 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 한국표준과학연구원 한국표준과학연구원 연구운영비지원 화학증착소재 열안정성 측정 기술 개발
2 과학기술정보통신부 한국표준과학연구원 한국표준과학연구원 연구운영비지원 소재물성 측정 기반 반도체 박막공정용 Niobium 화학증착소재 개발 (2차년도)