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반사 계수 검출을 위한 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2022014288
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 개시(disclosure)는 LTE(Long Term Evolution)와 같은 4G(4th generation) 통신 시스템 이후 보다 높은 데이터 전송률을 지원하기 위한 5G(5th generation) 또는 pre-5G 통신 시스템에 관련된 것이다. 본 개시의 다양한 실시 예들에 따르면, 무선 통신 시스템에서 전자 장치의 반사 계수(reflection coefficient)를 검출(detecting)하는 회로는, 적어도 하나의 프로세서(processor), 복수의 ADC(analog to digital converter)들, 복수의 RF 소자들 및 제1 전송 선로, 제2 전송 선로 및 제3 전송 선로를 포함하는 복수의 전송 선로들을 포함하고, 상기 복수의 ADC들, 상기 복수의 RF 소자들 및 상기 복수의 전송 선로들은 각각 대응하여 서로 연결되고, 상기 복수의 ADC들은 상기 적어도 하나의 프로세서에 연결되고, 상기 제1 전송 선로는 상기 전자 장치의 전송 선로와 일정 거리 이격되어 배치되어 상기 전송 선로의 제1 지점에서 전기적으로 연결되고, 상기 제2 전송 선로는 상기 전송 선로와 일정 거리 이격되어 배치되어 상기 전송 선로의 제2 지점에서 전기적으로 연결되고, 상기 제3 전송 선로는 상기 전송 선로와 일정 거리 이격되어 배치되어 상기 전송 선로의 제3 지점에서 전기적으로 연결되고, 상기 제1 지점은 상기 제2 지점으로부터 제1 길이만큼 이격되고, 상기 제3 지점은 상기 제2 지점으로부터 제2 길이만큼 이격될 수 있다.
Int. CL G01R 23/06 (2006.01.01) G01R 19/25 (2006.01.01) G01R 19/00 (2021.01.01) G01R 23/165 (2006.01.01) G01R 23/00 (2006.01.01)
CPC G01R 23/06(2013.01) G01R 19/2503(2013.01) G01R 19/0084(2013.01) G01R 23/165(2013.01) G01R 23/005(2013.01) G01R 19/0038(2013.01)
출원번호/일자 1020210008348 (2021.01.20)
출원인 삼성전자주식회사, 포항공과대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0105531 (2022.07.27) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 19

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박현철 경기도 수원시 영통구
2 송호진 경상북도 포항시 남구
3 김용훈 경기도 수원시 영통구
4 양성기 경기도 수원시 영통구
5 최승욱 경상북도 포항시 남구
6 이승훈 경상북도 포항시 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이정순 대한민국 서울특별시 종로구 새문안로 *길 ** 로얄빌딩 **층(리앤권법률특허사무소)
2 권혁록 대한민국 서울특별시 종로구 새문안로 *길 ** 로얄빌딩 **층(리앤권법률특허사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.01.20 수리 (Accepted) 1-1-2021-0078648-33
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번호 청구항
1 1
무선 통신 시스템에서 전자 장치의 반사 계수(reflection coefficient)를 검출(detecting)하는 회로에 있어서,적어도 하나의 프로세서(processor);복수의 ADC(analog to digital converter)들;복수의 RF 소자들; 및제1 전송 선로, 제2 전송 선로 및 제3 전송 선로를 포함하는 복수의 전송 선로들을 포함하고,상기 복수의 ADC들, 상기 복수의 RF 소자들 및 상기 복수의 전송 선로들은 각각 대응하여 서로 연결되고, 상기 복수의 ADC들은 상기 적어도 하나의 프로세서에 연결되고,상기 제1 전송 선로는 상기 전자 장치의 전송 선로와 일정 거리 이격되어 배치되어 상기 전송 선로의 제1 지점에서 전기적으로 연결되고, 상기 제2 전송 선로는 상기 전송 선로와 일정 거리 이격되어 배치되어 상기 전송 선로의 제2 지점에서 전기적으로 연결되고, 상기 제3 전송 선로는 상기 전송 선로와 일정 거리 이격되어 배치되어 상기 전송 선로의 제3 지점에서 전기적으로 연결되고,상기 제1 지점은 상기 제2 지점으로부터 제1 길이만큼 이격되고, 상기 제3 지점은 상기 제2 지점으로부터 제2 길이만큼 이격되는, 회로
2 2
청구항 1에 있어서,상기 복수의 ADC들, 상기 복수의 RF 소자들 및 상기 복수의 전송 선로들은 일대일 대응으로 서로 연결되는, 회로
3 3
청구항 1에 있어서,상기 제1 전송 선로, 상기 제2 전송 선로 및 상기 제3 전송 선로는 상기 전송 선로와 커플링(coupling)에 의해 각각 상기 제1 지점, 상기 제2 지점 및 상기 제3 지점에서 전기적으로 연결되는, 회로
4 4
청구항 1에 있어서,상기 복수의 RF 소자들은 비선형 소자로 구성되는, 회로
5 5
청구항 4에 있어서,상기 비선형 소자는 다이오드(diode)인, 회로
6 6
청구항 1에 있어서,상기 제1 길이는 상기 제2 길이와 동일하게 형성되는, 회로
7 7
청구항 1에 있어서,상기 전자 장치의 상기 전송 선로를 통과하는 신호의 파장을 λ이라 할 때, 상기 제1 길이와 상기 제2 길이의 합이 λ/4보다 작은, 회로
8 8
청구항 1에 있어서,상기 제1 지점, 상기 제2 지점 및 상기 제3 지점은 상기 전자 장치의 안테나 및 증폭기(power amplifier) 사이에 위치하는, 회로
9 9
청구항 1에 있어서,상기 제1 전송 선로, 상기 제2 전송 선로 및 상기 제3 전송 선로는 서로 동일한 구조로 구성되고,상기 복수의 RF 소자들은 제1 RF 소자, 제2 RF 소자 및 제3 RF 소자를 포함하고,상기 제1 RF 소자, 상기 제2 RF 소자 및 상기 제3 RF 소자는 서로 동일한 구조로 구성되는, 회로
10 10
무선 통신 시스템에서 전자 장치의 반사 계수(reflection coefficient)를 검출(detecting)하는 방법에 있어서,상기 전자 장치의 전송 선로를 통과하는 신호에 대하여, 상기 전송 선로 상의 복수의 지점들에 대한 상기 신호의 전압들을 획득하는 과정과,측정된 상기 신호의 전압들의 크기(magnitude)를 추출하는 과정과,추출된 상기 신호의 전압들의 크기 및 상기 복수의 지점들에 대한 정보에 기반하여, 상기 신호의 반사 계수를 계산하는 과정을 포함하는 방법
11 11
청구항 10에 있어서,상기 복수의 지점들은 제1 지점, 상기 제1 지점으로부터 제1 길이 이격된 제2 지점 및 상기 제2 지점으로부터 제2 길이 이격된 제3 지점이고,상기 정보는 상기 제1 길이 및 상기 제2 길이를 포함하는, 방법
12 12
청구항 11에 있어서,상기 신호의 파장이 λ일 때, 상기 제1 길이와 상기 제2 길이의 합은 λ/4보다 작은, 방법
13 13
청구항 11에 있어서,상기 제1 길이와 상기 제2 길이는 동일한 길이로 형성되는, 방법
14 14
청구항 11에 있어서,상기 제1 지점, 상기 제2 지점 및 상기 제3 지점은 상기 전자 장치의 안테나와 증폭기(power amplifier) 사이에 위치하는, 방법
15 15
무선 통신 시스템에서 전자 장치의 반사 계수(reflection coefficient)를 검출(detecting)하는 회로에 있어서,상기 전자 장치의 전송 선로와 복수의 지점들에서 전기적으로 연결되는 복수의 전송 선로들을 포함하는 복수의 결합기들;상기 복수의 결합기와 연결된 복수의 RF 소자들;상기 복수의 RF 소자들과 연결된 복수의 ADC(analog to digital converter)들; 및상기 복수의 ADC들과 연결된 적어도 하나의 프로세서를 포함하고,상기 적어도 하나의 프로세서는: 상기 전자 장치의 상기 전송 선로를 통과하는 신호의 전압들의 크기 및 상기 복수의 지점들에 대한 정보에 기반하여, 상기 신호의 반사 계수를 계산하고,상기 신호의 전압들의 크기는, 상기 복수의 결합기들에 의해 상기 복수의 지점들 상에서 획득되는 상기 신호의 전압들에 기반하여, 상기 복수의 RF 소자들에 의해 추출되는, 회로
16 16
청구항 15에 있어서,상기 복수의 지점들은 제1 지점, 상기 제1 지점으로부터 제1 길이 이격된 제2 지점 및 상기 제2 지점으로부터 제2 길이 이격된 제3 지점이고,상기 정보는 상기 제1 길이 및 상기 제2 길이를 포함하는, 회로
17 17
청구항 16에 있어서,상기 신호의 파장이 λ일 때, 상기 제1 길이와 상기 제2 길이의 합은 λ/4보다 작은, 회로
18 18
청구항 16에 있어서,상기 제1 길이와 상기 제2 길이는 동일한 길이로 형성되는, 회로
19 19
청구항 16에 있어서,상기 제1 지점, 상기 제2 지점 및 상기 제3 지점은 상기 전자 장치의 안테나와 증폭기(power amplifier) 사이에 위치하는, 회로
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.