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양산되는 집적 회로의 동작 변수의 산포에 의한 성능 변수의 제1 확률 밀도 함수를 획득하는 과정과, 상기 집적 회로의 공정 변수의 산포에 의한 상기 성능 변수의 제2 확률 밀도 함수를 획득하는 과정과, 상기 집적 회로의 상기 성능 변수의 분포 특성을 통합적으로 확률 해석하기 위하여, 상기 제1 확률 밀도 함수와 상기 제2 확률 밀도 함수를 컨볼루션하는 과정을 포함하고, 상기 공정 변수의 산포에 의한 상기 성능 변수의 상기 제2 확률 밀도 함수를 획득하는 과정은, 수학식 에 의해 획득하는 과정을 포함하고, 상기 수학식에서, x는 상기 공정 변수를 나타내고, fX는 상기 공정 변수의 산포를 나타내고, y(x)는 상기 공정 변수에 따른 상기 성능 변수의 함수를 나타내고, x1 내지 xk는 함수 y(x)가 특정한 y 값을 갖도록 하는 모든 x 값들을 나타내고, fY는 상기 제2 확률 밀도 함수를 나타내는, 집적 회로의 성능 지표를 통합적으로 확률 해석하는 방법
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제1항에 있어서, 상기 공정 변수의 산포는, 가우시안 분포의 확률 밀도 함수인,집적 회로의 성능 지표를 통합적으로 확률 해석하는 방법
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제1항에 있어서, 상기 공정 변수의 산포는, 상기 집적 회로에 내장되기 위해 대량 생산된 소자들로부터 실제 측정을 통해 추출되는,집적 회로의 성능 지표를 통합적으로 확률 해석하는 방법
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제1항에 있어서, 상기 공정 변수는, 상기 집적 회로에 포함된 트랜지스터의 게이트의 크기, 상기 집적 회로에 포함된 플립 칩(flip-chip) 볼 사이의 거리, 상기 집적 회로에 포함된 패키지 비아(via)의 폭, 상기 집적 회로에 포함된 패키지의 각 층 사이의 거리, 상기 집적 회로에 포함된 패키지 볼들의 크기, 상기 패키지 볼들 사이의 거리, 상기 집적 회로에 포함된 PCB의 각 층 사이의 거리, 상기 집적 회로에 포함된 PCB 비아(via)의 폭, 상기 집적 회로에 포함된 PCB 트레이스(trace)에 내장된 신호선들의 폭, 상기 신호선들 사이의 간격, 및 상기 PCB 트레이스의 두께 중 적어도 하나인,집적 회로의 성능 지표를 통합적으로 확률 해석하는 방법
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제1항에 있어서, 상기 성능 변수는, 출력 전압 레벨 또는 출력 시간 지연 중 하나인,집적 회로의 성능 지표를 통합적으로 확률 해석하는 방법
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제1항에 있어서, 상기 공정 변수에 따른 상기 성능 변수의 함수는, 시뮬레이션을 통해 추출되는 방법, 이론적인 수학식으로 나타내는 방법, 수치적으로(numerically) 나타내는 방법 중 적어도 하나를 통해 획득되는, 집적 회로의 성능 지표를 통합적으로 확률 해석하는 방법
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제1항에 있어서, 상기 공정 변수의 산포에 의한 상기 성능 변수의 제2 확률 밀도 함수를 획득하는 과정은, 제1 공정 변수의 산포에 의한 상기 성능 변수의 제3 확률 밀도 함수를 획득하는 과정과, 제2 공정 변수의 산포에 의한 상기 성능 변수의 제4 확률 밀도 함수를 획득하는 과정과, 상기 제3 확률 밀도 함수와 상기 제4 확률 밀도 함수를 컨볼루션하여 상기 제2 확률 밀도 함수를 획득하는 과정을 포함하는,집적 회로의 성능 지표를 통합적으로 확률 해석하는 방법
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비-일시적(non-transitory) 컴퓨터-판독 가능(computer-readable) 저장(storage) 매체(medium)에 있어서, 양산되는 집적 회로의 동작 변수의 산포에 의한 성능 변수의 제1 확률 밀도 함수를 획득하는 동작과, 상기 집적 회로의 공정 변수의 산포에 의한 상기 성능 변수의 제2 확률 밀도 함수를 획득하는 동작과, 상기 집적 회로의 상기 성능 변수의 분포 특성을 통합적으로 확률 해석하기 위하여, 상기 제1 확률 밀도 함수와 상기 제2 확률 밀도 함수를 컨볼루션하는 동작을 실행하기 위한 하나 이상의 프로그램들을 저장하고, 상기 공정 변수의 산포에 의한 상기 성능 변수의 상기 제2 확률 밀도 함수를 획득하는 동작은, 수학식 에 의해 획득하는 동작을 포함하고, 상기 수학식에서, x는 상기 공정 변수를 나타내고, fX는 상기 공정 변수의 산포를 나타내고, y(x)는 상기 공정 변수에 따른 상기 성능 변수의 함수를 나타내고, x1 내지 xk는 함수 y(x)가 특정한 y 값을 갖도록 하는 모든 x 값들을 나타내고, fY는 상기 제2 확률 밀도 함수를 나타내는,비-일시적 컴퓨터-판독 가능 저장 매체
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제9항에 있어서, 상기 제1 확률 밀도 함수와 상기 제2 확률 밀도 함수를 컨볼루션한 결과를 출력하는 동작을 더 실행하기 위한 하나 이상의 프로그램들을 저장하기 위한 비-일시적 컴퓨터-판독 가능 저장 매체
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제10항에 있어서, 상기 결과를 이용하여, 비트 오류율(BER)을 계산하는 동작과,상기 계산된 비트 오류율을 출력하는 동작을 더 실행하기 위한 하나 이상의 프로그램들을 저장하기 위한 비-일시적 컴퓨터-판독 가능 저장 매체
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