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시료의 광학적 이방성에 대한 정량적 정보를 제공하는 현미경 시스템에 있어서,광을 방출하는 광원부;상기 광원부에서 방출된 광의 편광 형태를 변조하는 편광 변조부;상기 편광 변조부에 의해 변조된 광이 시료에 조사되고 상기 시료에서 반사 또는 투과한 광을 편광 방향에 따라 구분하여 검출하는 편광 취득부; 및 상기 편광 취득부가 검출한 광을 통해 상기 시료의 광학적 이방성에 대한 정량적 정보를 가시화하는 영상을 생성하는 영상 생성부를 포함하는, 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템
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청구항 1에 있어서, 상기 시료의 광학적 이방성은, 상기 시료의 광축 방향 및 위상 지연값을 포함하는, 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템
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청구항 1에 있어서, 상기 광원부는 LED 어레이 또는 레이저를 포함하는, 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템
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청구항 1에 있어서,상기 편광 취득부는,복수의 집광 렌즈 및 상기 시료에서 반사 또는 투과한 광을 편광 방향에 따라 구분하고 구분된 광의 각각의 세기를 검출하는 편광 카메라를 포함하는, 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템
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청구항 1에 있어서,상기 편광 취득부는,복수의 집광 렌즈, 상기 시료에서 반사 또는 투과한 광을 직교하는 편광 방향에 따라 일정한 각도로 이격시켜 분리하는 월라스톤 프리즘 및상기 분리된 직교하는 편광 방향에 따른 광을 검출하는 이미지 센서를 포함하는 카메라를 포함하는, 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템
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청구항 5에 있어서, 상기 편광 취득부는, 상기 복수의 집광 렌즈 사이에 위치하는 필드 스톱을 더 포함하는, 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템
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청구항 1에 있어서, 상기 편광 취득부는,복수의 집광 렌즈,상기 시료에서 반사 또는 투과한 광을 직교하는 편광 방향에 따라 반사 또는 투과시키는 편광 빔 스플리터, 상기 편광 빔 스플리터에서 반사된 제1 광을 검출하는 제1 카메라, 및 상기 편광 빔 스플리터를 투과한 제2 광을 검출하는 제2 카메라를 포함하는, 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템
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