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레이더 시스템에서 적응적으로 시간 지연을 변경하는 샘플링 장치

  • 기술번호 : KST2022017326
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 개시는 레이더 시스템에서 시간 지연기를 이용하여 적응적으로 시간 지연을 변경하는 샘플링 장치에 관한 것이다. 본 개시에 따르면, 레이더 시스템에 이용되는 샘플링 장치는 아날로그 형태의 수신 신호를 수신하는 수신부, 상기 수신 신호에 대응되는 기준 신호를 생성하는 기준 신호부, 상기 수신 신호와 상기 기준 신호를 이용한 아날로그-디지털 변환(converting)을 수행하는 변환부, 상기 변환부의 동작을 제어하기 위하여, 미리 설정된 제1 클럭 신호를 생성하는 클럭 신호 생성부, 상기 제1 클럭 신호에 기반하여, 상기 제1 클럭 신호보다 시간이 지연된 제2 클럭 신호를 생성하는 시간 지연부, 상기 아날로그-디지털 변환된 신호를 상관(correlation) 처리하고 분석 신호를 생성하는 상관부, 상기 분석 신호에 기반하여 표적을 식별하고 상기 제2 클럭 신호의 지연 정보를 변경하기 위한 피드백 신호를 생성하는 신호 처리부를 포함하고, 상기 시간 지연부는 상기 피드백 신호에 기반하여 상기 제2 클럭 신호의 지연 정보를 변경할 수 있다.
Int. CL G01S 7/40 (2006.01.01) G01S 13/06 (2006.01.01) G01S 7/292 (2006.01.01) H03M 1/12 (2006.01.01)
CPC G01S 7/40(2013.01) G01S 13/06(2013.01) G01S 7/2921(2013.01) H03M 1/12(2013.01)
출원번호/일자 1020210023687 (2021.02.22)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0120045 (2022.08.30) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2021.02.22)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최창호 경기도 용인시 기흥구
2 김진하 경기도 화성
3 김은희 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.02.22 수리 (Accepted) 1-1-2021-0213988-20
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2022.04.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
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번호 청구항
1 1
레이더 시스템에 이용되는 샘플링 장치에 있어서,아날로그 형태의 수신 신호를 수신하는 수신부;상기 수신 신호에 대응되는 기준 신호를 생성하는 기준 신호부;상기 수신 신호와 상기 기준 신호를 이용한 아날로그-디지털 변환(converting)을 수행하는 변환부;상기 변환부의 동작을 제어하기 위하여, 미리 설정된 제1 클럭 신호를 생성하는 클럭 신호 생성부;상기 제1 클럭 신호에 기반하여, 상기 제1 클럭 신호보다 시간이 지연된 제2 클럭 신호를 생성하는 시간 지연부;상기 아날로그-디지털 변환된 신호를 상관(correlation) 처리하고 분석 신호를 생성하는 상관부; 및상기 분석 신호에 기반하여 표적을 식별하고 상기 제2 클럭 신호의 지연 정보를 변경하기 위한 피드백 신호를 생성하는 신호 처리부를 포함하고,상기 시간 지연부는 상기 피드백 신호에 기반하여 상기 제2 클럭 신호의 지연 정보를 변경하는 샘플링 장치
2 2
청구항 1에 있어서,상기 변환부는 상기 수신 신호의 I(in phase) 채널 신호에 관한 제1 변환부와 상기 수신 신호의 Q(quadrature) 채널 신호에 관한 제2 변환부를 포함하고,상기 제1 변환부는 상기 제1 클럭 신호에 기반하여 동작하고,상기 제2 변환부는 상기 제2 클럭 신호에 기반하여 동작하는 샘플링 장치
3 3
청구항 2에 있어서,상기 제2 클럭 신호는 상기 I 채널 신호와 상기 Q 채널 신호의 위상 불일치에 관련되는 샘플링 장치
4 4
청구항 2에 있어서,상기 신호 처리부는,상기 분석 신호에 기반하여 상관 처리 이득을 결정하고,상기 상관 처리 이득이 미리 설정된 임계 값 이상인 경우 상기 표적이 탐지된 것으로 식별하고,상기 분석 신호에 기반하여 상기 표적의 위치를 결정하는 샘플링 장치
5 5
청구항 4에 있어서,상기 신호 처리부는 상기 상관 처리 이득이 상기 미리 설정된 임계 값 보다 작은 경우 상기 피드백 신호를 시간 지연부로 송신하는 샘플링 장치
6 6
청구항 4에 있어서,상기 신호 처리부는 상기 수신 신호에 관한 SNR(signal to noise ratio)과 상기 분석 신호에 관한 SNR의 비율에 기반하여 상관 처리 이득을 결정하는 샘플링 장치
7 7
청구항 1에 있어서,상기 신호 처리부는 상기 상관부에서 결정된 상관 처리 이득에 기반하여 상기 피드백 신호를 시간 지연부로 송신하고,상기 시간 지연부는,상기 신호 처리부로부터 상기 피드백 신호를 수신하고,상기 피드백 신호에 기반하여 상기 제2 클럭 신호의 지연 정보를 변경하고,상기 변경된 지연 정보에 기반하여 제3 클럭 신호를 생성하는 샘플링 장치
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청구항 7에 있어서,상기 변환부는 상기 제1 클럭 신호와 상기 제3 클럭 신호에 기반하여 동작하고,상기 제3 클럭 신호는 상기 상관 처리 이득이 미리 설정된 임계 범위에 포함되도록 결정되는 신호인 샘플링 장치
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레이더 시스템에 이용되는 샘플링 장치의 동작 방법에 있어서,아날로그 형태의 수신 신호를 수신하는 단계;상기 수신 신호에 대응되는 기준 신호를 생성하는 단계;상기 샘플링 장치에 미리 설정된 제1 클럭 신호와, 상기 제1 클럭 신호보다 시간이 지연된 제2 클럭 신호를 생성하는 단계;상기 제1 클럭 신호와 상기 제2 클럭 신호에 기반하여, 상기 수신 신호와 상기 기준 신호를 이용한 아날로그-디지털 변환(converting)을 수행하는 단계;상기 아날로그-디지털 변환된 신호를 상관(correlation) 처리하고 분석 신호를 생성하는 단계;상기 분석 신호에 기반하여 표적을 식별하고 상기 제2 클럭 신호의 지연 정보를 변경시키기 위한 피드백 신호를 생성하는 단계; 및상기 피드백 신호에 기반하여 상기 제2 클럭 신호의 지연 정보를 변경하는 단계를 포함하는 샘플링 장치의 동작 방법
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청구항 9에 있어서,상기 아날로그-디지털 변환을 수행하는 단계는,상기 제1 클럭 신호에 기반하여, 상기 수신 신호의 I(in phase) 채널 신호에 관한 아날로그-디지털 변환을 수행하는 단계; 및상기 제2 클럭 신호에 기반하여, 상기 수신 신호의 Q(quadrature) 채널 신호에 관한 아날로그-디지털 변환을 수행하는 단계를 포함하고,상기 제2 클럭 신호의 지연 정보는 상기 I 채널 신호와 상기 Q 채널 신호의 위상 불일치에 관련되는 샘플링 장치의 동작 방법
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청구항 9에 있어서,상기 변경된 지연 정보에 기반하여 제3 클럭 신호를 생성하는 단계; 및상기 제1 클럭 신호와 상기 제3 클럭 신호에 기반하여, 상기 수신 신호와 상기 기준 신호를 이용한 아날로그-디지털 변환을 수행하는 단계를 더 포함하고,상기 제3 클럭 신호는 상기 분석 신호에 기반한 상관 처리 이득이 미리 설정된 임계 범위에 포함되도록 결정되는 신호인 샘플링 장치의 동작 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.