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광대역의 광을 출력하는 광원 모듈;서큘레이터를 통하여 상기 광원 모듈에서 출력되는 광을 입력받아, 특정 대역의 광을 상기 서큘레이터로 반사시키고, 상기 특정 대역을 제외한 나머지 대역의 광을 투과시키는 광센서; 및상기 서큘레이터를 통하여 입력된 반사광으로부터 편광을 분리하여 선택적으로 편광을 입사시키는 인터로게이터;를 포함하는, 실리콘 포토닉스 인터로게이터를 구비한 반사 광파장 스캐닝 장치
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제1항에 있어서,상기 인터로게이터는,실리콘(Silicon)으로 이루어지는, 실리콘 포토닉스 인터로게이터를 구비한 반사 광파장 스캐닝 장치
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제2항에 있어서,상기 인터로게이터는,상기 서큘레이터를 통하여 입력된 반사광으로부터 편광을 분리하여 상기 편광을 투과시키는 편광파 컨트롤러;상기 편광파 컨트롤러를 통해 투과된 편광을 선택적으로 차단 또는 투과하는 전단스위칭부;상기 전단스위칭부를 투과한 광을 파장 대역에 따라 각각의 채널별로 분배하는 고분해능 배열 도파로 격자;상기 고분해능 배열 도파로 격자의 각각의 채널에 대응하여 연결되는 복수 개의 광검출기로 이뤄진 광검출기 어레이; 및제어부;를 포함하는, 실리콘 포토닉스 인터로게이터를 구비한 반사 광파장 스캐닝 장치
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제3항에 있어서,상기 편광파 컨트롤러는,굴절률의 차이에 의해 편광을 TE 편광 및 TM 편광으로 분리하는 편광파 빔 스플리터(Polarization Beam Splitter; PBS) 또는 편광파 로테이터(Polarization Rotator) 중 적어도 하나를 포함하는, 실리콘 포토닉스 인터로게이터를 구비한 반사 광파장 스캐닝 장치
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제4항에 있어서,상기 편광파 컨트롤러는,Y-분기 또는 X-분기 방식을 통해 편광을 상기 TE 편광 및 상기 TM 편광으로 분리하고,상기 전단스위칭부는,선택적으로 상기 TE 편광만 투과하는 제1 전단스위칭부와, 선택적으로 상기 TM 편광만 투과하는 제2 전단스위칭부를 포함하는, 실리콘 포토닉스 인터로게이터를 구비한 반사 광파장 스캐닝 장치
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제4항에 있어서,상기 편광파 컨트롤러는,상기 TE 편광 및 상기 TM 편광이 상기 전단스위칭부를 투과하는 경우 상기 TE 편광 및 상기 TM 편광을 결합하는 빔 컴바이너;를 포함하는, 실리콘 포토닉스 인터로게이터를 구비한 반사 광파장 스캐닝 장치
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제6항에 있어서,상기 인터로게이터는,상기 고분해능 배열 도파로 격자와 상기 광검출기 어레이 사이에 배치되는 후단스위칭부;를 포함하고,상기 광검출기 어레이는 상기 후단스위칭부의 채널 수에 대응하여 배치되는, 실리콘 포토닉스 인터로게이터를 구비한 반사 광파장 스캐닝 장치
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제7항에 있어서,상기 써큘레이터와 상기 편광파 컨트롤러 사이, 상기 후단스위칭부와 광검출기 어레이 사이 및 상기 편광파 컨트롤러와 상기 빔 컴바이너 사이 중 적어도 하나의 사이에 배치되는 커플러;를 더 포함하는, 실리콘 포토닉스 인터로게이터를 구비한 반사 광파장 스캐닝 장치
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광대역의 광을 출력하는 광원 모듈;서큘레이터를 통하여 상기 광원 모듈에서 출력되는 광을 입력받아, 특정 대역의 광을 상기 서큘레이터로 반사시키고, 상기 특정 대역을 제외한 나머지 대역의 광을 투과시키는 광센서;상기 서큘레이터를 통하여 입력된 반사광으로부터 편광을 분리하여 상기 편광을 투과시키는 편광파 컨트롤러;상기 편광파 컨트롤러를 통해 투과된 편광을 선택적으로 차단 또는 투과하는 스위칭부;상기 스위칭부를 투과한 광을 파장 대역에 따라 각각의 채널별로 분배하는 고분해능 배열 도파로 격자;상기 고분해능 배열 도파로 격자의 각각의 채널에 대응하여 연결되는 복수 개의 광검출기로 이뤄진 광검출기 어레이; 및제어부;를 포함하는, 실리콘 포토닉스 인터로게이터를 구비한 반사 광파장 스캐닝 장치
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