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진공용 박막 두께 측정 장치

  • 기술번호 : KST2022018558
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 진공용 광학 모듈을 이용한 반도체 및 디스플레이 등 대면적 시료 의 진공용 박막 두께 측정 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 광원, 광섬유, 분광 검출부(분광부와 광센서 어레이부(회로부 포함)) 등을 포함하는 광학계 모듈을 진공 내에 구비하도록 함으로써, 진공 속에서 반도체 또는 디스플레이 재료의 박막 두께를 실시간으로 측정하여 분석이 가능하므로 박막 두께 측정 시간이 대폭 단축되어 보다 경제적인 진공용 박막 두께 측정 장치에 관한 것이다.
Int. CL G01B 11/06 (2006.01.01) G02B 6/02 (2022.01.01) G01J 3/28 (2006.01.01) G01N 21/95 (2006.01.01) G01N 21/94 (2006.01.01) G01N 21/88 (2006.01.01)
CPC G01B 11/0625(2013.01) G02B 6/02(2013.01) G01J 3/28(2013.01) G01N 21/9501(2013.01) G01N 21/94(2013.01) G01N 21/8806(2013.01) G01B 2210/56(2013.01)
출원번호/일자 1020210031295 (2021.03.10)
출원인 선문대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0126944 (2022.09.19) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2021.03.10)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 선문대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 아산시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김호섭 인천광역시 서구
2 안승준 대전광역시 서구
3 김대욱 충청남도 천안시 서북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인아이엠 대한민국 서울특별시 강서구 마곡중앙로 ***-*, 비동 ***호 (마곡동, 두산더랜드파크)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.03.10 수리 (Accepted) 1-1-2021-0281595-18
2 특허고객번호 정보변경(경정)신고서·정정신고서
2022.02.07 수리 (Accepted) 4-1-2022-5028726-12
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2022.06.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2022.08.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2022-0168482-44
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번호 청구항
1 1
제어부의 제어에 따라 광을 출력하는 광원부;상기 광원부의 출력광을 메인 진공 챔버 내에 위치하는 박막이 형성된 시료에 조사하고 상기 시료에서 반사된 반사광을 수집하여 전달하는 광섬유;상기 광섬유를 통하여 전달된 반사광을 파장에 따라 검출하고, 검출된 파장에 따라 분광된 신호를 수신하여 이를 반사율을 이용하여 전기적 신호를 발생시키는 분광 검출부;상기 분광 검출부로부터 발생된 상기 전기적 신호를 수신하여 박막 두께를 산출하는 박막 두께 산출부를 포함하여 이루어지되,상기 광섬유 및 분광 검출부는 진공 내에 배치되는 것을 특징으로 하는 진공용 박막 두께 측정 장치
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 광원부도 진공 내에 배치되는 것을 특징으로 하는 진공용 박막 두께 측정 장치
3 3
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 광섬유 및 분광 검출부는 진공 케이스 내에 배치되며,상기 진공 케이스는,상기 분광 검출부가 수용되는 분광 검출부 수용부;상기 광섬유가 삽입되어 정렬되도록 하는 진공 튜브; 및 상기 분광 검출부의 회로를 외부의 상기 박막 두께 산출부의 회로로 연결하도록 형성된 진공 피드스루(feedthrough)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 진공용 박막 두께 측정 장치
4 4
제 3 항에 있어서,상기 진공 케이스는 상기 진공 튜브를 통해 상기 메인 진공 챔버로부터 진공을 공급받는 것을 특징으로 하는 진공용 박막 두께 측정 장치
5 5
제 3 항에 있어서,상기 진공 케이스의 상기 진공 튜브의 하단에는 상기 광섬유가 통과할 정도의 작은 홀인 차등 진공홀이 형성되며, 상기 진공 케이스의 일측에는 별도의 진공을 공급하기 위한 진공 펌프 라인이 형성되는 것을 특징으로 하는 진공용 박막 두께 측정 장치
6 6
제 3 항에 있어서,상기 진공 케이스는 상기 진공 튜브를 길게 형성하여 상기 진공 케이스가 메인 진공 챔버로부터 일정 거리 이격하여 분리되어 설치되는 것을 특징으로 하는 진공용 박막 두께 측정 장치
7 7
제 3 항에 있어서,상기 진공 케이스는 대면적 반도체 또는 디스플레이 기판의 시료 상에 일렬 또는 다수열로 이격하여 어레이 형태로 설치되며, 각 진공 케이스의 일측에는 한 쌍을 이루어 해당 시료의 이물질 및 결함 검사를 수행하는 광학 현미경 모듈이 더 구비되는 것을 특징으로 하는 진공용 박막 두께 측정 장치
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