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전기화학 분광법을 사용한 유기물 반도체의 안정성 분석 시스템에 있어서,투명기판(200)에 필름형태로 진공 증착하여 박막으로 만들어진 유기물 반도체 소자(210)가 투광 가능하도록 설치되되, 상기 유기물 반도체 소자(210)에 전류를 인가하는 전극(111)이 형성된 세팅부(110);상기 유기물 반도체 소자(210)에 백색광을 분산시킨 다수의 분산광을 순차적으로 조사하여 투과시키는 제1광원부(120);상기 유기물 반도체 소자(210)를 통과한 분산광을 스펙트럼 분석하여 흡수 광 파장을 추출하는 파장추출부(140);상기 유기물 반도체 소자(210)를 통과한 광의 스펙트럼 변화를 실시간으로 추적하는 광 분석부(150);상기 파장추출부(140) 및 광 분석부(150)의 동작을 위해 상기 전극(111)을 통해 전하를 주입하는 제어부(160); 로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전기화학 분광법을 사용한 유기물 반도체의 안정성 분석 시스템
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제1항에 있어서,상기 파장추출부(140)를 통해 추출된 흡수 광의 파장 특성이 있는 주 광원을 조사하는 제2광원부(130)를 더 포함하되,상기 광 분석부(150)는 상기 유기물 반도체 소자(210)를 통과한 주 광원을 분석하며 광의 변화를 실시간으로 추적하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 전기화학 분광법을 사용한 유기물 반도체의 안정성 분석 시스템
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제2항에 있어서,유기물 반도체 소자(210)에 사용된 유기 물질(211)별로 투입된 전류량에 대한 광 변화량을 수치화하여 저장하는 데이터구축부(170);상기 데이터구축부(170)에 저장되는 유기 물질별 데이터를 비교 및 광 변화량 순으로 정렬하여 제공하되, 데이터가 산출된 물질에 대해 근래 산출된 신규 물질의 광 변화량을 통해 합성시 반도체 소자의 수명조건을 산출하는 평가부(180); 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전기화학 분광법을 사용한 유기물 반도체의 안정성 분석 시스템
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제3항에 있어서,상기 유기물 반도체 소자(210)가 복수의 물질이 각각 층을 형성하는 형태로 이루어지는 경우, 투입전류량에 따라 층을 이루는 복수 물질별로 광 흡수도의 변화량을 산출하는 멀티계층 분석부(190); 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전기화학 분광법을 사용한 유기물 반도체의 안정성 분석 시스템
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전기화학 분광법을 사용한 유기물 반도체의 안정성 분석 시스템을 통해 수행되는 유기물 반도체의 안정성 분석 방법에 있어서,투명기판에 필름형태로 진공 증착하여 박막으로 만들어진 유기물 반도체 소자를 투광 가능하도록 설치 후 전극을 연결하는 세팅단계(S110);진공 증착된 박막에 전하를 주입하며 백색광을 분산시킨 다수의 분산광을 순차적으로 조사하는 사전측정단계(S120);박막을 통과한 분산광을 스펙트럼 분석하여 흡수되는 광 파장을 추출하는 파장추출단계(S130);주입된 전하의 양에 대응하여 박막을 통과한 광의 스펙트럼 변화를 실시간으로 추적하는 광 분석단계(S150); 로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전기화학 분광법을 사용한 유기물 반도체의 안정성 분석 방법
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제5항에 있어서,상기 파장추출단계(S130) 다음으로 추출된 광 파장 특성이 있는 주 광원을 조사하며 진공 증착된 박막에 전하를 주입하는 메인측정단계(S140); 를 더 포함하되,상기 광 분석단계(S150)는 상기 유기물 반도체 소자(210)를 통과한 주 광원을 분석하며 광의 변화를 실시간으로 추적하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 전기화학 분광법을 사용한 유기물 반도체의 안정성 분석 방법
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제6항에 있어서,유기물 반도체 소자에 사용된 유기 물질별로 투입된 전류량에 대한 광 변화량을 수치화하는 데이터구축단계(S160);유기 물질별 데이터를 비교 및 광 변화량 순으로 정렬하여 제공하되, 데이터가 산출된 물질에 대해 근래 산출된 신규 물질의 광 변화량을 통해 합성시 반도체 소자의 수명조건을 산출하는 평가단계(S170); 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전기화학 분광법을 사용한 유기물 반도체의 안정성 분석 방법
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제7항에 있어서,상기 유기물 반도체 소자가 복수의 물질이 각각 층을 형성하는 형태로 이루어지는 경우, 투입전류량에 따라 층을 이루는 복수 물질별로 광 흡수도의 변화량을 산출하는 멀티계층 분석단계(S180); 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전기화학 분광법을 사용한 유기물 반도체의 안정성 분석 방법
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