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하나의 데이터로부터 각각 90도의 위상 차이를 가지는 4개의 신호로 샘플링(sampling)을 한 후, 샘플링된 상기 4개의 신호를 미리 정해진 하나의 위상으로 정렬하는 샘플링부;상기 샘플링부로부터 출력된 4개의 신호들을 각각 입력 받는 4개의 SR 래치(Latch)를 포함하는 SR 래치부; 및상기 SR 래치부로부터 출력된 4개의 신호들을 각각 입력 받는 4개의 D 플립플롭(D Flipflop)을 포함하는 D 플립플롭부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 하프 레이트 위상 검출기
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제1항에 있어서,상기 샘플링부는, 4개의 스트롱 암 래치부를 포함하고,상기 스트롱 암 래치부는,복수 개의 스트롱 암 래치부가 직렬적으로 연결되어 있는 것을 특징으로 하는, 하프 레이트 위상 검출기
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제2항에 있어서,상기 4개의 스트롱 암 래치부는, 상기 하나의 데이터부터 각각 90도의 위상 차이를 가지는 4개의 신호로 각각 샘플링 한 후, 샘플링된 상기 4개의 신호를 미리 정해진 하나의 위상으로 정렬하는 것을 특징으로 하는, 하프 레이트 위상 검출기
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제3항에 있어서,상기 미리 정해진 하나의 위상은,0도, 90도, 180도 또는 270도 중 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는, 하프 레이트 위상 검출기
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하나의 데이터로부터 각각 45도의 위상 차이를 가지는 8개의 신호로 샘플링(sampling)을 한 후, 샘플링된 상기 8개의 신호를 미리 정해진 하나의 위상으로 정렬하는 샘플링부;상기 샘플링부로부터 출력된 8개의 신호들을 각각 입력 받는 8개의 SR 래치(Latch)를 포함하는 SR 래치부; 및상기 SR 래치부로부터 출력된 8개의 신호들을 각각 입력 받는 8개의 D 플립플롭(D Flipflop)을 포함하는 D 플립플롭부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 쿼터 레이트 위상 검출기
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6
제5항에 있어서,상기 샘플링부는, 8개의 스트롱 암 래치부를 포함하고,상기 스트롱 암 래치부는,복수 개의 스트롱 암 래치부가 직렬적으로 연결되어 있는 것을 특징으로 하는, 쿼터 레이트 위상 검출기
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제6항에 있어서,상기 8개의 스트롱 암 래치부는, 상기 하나의 데이터부터 각각 45도의 위상 차이를 가지는 8개의 신호로 각각 샘플링 한 후, 샘플링된 상기 8개의 신호를 미리 정해진 하나의 위상으로 정렬하는 것을 특징으로 하는, 쿼터 레이트 위상 검출기
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제7항에 있어서,상기 미리 정해진 하나의 위상은,0도, 45도, 90도, 180도, 225도, 270도, 315도 또는 360도 중 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는, 쿼터 레이트 위상 검출기
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