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박막 구조체, 이를 포함하는 반도체 소자 및 박막 구조체 제조 방법

  • 기술번호 : KST2022020434
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 일 실시예는, 기판, 상기 기판 상에 마련되는 나노결정질 그래핀층 및 상기 나노결정질 그래핀층 상에 마련되는 이차원 물질층을 포함하는 박막 구조체를 제공한다. 상기 나노결정질 그래핀층은 상기 이차원 물질층의 핵생성 밀도가 109ea/cm2 이상이 되도록 하며, 이에 따라, 향상된 균일도를 가지는 이차원 물질층을 형성할 수 있고, 이차원 물질층의 형성 시간을 크게 단축시킬 수 있다.
Int. CL H01L 21/02 (2006.01.01) H01L 29/872 (2006.01.01) H01L 29/786 (2006.01.01) H01L 29/417 (2006.01.01)
CPC H01L 21/02444(2013.01) H01L 21/0259(2013.01) H01L 21/0237(2013.01) H01L 21/0262(2013.01) H01L 21/02631(2013.01) H01L 21/02568(2013.01) H01L 29/872(2013.01) H01L 29/78696(2013.01) H01L 29/41733(2013.01)
출원번호/일자 1020210035348 (2021.03.18)
출원인 삼성전자주식회사, 울산과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0130448 (2022.09.27) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 울산과학기술원 대한민국 울산광역시 울주군

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이창석 대한민국 경기도 과천시 관문로 ***,
2 권순용 울산광역시 울주군
3 김정화 울산광역시 울주군
4 손승우 울산광역시 울주군
5 송승욱 울산광역시 울주군
6 신현진 대한민국 경기도 수원시 장안구
7 이종훈 울산광역시 울주군
8 조연주 대한민국 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.03.18 수리 (Accepted) 1-1-2021-0319958-13
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번호 청구항
1 1
기판;상기 기판 상에 마련되는 나노결정질 그래핀층; 및상기 나노결정질 그래핀층 상에 마련되는 이차원 물질층; 을 포함하며, 상기 나노결정질 그래핀층은 상기 이차원 물질층의 핵생성 밀도가 109ea/cm2 이상이 되도록 하는, 박막 구조체
2 2
제1 항에 있어서,상기 나노결정질 그래핀층의 그레인 크기는 1nm 내지 1000nm인, 박막 구조체
3 3
제1 항에 있어서,상기 이차원 물질층은 전이금속 디칼코게나이드(transition metal dichalcogenide; TMD)를 포함하는, 박막 구조체
4 4
제3 항에 있어서,상기 전이금속 디칼코게나이드는 화학식 MX2로 표시되는 조성을 포함하고, 상기 M은 전이금속 원소이고, 상기 X는 칼코겐 원소인, 박막 구조체
5 5
제1 항에 있어서,상기 이차원 물질층은 h-BN, a-BN, MXene, Silicene, Stanene, Tellurene, Borophene, Antimonene, Bi2Se3, Bi2O2Se 중 적어도 어느 하나를 포함하는, 박막 구조체
6 6
제1 항에 있어서,상기 기판은 실리콘(Si), 이산화 규소(SiO2), 산화알루미늄(Al2O3), 석영(Quartz), 게르마늄(Ge), 질화 갈륨(GaN), 질화 알루미늄(AlN), 갈륨 인(GaP), 인화 인듐(InP), 갈륨 비소(GaAs), 탄화 규소(SiC), 리튬 알루미늄 산화물(LiAlO3), 산화 마그네슘(MgO), 폴리에틸렌 나프탈레이트(poly ethylene naphthalate; PEN), 폴리에틸렌 테레프탈레이트(poly ethylene terephthalate; PET) 중 적어도 어느 하나를 포함하는, 박막 구조체
7 7
나노결정질 그래핀층 및 상기 나노결정질 그래핀층 상에 마련되는 이차원 물질층을 포함하는 박막 구조체를 포함하며,상기 나노결정질 그래핀층은 상기 이차원 물질층의 핵생성 밀도가 109ea/cm2 이상이 되도록 하는, 반도체 소자
8 8
제7 항에 있어서,상기 나노결정질 그래핀층의 그레인 크기는 1nm 내지 1000nm인, 반도체 소자
9 9
제7 항에 있어서,상기 이차원 물질층은 전이금속 디칼코게나이드(TMD)를 포함하는, 반도체 소자
10 10
제9 항에 있어서,상기 전이금속 디칼코게나이드(TMD)는 화학식 MX2로 표시되는 조성을 포함하고, 상기 M은 전이금속 원소이고, 상기 X는 칼코겐 원소인, 반도체 소자
11 11
제7 항에 있어서, 상기 이차원 물질층과 이격된 게이트 전극; 및 상기 이차원 물질층과 상기 게이트 전극 사이에 마련된 게이트 절연층; 을 더 포함하는, 반도체 소자
12 12
제11 항에 있어서,상기 게이트 절연층은 실리콘 산화물, 실리콘 질화물, 산화알루미늄(Al2O3), 산화하프늄(HfO2), 산화지르코늄(ZrO2), 실리콘 산화 질화물(SiON), high-k 물질 중 적어도 어느 하나를 포함하는, 반도체 소자
13 13
제11 항에 있어서,상기 박막 구조체의 양단과 각각 전기적으로 연결되는 소스 전극 및 드레인 전극을 더 포함하는, 반도체 소자
14 14
제13 항에 있어서,상기 소스 전극 및 드레인 전극은, 금(Au), 은(Ag), 알루미늄(Al), 구리(Cu), 텅스텐(W,) 코발트(Co), 니켈(Ni), 티타늄(Ti), 탄탈럼(Ta), 질화 티타늄(TiN), 티타늄 알루미나이드(TiAl), 질화 티타늄 알루미나이드(TiAlN), 질화 탄탈럼(TaN) 중 적어도 어느 하나를 포함하는, 반도체 소자
15 15
제7 항에 있어서,상기 반도체 소자는 광전자 소자(optoelectronic device)인, 반도체 소자
16 16
제7 항에 있어서,상기 이차원 물질층 상에 마련되는 도전층을 더 포함하는, 반도체 소자
17 17
반응 챔버 내에 구비된 기판 상에 나노결정질 그래핀층을 형성하는 단계; 및상기 나노결정질 그래핀층 상에 이차원 물질층을 형성하는 단계; 를 포함하며, 상기 나노결정질 그래핀층은 상기 이차원 물질층의 핵생성 밀도가 109ea/cm2 이상이 되도록 하는, 박막 구조체 제조 방법
18 18
제17 항에 있어서,상기 이차원 물질층을 형성하는 단계는,전이금속 디칼코게나이드(TMD)의 2종 이상의 전구체를 상기 반응 챔버에 공급하여 상기 이차원 물질층을 형성하는, 박막 구조체 제조 방법
19 19
제18 항에 있어서,상기 전구체를 상기 반응 챔버에 공급하는 시간은 5분 이상 30분 이하인, 박막 구조체 제조 방법
20 20
제17 항에 있어서,상기 이차원 물질층을 형성하는 단계는,화학 기상 증착(chemical vapor deposition; CVD) 공정, 물리 기상 증착(physical vapor deposition; PVD) 공정, 원자층 증착(atomic layer depositionl ALD) 공정 또는 이들 중 적어도 두 개의 조합을 이용하여 수행하는, 박막 구조체 제조 방법
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