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결맞음 상태의 고전광을 방사하는 제1 광발생기;양자 상태의 시그널 모드와 아이들러 모드를 포함하는 양자광을 방사하는 제2 광발생기;상기 고전광의 S 편광을 물체를 향해 투과시키고 상기 시그널 모드의 P 편광을 상기 물체를 향해 반사시키는 제1 빔가르개;상기 아이들러 모드를 검출하는 제1 검출기;상기 물체에 반사된 고전광을 검출하는 제2 검출기; 및상기 물체에 반사된 시그널 모드를 검출하는 제3 검출기를 포함하는 고전광과 양자광의 조합을 이용한 양자 물체 탐지 장치
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제1 항에 있어서,상기 물체에 반사된 고전광을 상기 제2 검출기로 투과시키고 상기 물체에 반사된 시그널 모드를 상기 제3 검출기로 반사시키는 제2 빔가르개를 더 포함하는 고전광과 양자광의 조합을 이용한 양자 물체 탐지 장치
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제1 항에 있어서,상기 제1 빔가르개를 통과하여 상기 물체를 향해 진행하는 고전광과 시그널 모드가 방사되는 범위 또는 방향을 조절하는 가변 초점 렌즈부를 더 포함하는 고전광과 양자광의 조합을 이용한 양자 물체 탐지 장치
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제3 항에 있어서,상기 제1 광발생기와 상기 제2 광발생기를 제어하여 상기 고전광과 상기 양자광이 동시에 방사되도록 하여 상기 물체를 탐지하고, 탐지 결과에 따라 상기 고전광과 상기 양자광 중 어느 하나를 2차적으로 방사할 2차광으로 선택하는 제어기를 더 포함하는 고전광과 양자광의 조합을 이용한 양자 물체 탐지 장치
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제4 항에 있어서,상기 제어기는 상기 물체가 저반사율을 갖는 경우 상기 2차광으로써 상기 양자광을 선택하는 고전광과 양자광의 조합을 이용한 양자 물체 탐지 장치
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제4 항에 있어서,상기 제어기는 상기 가변 초점 렌즈부를 제어하여 상기 2차광의 탐지 영역을 줄여서 설정하는 고전광과 양자광의 조합을 이용한 양자 물체 탐지 장치
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제1 항에 있어서,상기 제1 광발생기와 상기 제1 빔가르개 사이에 위치하고, 상기 고전광의 S 편광을 투과시키는 제1 편광자를 더 포함하는 고전광과 양자광의 조합을 이용한 양자 물체 탐지 장치
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제1 항에 있어서,상기 제2 광발생기와 상기 제1 빔가르개 사이에 위치하고, 상기 시그널 모드의 P 편광을 투과시키는 제2 편광자를 더 포함하는 고전광과 양자광의 조합을 이용한 양자 물체 탐지 장치
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결맞음 상태의 고전광과 양자 상태의 시그널 모드와 아이들러 모드를 포함하는 양자광을 동시에 방사하는 단계;물체에 반사된 고전광과 상기 물체에 반사된 시그널 모드를 측정하여 상기 물체를 탐지하는 단계;상기 탐지 결과에 따라 2차적으로 방사할 2차광으로 상기 고전광과 상기 양자광 중 어느 하나를 선택하는 단계; 및상기 2차광을 방사하여 상기 물체를 재탐지하는 단계를 포함하는 고전광과 양자광의 조합을 이용한 양자 물체 탐지 방법
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제9 항에 있어서,상기 물체가 저반사율을 갖는 경우 상기 2차광으로써 상기 양자광을 선택하는 고전광과 양자광의 조합을 이용한 양자 물체 탐지 방법
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제9 항에 있어서,가변 초점 렌즈를 이용하여 상기 2차광의 탐지 영역을 줄여서 방사하는 고전광과 양자광의 조합을 이용한 양자 물체 탐지 방법
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제9 항에 있어서,상기 고전광의 S 편광을 상기 물체를 향해 투과시키고 상기 시그널 모드의 P 편광을 상기 물체를 향해 반사시키는 제1 빔가르개를 통해 상기 고전광과 상기 시그널 모드가 상기 물체를 향해 동시에 동일한 광경로 상으로 진행하는 고전광과 양자광의 조합을 이용한 양자 물체 탐지 방법
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제12 항에 있어서,상기 S 편광을 투과시키고 상기 P 편광을 반사하는 제2 빔가르개를 이용하여 상기 물체에 반사된 고전광과 상기 물체에 반사된 시그널 모드를 분리하는 고전광과 양자광의 조합을 이용한 양자 물체 탐지 방법
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