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질소가 도핑된 금속 산화물 반도체막을 포함하는 이미지 센서 및 이의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2022021268
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 질소가 도핑된 금속 산화물 반도체막을 포함하는 이미지 센서 및 이의 제조 방법을 제공한다. 이 이미지 센서는, 복수개의 화소들을 포함하며 서로 반대되는 제1 면과 제2 면을 포함하는 기판; 상기 각각의 화소들에서 상기 기판 내에 배치되는 광전 변환부; 상기 각각의 화소들에서 상기 기판의 상기 제1 면 상에 배치되는 전송 게이트; 상기 기판과 전송 게이트를 덮는 제1 층간절연막; 상기 제1 층간절연막 상의 제1 수소 차단막; 상기 제1 수소 차단막 상에 배치되는 제1 활성 패턴, 상기 제1 활성 패턴은 질소가 도핑된 금속 산화물을 포함하고; 상기 제1 활성 패턴 상의 제1 게이트; 상기 제1 게이트와 상기 제1 활성 패턴을 덮는 제2 층간절연막; 및 상기 제2 층간절연막을 관통하여 상기 제1 게이트의 양측의 상기 제1 활성 패턴과 접하는 상부 소스/드레인 콘택들을 포함한다.
Int. CL H01L 27/146 (2006.01.01)
CPC H01L 27/14612(2013.01) H01L 27/1462(2013.01) H01L 27/14636(2013.01) H01L 27/14603(2013.01) H01L 27/14692(2013.01) H01L 27/14689(2013.01)
출원번호/일자 1020210060032 (2021.05.10)
출원인 삼성전자주식회사, 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0152737 (2022.11.17) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박진성 서울특별시 성동구
2 엄상훈 경기도 용인시 수지구
3 전택수 경기도 화성
4 김동규 서울특별시 성동구
5 김윤서 서울특별시 성동구
6 정현준 서울특별시 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 고려 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.05.10 수리 (Accepted) 1-1-2021-0537356-06
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
복수개의 화소들을 포함하며 서로 반대되는 제1 면과 제2 면을 포함하는 기판;상기 각각의 화소들에서 상기 기판 내에 배치되는 광전 변환부;상기 각각의 화소들에서 상기 기판의 상기 제1 면 상에 배치되는 전송 게이트;상기 기판과 전송 게이트를 덮는 제1 층간절연막;상기 제1 층간절연막 상의 제1 수소 차단막;상기 제1 수소 차단막 상에 배치되는 제1 활성 패턴, 상기 제1 활성 패턴은 질소가 도핑된 금속 산화물을 포함하고;상기 제1 활성 패턴 상의 제1 게이트;상기 제1 게이트와 상기 제1 활성 패턴을 덮는 제2 층간절연막; 및상기 제2 층간절연막을 관통하여 상기 제1 게이트의 양측의 상기 제1 활성 패턴과 접하는 상부 소스/드레인 콘택들을 포함하는 이미지 센서
2 2
제1 항에 있어서,상기 각각의 화소들에서 상기 전송 게이트의 일측의 상기 기판 내에 배치되는 부유 확산 영역; 및상기 제1 층간절연막, 상기 제1 수소 차단막, 상기 제2 층간절연막을 관통하여 상기 부유 확산 영역과 상기 상부 소스/드레인 콘택들 중 하나를 연결시키는 배선 구조체를 더 포함하고,상기 제1 게이트는 리셋 게이트인 이미지 센서
3 3
제1 항에 있어서,상기 각각의 화소들에서 상기 기판의 상기 제1 면 상에 상기 전송 게이트와 이격되도록 배치되는 소스 팔로워 게이트; 상기 소스 팔로워 게이트의 일측에서 상기 기판 내에 배치되는 하부 소스/드레인 영역; 및상기 제1 층간절연막, 상기 제1 수소 차단막, 상기 제2 층간절연막을 관통하여 상기 하부 소스/드레인 영역과 상기 상부 소스/드레인 콘택들 중 하나를 연결시키는 배선 구조체를 더 포함하고,상기 제1 게이트는 선택 게이트인 이미지 센서
4 4
제1 항에 있어서,상기 제1 수소 차단막과 상기 제1 층간절연막은 각각 수소가 함유된 실리콘 산화물을 포함하되,상기 제1 수소 차단막의 수소 농도는 상기 제1 층간절연막의 수소 농도 보다 작은 이미지 센서
5 5
제1 항에 있어서,상기 제1 수소 차단막은 실리콘 산화물, SiOC 및 Al2O3 중 적어도 하나의 단일막 또는 다중막 구조를 가지는 이미지 센서
6 6
제1 항에 있어서,상기 상부 소스/드레인 콘택들의 하부면들과 접하며 상기 활성 패턴 내에 배치되는 상부 소스/드레인 영역들을 더 포함하되,상기 상부 소스/드레인 영역들은 수소, 불소 및 아르곤 중 적어도 하나를 포함하는 이미지 센서
7 7
제1 항에 있어서,상기 활성 패턴의 상단에서의 상기 질소의 함량과 상기 활성 패턴의 하단에서의 상기 질소의 함량의 차이는 0
8 8
제1 항에 있어서,상기 활성 패턴 내에서 상기 질소의 함량은 0
9 9
제1 항에 있어서,상기 활성 패턴과 상기 제1 게이트 사이에 개재되며 상기 활성 패턴의 전면을 덮는 게이트 절연막을 더 포함하되,상기 게이트 절연막은 알루미늄 산화물을 포함하는 이미지 센서
10 10
제1 항에 있어서,상기 제2 층간절연막 상의 제2 수소 차단막을 더 포함하는 이미지 센서
11 11
제1 항에 있어서,상기 제2 층간절연막의 일부는 상기 제1 게이트와 상기 활성 패턴 사이에 개재되어 게이트 절연막으로서 기능을 하는 이미지 센서
12 12
제1 항에 있어서,상기 제1 게이트의 상부면과 측면은 상기 제2 층간절연막과 접하는 이미지 센서
13 13
제12 항에 있어서,상기 전송 게이트 상에 배치되는 게이트 캐핑 패턴; 및상기 전송 게이트의 측면을 덮는 게이트 스페이서를 더 포함하는 이미지 센서
14 14
제1 항에 있어서,상기 금속 산화물은 In, Ga, Zn, Sn 중에 선택되는 적어도 하나의 금속을 포함하는 이미지 센서
15 15
복수개의 화소들을 포함하며 서로 반대되는 제1 면과 제2 면을 포함하는 기판;상기 각각의 화소들에서 상기 기판 내에 배치되는 광전 변환부;상기 각각의 화소들에서 상기 기판의 상기 제1 면 상에 배치되는 전송 게이트와 소스 팔로워 게이트;상기 기판과 전송 게이트를 덮는 제1 층간절연막;상기 제1 층간절연막 상의 제1 수소 차단막;상기 제1 수소 차단막 상에 배치되며 서로 이격되는 제1 활성 패턴과 제2 활성 패턴, 상기 제1 활성 패턴과 상기 제2 활성 패턴은 각각 질소가 도핑된 금속 산화물을 포함하고;상기 제1 활성 패턴 상의 제1 게이트;상기 제2 활성 패턴 상의 제2 게이트;상기 제1 게이트, 상기 제2 게이트, 상기 제1 활성 패턴 및 상기 제2 활성 패턴을 덮는 제2 층간절연막; 상기 제2 층간절연막을 관통하여 상기 제1 게이트의 양측의 상기 제1 활성 패턴과 접하는 제1 상부 소스/드레인 콘택들; 및상기 제2 층간절연막을 관통하여 상기 제2 게이트의 양측의 상기 제1 활성 패턴과 접하는 제2 상부 소스/드레인 콘택들을 포함하는 이미지 센서
16 16
제15 항에 있어서,상기 각각의 화소들에서 상기 전송 게이트의 일측의 상기 기판 내에 배치되는 부유 확산 영역; 및상기 제1 층간절연막, 상기 제1 수소 차단막, 상기 제2 층간절연막을 관통하여 상기 부유 확산 영역과 상기 제1 상부 소스/드레인 콘택들 중 하나를 연결시키는 제1 배선 구조체를 더 포함하고,상기 제1 게이트는 리셋 게이트인 이미지 센서
17 17
제15 항에 있어서,상기 소스 팔로워 게이트의 일측에서 상기 기판 내에 배치되는 하부 소스/드레인 영역; 및상기 제1 층간절연막, 상기 제1 수소 차단막, 상기 제2 층간절연막을 관통하여 상기 하부 소스/드레인 영역과 상기 제2 상부 소스/드레인 콘택들 중 하나를 연결시키는 제2 배선 구조체를 더 포함하고,상기 제2 게이트는 선택 게이트인 이미지 센서
18 18
복수개의 화소들을 포함하며 서로 반대되는 제1 면과 제2 면을 포함하는 기판;상기 기판 내에 배치되며 상기 화소들을 분리시키는 화소 분리부;상기 각각의 화소들에서 상기 기판 내에 배치되는 광전 변환부;상기 각각의 화소들에서 상기 기판의 상기 제1 면 상에 배치되는 전송 게이트;상기 각각의 화소들에서 상기 전송 게이트의 일측의 상기 기판 내에 배치되는 부유 확산 영역;상기 기판과 전송 게이트를 덮는 제1 층간절연막;상기 제1 층간절연막 상의 제1 수소 차단막;상기 제1 수소 차단막 상에 배치되는 제1 활성 패턴, 상기 제1 활성 패턴은 질소가 도핑된 금속 산화물을 포함하고;상기 제1 활성 패턴 상의 제1 게이트;상기 제1 게이트와 상기 제1 활성 패턴을 덮는 제2 층간절연막; 및상기 제2 층간절연막을 관통하여 상기 제1 게이트의 양측의 상기 제1 활성 패턴과 접하는 상부 소스/드레인 콘택들을 포함하고,상기 활성 패턴의 상단에서의 상기 질소의 함량과 상기 활성 패턴의 하단에서의 상기 질소의 함량의 차이는 0
19 19
제18 항에 있어서,상기 제1 층간절연막, 상기 제1 수소 차단막, 상기 제2 층간절연막을 관통하여 상기 부유 확산 영역과 상기 상부 소스/드레인 콘택들 중 하나를 연결시키는 배선 구조체를 더 포함하고,상기 제1 게이트는 리셋 게이트인 이미지 센서
20 20
제18 항에 있어서,상기 각각의 화소들에서 상기 기판의 상기 제1 면 상에 상기 전송 게이트와 이격되도록 배치되는 소스 팔로워 게이트; 상기 소스 팔로워 게이트의 일측에서 상기 기판 내에 배치되는 하부 소스/드레인 영역; 및상기 제1 층간절연막, 상기 제1 수소 차단막, 상기 제2 층간절연막을 관통하여 상기 하부 소스/드레인 영역과 상기 상부 소스/드레인 콘택들 중 하나를 연결시키는 배선 구조체를 더 포함하고,상기 제1 게이트는 선택 게이트인 이미지 센서
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.