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타겟에 변조된 광을 입사시키는 변조 광 입사 단계와, 상기 타겟에서 산란된 산란광을 검출하여 상기 타겟 내 상기 광의 광경로 길이를 연산하는 광 경로 길이 연산 단계와,상기 광경로 길이로부터 흡광도 변화를 연산하는 흡광도 변화 연산 단계를 포함하는 광학적 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 타겟에 입사된 상기 변조된 광은,수 MHz ~ 수 GHz의 주파수를 가지도록 변조된 광인 광학적 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 타겟에 입사된 상기 변조된 광은,600nm 내지 2500nm 중 어느 한 파장을 가지는 광인 광학적 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 변조 광 입사 단계는, 서로 다른 파장을 가지는 복수의 광을 상기 타겟에 입사하여 수행하는 광학적 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 광 경로 길이 연산 단계는, 상기 타겟에 제공된 입사광과 상기 타겟에서 산란된 산란광의 위상차를 연산하는 단계와, 연산된 상기 위상차로부터 상기 광경로 길이를 연산하여 수행하는 광학적 분석 방법
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제5항에 있어서,상기 위상차를 연산하는 단계는, 상기 입사광과 상기 산란광에 상응하는 신호를 FFT(fast fourier transform)하여 수행하는 광학적 분석 방법
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제6항에 있어서,상기 광경로 길이를 연산하는 단계는, 수학식 을 연산하여 수행하는 광학적 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 흡광도 변화 연산 단계는, 이미 흡광도를 알고 있는 기준 물체(reference object)와,상기 타겟의 흡광도의 차이를 연산하여 수행하는 광학적 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 흡광도 변화 연산 단계는, 수학식 을 연산하여 수행하는 광학적 분석 방법(Δμa: 흡광도 변화, L: 광경로 길이, Ia: 제1 산란광의 세기, Io: 제2 산란광 세기)
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제1항에 있어서,상기 광학적 분석 방법은, 상기 산란광의 검출과 동시에 상기 흡광도 변화 연산이 수행되는 광학적 분석 방법
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제5항에 있어서,상기 광학적 분석 방법은, 위상차 교정(calibration) 단계를 더 포함하며, 상기 위상차 교정 단계는, 교정 위상차를 구하는 단계와, 연산된 상기 위상차에서 상기 교정 위상차의 차이를 연산하여 수행하는 광학적 분석 방법
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타겟을 광학적으로 분석하는 광학적 분석 장치로, 상기 광학적 분석 장치는:미리 정해진 주파수로 변조된 변조광을 제공하는 광원부;상기 타겟에 제공되어 형성된 산란광을 검출하여 전기적 신호로 출력하는 검출부; 및 상기 전기적 신호로부터 상기 타겟을 광학적으로 분석하는 제어 연산부를 포함하며, 상기 제어 연산부는, 상기 전기적 신호로부터 상기 타겟 내 상기 광의 광경로 길이를 연산하는 광 경로 길이 연산 단계와,상기 광경로 길이로부터 흡광도 변화를 연산하는 흡광도 변화 연산 단계를 수행하여 상기 타겟의 흡광도 변화를 연산하는 광학적 분석 방법을 수행하는 광학적 분석 장치
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제12항에 있어서,상기 타겟에 입사된 상기 변조광은,수 MHz ~ 수 GHz의 주파수를 가지도록 변조된 광인 광학적 분석 장치
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제12항에 있어서,상기 타겟에 입사된 상기 변조광은,600nm 내지 2500nm 중 어느 한 파장을 가지는 광인 광학적 분석 장치
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제12항에 있어서,상기 광원부는, RF 신호 생성기와, 서로 다른 파장을 가지는 복수의 광을 제공하는 레이저 다이오드들과,상기 RF 신호 생성기가 형성한 RF 신호로 상기 레이저 다이오드가 제공한 광을 변조하여 상기 변조광을 형성하는 변조부를 포함하며,상기 RF 신호는 상기 제어 연산부에 제공되는 광학적 분석 장치
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제12항에 있어서,상기 광 경로 길이 연산 단계는, 상기 타겟에 제공된 입사광과 상기 타겟에서 산란된 산란광의 위상차를 연산하는 단계와, 연산된 상기 위상차로부터 상기 광경로 길이를 연산하여 수행하는 광학적 분석 장치
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제16항에 있어서,상기 위상차를 연산하는 단계는, 상기 입사광과 상기 산란광에 상응하는 신호를 FFT(fast fourier transform)하여 수행하는 광학적 분석 방법
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제17항에 있어서,상기 광경로 길이를 연산하는 단계는, 수학식 을 연산하여 수행하는 광학적 분석 장치
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제12항에 있어서,상기 흡광도 변화 연산 단계는, 이미 흡광도를 알고 있는 기준 물체(reference object)와,상기 타겟의 흡광도의 차이를 연산하여 수행하는 광학적 분석 장치
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제12항에 있어서,상기 흡광도 변화 연산 단계는, 수학식 을 연산하여 수행하는 광학적 분석 장치
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제12항에 있어서,상기 광학적 분석 방법은, 상기 산란광의 검출과 동시에 상기 흡광도 변화 연산이 수행되는 광학적 분석 장치
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제16항에 있어서,상기 광학적 분석 방법은, 위상차 교정(calibration) 단계를 더 포함하며, 상기 위상차 교정 단계는, 교정 위상차를 구하는 단계와, 상기 위상차에서 상기 교정 위상차의 차이를 연산하여 수행하는 광학적 분석 장치
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