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회전이송축 두 개가 피가공물이 안착되는 테이블(10)의 하부에 구비되며, 직선이송축 X, Y, Z가 상기 테이블(10)의 상부에 구비되는 5축 공작기계의 기하학적 오차를 산출하는 방법에 있어서,상기 테이블(10) 상부에 테이블(10)의 중심으로부터 소정 거리 이격되도록 정밀구(16)를 고정하고, 공작기계의 스핀들(12)에는 터치프로브(14)를 장착하는 측정준비단계(S10);상기 테이블(10)이 XY 평면을 이루도록 배치한 상태에서 Z축을 기준으로 기설정된 평면회전각도로 회전시킨 후 상기 터치프로브(14)가 상기 정밀구(16)의 표면을 터치하여 정밀구(16)의 위치를 측정하고, 재차 상기 테이블(10)을 Z축을 기준으로 상기 평면회전각도로 회전시키면서 터치프로브(14)가 정밀구(16)의 위치를 측정하는 동작을 반복하는 제1 평면 측정단계(S20);상기 테이블(10)이 XY 평면을 이루도록 배치한 상태에서 Z축을 기준으로 기설정된 제1 옵셋회전각도(P)로 회전시킨 후, 상기 테이블(10)을 회전이송축 중 어느 하나인 제1 회전이송축을 기준으로 상기 평면회전각도로 회전시킨 후 상기 터치프로브(14)가 상기 정밀구(16)의 표면을 터치하여 정밀구(16)의 위치를 측정하고, 재차 상기 테이블(10)을 제1 회전이송축을 기준으로 상기 평면회전각도로 회전시키면서 터치프로브(14)가 정밀구(16)의 위치를 측정하는 동작을 반복하는 제2 평면 측정단계(S30);상기 테이블(10)이 XY 평면을 이루도록 배치한 상태에서 Z축을 기준으로 기설정된 제2 옵셋회전각도(Q)로 회전시킨 후, 상기 테이블(10)을 상기 제1 회전이송축을 기준으로 상기 평면회전각도로 회전시킨 후 상기 터치프로브(14)가 상기 정밀구(16)의 표면을 터치하여 정밀구(16)의 위치를 측정하고, 재차 상기 테이블(10)을 제1 회전이송축을 기준으로 상기 평면회전각도로 회전시키면서 터치프로브(14)가 정밀구(16)의 위치를 측정하는 동작을 반복하는 제3 평면 측정단계(S40) 및상기 제1 평면 측정단계(S20), 제2 평면 측정단계(S30), 제3 평면 측정단계(S40)에서 측정된 정밀구(16)의 위치를 기반으로 5차원 공작기계의 기하학적 오차를 산출하는 기하학적 오차 산출단계(S50);를 포함하며,상기 기하학적 오차 산출단계(S50)는 옵셋되지 않은 제1 평면과, 옵셋된 제2 평면과 제3 평면 사이의 기하학적 관계로부터 기하학적 오차가 산출되는 것을 특징으로 하는, 5축 공작기계의 기하학적 오차를 산출하는 방법
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