맞춤기술찾기

이전대상기술

수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2022022984
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 실시예에 따른 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 방법은, 스트라이프 패턴이 형성된 수직자성박막에 수평방향의 자기장을 인가하여 스트라이프 패턴의 주기를 감소시키는 자구 폭 감소 단계를 포함한다. 이에 따라, 본 발명은 스트라이프 패턴의 주기에 비해 이미징 영역이 좁은 경우에도 수직자성박막의 자화의 크기를 측정할 수 있다.
Int. CL G01R 33/00 (2006.01.01) G01R 33/038 (2006.01.01) G01R 33/06 (2006.01.01) G06T 7/60 (2017.01.01)
CPC G01R 33/0023(2013.01) G01R 33/038(2013.01) G01R 33/06(2013.01) G06T 7/60(2013.01)
출원번호/일자 1020210070600 (2021.06.01)
출원인 한국표준과학연구원, 한국과학기술연구원, 한국기초과학지원연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0162297 (2022.12.08) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2021.06.01)
심사청구항수 18

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
2 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구
3 한국기초과학지원연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 문경웅 대전광역시 유성구
2 황찬용 서울특별시 강남구
3 민병철 서울특별시 성북구
4 조영훈 대전광역시 서구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이준성 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길 **, ***호 준성특허법률사무소 (대치동, 대치빌딩)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.06.01 수리 (Accepted) 1-1-2021-0630885-41
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2022.10.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 심사처리보류(연기)보고서
Report of Deferment (Postponement) of Processing of Examination
2022.11.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2022-0208500-17
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
xy 평면상에서 연장되는 수직자성박막에, y 방향으로 연장되고 상기 평면에 수직인 z 방향으로 자화되는 제1 자구(magnetic domain)와, y 방향으로 연장되고 상기 제1 자구와 반대 방향으로 자화되는 제2 자구가, x 방향을 따라 교대로 배열되는 스트라이프 패턴을 형성하는 단계;상기 수직자성박막에 상기 평면에 수평 방향인 제1 자기장을 인가함으로써 상기 제1 자구의 폭과 상기 제2 자구의 폭의 합을 감소시키는 자구 폭 감소 단계; 상기 제1 자기장이 인가되어 있는 수직자성박막에 z 방향의 수직 자기장을 인가함으로써, 상기 제1 자구의 폭과 상기 제2 자구의 폭의 합이 일정하게 유지된 상태에서 상기 제1 자구의 폭과 상기 제2 자구의 폭 중 어느 하나를 증가시키고 나머지를 감소시키는 자구 폭 변화 단계; 및상기 제1 자구의 폭과 상기 제2 자구의 폭의 비율에 기초하여 상기 수직자성박막의 자화의 절대값을 산출하는 단계를 포함하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 자구 폭 감소 단계에서, 상기 제1 자구 및 상기 제2 자구는 상기 제1 자기장의 방향을 따라 교대로 배열되는 것을 특징으로 하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 방법
3 3
제2항에 있어서,상기 스트라이프 패턴 형성 단계에서 상기 제1 자구 및 상기 제2 자구가 배열되는 방향과, 상기 자구 폭 감소 단계에서 상기 제1 자구 및 상기 제2 자구가 배열되는 방향은 동일하거나 상이한 것을 특징으로 하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 방법
4 4
제1항에 있어서,상기 산출 단계에서,상기 수직자성박막의 자화의 절대값은 상기 제1 자기장에 의해 상기 제1 자구 또는 제2 자구의 z 방향의 자화가 기울어진 정도에 기초하는 것을 특징으로 하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 방법
5 5
제4항에 있어서,상기 제1 자구의 폭 및 상기 제2 자구의 폭의 합(λ), 상기 제2 자구의 폭(W), 상기 수직자성박막의 z 방향의 두께(d), 상기 z 방향으로 인가되는 수직자기장의 크기(Hz), 상기 수직자성박막의 자화의 크기(M) 및 상기 제1 자기장에 의해 상기 제1 자구 또는 제2 자구의 z 방향의 자화가 기울어진 정도(θ)는 하기의 식을 만족하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 방법
6 6
제4항에 있어서,상기 산출 단계는,상기 제1 자구 및 상기 제2 자구의 폭이 변화된 수직자성박막의 이미지를 생성하는 단계;상기 이미지로부터 상기 제1 자구의 폭과 상기 제2 자구의 폭의 합(λ)을 산출하는 단계;상기 이미지로부터 상기 R을 산출하는 단계; 및상기 제1 자구의 폭과 상기 제2 자구의 폭의 합(λ), 상기 R 및 상기 기울어진 정도(θ)에 기초하여 상기 수직자성박막의 자화의 크기를 산출하는 단계를 포함하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 방법
7 7
제6항에 있어서,상기 기울어진 정도는, 상기 제1 자기장을 인가했을 때 상기 제1 자구 또는 제2 자구의 z 방향의 신호의 크기를 이용하여 산출되는 것을 특징으로 하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 방법
8 8
제6항에 있어서,상기 기울어진 정도(θ)는,상기 스트라이프 패턴 형성 단계와 상기 자구 폭 감소 단계의 사이에,상기 제1 자기장과 동일한 방향의 제2 자기장을 0을 포함하는 범위에서 변화시키면서 상기 수직자성박막에 인가하고, 상기 제2 자기장의 값이 0일 때를 기준으로 상기 수직자성박막의 제1 자구에 대해 측정된 신호의 크기와 제2 자구에 대해 측정된 신호의 크기를 정규화하고,상기 정규화된 제1 자구 및 제2 자구의 신호의 크기에 대해 평균값을 산출하고,상기 제1 자기장에 대응하는 평균값에 기초하여 상기 기울어진 정도(θ)를 산출하는 것을 특징으로 하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 방법
9 9
제6항에 있어서,상기 기울어진 정도(θ)는,상기 스트라이프 패턴 형성 단계와 상기 자구 폭 감소 단계의 사이에,상기 제1 자기장과 동일한 방향의 제2 자기장을 음의 값에서 양의 값에 걸쳐 상기 수직자성박막에 인가하고, 상기 제2 자기장의 값이 0일 때를 기준으로 상기 수직자성박막의 제1 자구에 대해 측정된 신호의 크기와 제2 자구에 대해 측정된 신호의 크기를 정규화하고, 상기 정규화된 제1 자구 및 제2 자구의 신호의 크기의 절대값의 평균을 산출하고, 산출된 평균에 대해 상기 제2 자기장이 음의 값일 때와 양의 값일 때의 평균값을 산출하고, 상기 제1 자기장에 대응하는 평균값에 기초하여 상기 기울어진 정도(θ)를 산출하는 것을 특징으로 하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 방법
10 10
xy 평면에서 연장되는 수직자성박막에, y 방향으로 연장되고 +z 방향으로 자화되는 제1 자구와, 상기 y 방향으로 연장되고 -z 방향으로 자화되는 제2 자구가, x 방향으로 교대로 배열되는 스트라이프 패턴을 형성하는 패턴 형성부;상기 수직자성박막에 상기 평면에 수평 방향인 제1 자기장을 인가함으로써 상기 제1 자구의 폭과 상기 제2 자구의 폭의 합을 감소시키는 수평자기장 공급부; 상기 제1 자기장이 인가되어 있는 수직자성박막에 z 방향의 수직자기장을 인가함으로써, 상기 제1 자구의 폭과 상기 제2 자구의 폭의 합이 일정하게 유지된 상태에서 상기 제1 자구의 폭과 상기 제2 자구의 폭 중 어느 하나를 증가시키고 나머지를 감소시키는 수직자기장 공급부; 및상기 제1 자구의 폭과 상기 제2 자구의 폭의 비율에 기초하여 상기 수직자성박막의 자화의 절대값을 산출하는 이미지 분석부를 포함하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 장치
11 11
제10항에 있어서,상기 수평자기장 공급부에 의해 상기 제1 자기장이 인가됨으로써, 상기 제1 자구 및 상기 제2 자구는 상기 제1 자기장의 방향을 따라 교대로 배열되는 것을 특징으로 하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 방법
12 12
제10항에 있어서,상기 수직자기장 및 상기 제1 자기장이 인가된 수직자성박막의 밝기를 측정하는 자성 이미징부를 더 포함하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 장치
13 13
제12항에 있어서,상기 이미지 분석부는, 상기 수직자성박막의 밝기에 기초하여 상기 제1 자구의 폭과 상기 제2 자구의 폭의 비율을 산출하는, 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 장치
14 14
제10항에 있어서,상기 이미지 분석부는, 상기 제1 자기장에 의해 상기 제1 자구 또는 상기 제2 자구의 z 방향의 자화가 기울어진 정도에 기초하여 상기 수직자성박막의 자화의 절대값을 산출하는 것을 특징으로 하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 장치
15 15
제14항에 있어서,상기 제1 자구의 폭 및 상기 제2 자구의 폭의 합(λ), 상기 제2 자구의 폭(W), 상기 수직자성박막의 z 방향의 두께(d), 상기 z 방향으로 인가되는 수직자기장의 크기(Hz), 상기 수직자성박막의 자화의 크기(M) 및 상기 제1 자기장에 의해 상기 제1 자구 또는 상기 제2 자구의 z 방향의 자화가 기울어진 정도(θ)는 하기의 식을 만족하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 장치
16 16
제14항에 있어서,상기 기울어진 정도는, 상기 제1 자기장을 인가했을 때 상기 제1 자구 또는 제2 자구의 z 방향의 신호의 크기를 이용하여 산출되는 것을 특징으로 하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 장치
17 17
제14항에 있어서,상기 이미지 분석부는,상기 패턴형성부에 의해 스트라이프 패턴이 형성된 수직자성박막에 상기 수평자기장 공급부에 의해 상기 제1 자기장과 동일한 방향의 제2 자기장이 0을 포함하는 범위에서 변화하면서 상기 수직자성박막에 인가되었을 때, 상기 제2 자기장의 값이 0일 때를 기준으로 상기 수직자성박막의 제1 자구에 대해 측정된 신호의 크기와 제2 자구에 대해 측정된 신호의 크기를 정규화하고, 상기 정규화된 제1 자구 및 제2 자구의 신호의 크기의 절대값에 대해 평균값을 산출하고, 상기 제1 자기장에 대응하는 평균값에 기초하여 상기 기울어진 정도(θ)를 산출하는 것을 특징으로 하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 장치
18 18
제14항에 있어서,상기 이미지 분석부는,상기 패턴형성부에 의해 스트라이프 패턴이 형성된 수직자성박막에 상기 수평자기장 공급부에 의해 상기 제1 자기장과 동일한 방향의 제2 자기장이 음의 값에서 양의 값에 걸쳐 변화하면서 상기 수직자성박막에 인가되었을 때, 상기 제2 자기장의 값이 0일 때를 기준으로 상기 수직자성박막의 제1 자구에 대해 측정된 신호의 세기와 제2 자구에 대해 측정된 신호의 세기를 정규화하고, 상기 정규화된 제1 자구 및 제2 자구의 신호의 세기의 절대값의 평균을 산출하고, 산출된 평균에 대해 상기 제2 자기장이 음의 값일 때와 양의 값일 때의 평균값을 산출하고, 상기 제1 자기장에 대응하는 평균값에 기초하여 상기 기울어진 정도(θ)를 산출하는 수직자성박막의 자화의 크기를 측정하는 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국표준과학연구원, 한국과학기술연구원, 한국기초과학지원연구원 융합연구사업 : 창의형 융합연구사업(CAP) 초저전력 및 초고속 스핀소자 물성평가 기술개발
2 과학기술정보통신부 한국기초과학지원연구원 한국기초과학지원연구원연구운영비지원(R&D)(주요사업비) 스핀 다이나믹스 계측 및 제어기술 개발