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이광자 현미경 및 이를 이용한 펄스 폭 보정방법

  • 기술번호 : KST2022023642
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 이광자 현미경은, 펄스를 갖는 제1 레이저 광을 생성하는 광원; 상기 제1 레이저 광을 전달받아 제2 레이저 광을 출력시키는 펄스 폭 보정장치; 상기 제2 레이저 광이 통과되는 광학계; 상기 광원에서 생성된 상기 제1 레이저 광의 제1 펄스 폭을 측정하는 제1 이광자 센서; 및 상기 광학계를 통과한 상기 제2 레이저 광의 제2 펄스 폭을 측정하는 제2 이광자 센서를 포함한다. 상기 펄스 폭 보정장치는 상기 제1 펄스 폭과 상기 제2 펄스 폭 간의 차이를 보정한다.
Int. CL G02B 21/00 (2022.01.01) G01N 21/64 (2006.01.01) G02B 21/06 (2006.01.01)
CPC G02B 21/0076(2013.01) G01N 21/6458(2013.01) G02B 21/06(2013.01)
출원번호/일자 1020220008013 (2022.01.19)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0167194 (2022.12.20) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020210076263   |   2021.06.11
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2022.06.29)
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 송동훈 대전광역시 유성구
2 서홍석 대전광역시 유성구
3 허철 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 고려 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2022.01.19 수리 (Accepted) 1-1-2022-0070314-58
2 [심사청구]심사청구서·우선심사신청서
2022.06.29 수리 (Accepted) 1-1-2022-0678227-77
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번호 청구항
1 1
펄스를 갖는 제1 레이저 광을 생성하는 광원;상기 제1 레이저 광을 전달받아 제2 레이저 광을 출력시키는 펄스 폭 보정장치;상기 제2 레이저 광이 통과되는 광학계;상기 광원에서 생성된 상기 제1 레이저 광의 제1 펄스 폭을 측정하는 제1 이광자 센서; 및상기 광학계를 통과한 상기 제2 레이저 광의 제2 펄스 폭을 측정하는 제2 이광자 센서를 포함하되,상기 펄스 폭 보정장치는 상기 제1 펄스 폭과 상기 제2 펄스 폭 간의 차이를 보정하는 이광자 현미경
2 2
제 1항에 있어서,상기 광원에서 생성된 상기 제1 레이저 광은 근적외선 영역의 파장을 갖는 이광자 현미경
3 3
제 1항에 있어서,상기 광원에서 생성된 상기 제1 레이저 광은 펨토초 펄스 폭을 갖는 이광자 현미경
4 4
제 1항에 있어서,상기 펄스 폭 보정장치는 반파장판 및 편광자를 포함하는 이광자 현미경
5 5
제 1항에 있어서,상기 펄스 폭 보정장치는 처프 반사 미러를 포함하는 이광자 현미경
6 6
제 1항에 있어서,상기 펄스 폭 보정장치는 한 쌍의 프리즘들을 포함하는 이광자 현미경
7 7
제 1항에 있어서,상기 펄스 폭 보정장치는 한 쌍의 회절격자들을 포함하는 이광자 현미경
8 8
제 1항에 있어서,상기 펄스 폭 보정장치는 한 쌍의 그리즘들을 포함하는 이광자 현미경
9 9
제 1항에 있어서,상기 펄스 폭 보정장치는 상기 광원 및 상기 광학계의 사이에 배치되고, 상기 제1 펄스 폭에 음의 분산 값을 추가한 상기 제2 펄스 폭을 가지는 상기 제2 레이저 광을 출력시키는 이광자 현미경
10 10
제 1항에 있어서,상기 광학계로부터 상기 제2 레이저 광이 전달되는 시료부;상기 시료부로부터 방출되어 상기 광학계를 통과하는 검출광의 제3 펄스 폭을 측정하는 제3 이광자 센서를 더 포함하되,상기 펄스 폭 보정장치는 상기 제1 펄스 폭과 상기 제3 펄스 폭 간의 차이를 더 보정하는 이광자 현미경
11 11
제 10항에 있어서,상기 광학계는 제1 광학계, 제2 광학계 및 제3 광학계를 포함하되,상기 제2 레이저 광은 상기 제1 광학계 및 상기 제2 광학계를 통과하고,상기 검출광은 상기 제2 광학계 및 상기 제3 광학계를 통과하는 이광자 현미경
12 12
제 1항에 있어서,상기 광원과 상기 제1 이광자 센서의 사이에 배치되고, 상기 광원으로부터 생성된 상기 제1 레이저 광의 일부를 상기 제1 이광자 센서로 전달하는 간섭계를 더 포함하는 이광자 현미경
13 13
펄스를 갖는 제1 레이저 광을 생성하는 광원;상기 제1 레이저 광을 전달받아 제2 및 제3 레이저 광을 출력시키는 간섭계;상기 제2 레이저 광의 제1 펄스 폭을 측정하는 제1 이광자 센서;상기 제3 레이저 광을 전달받아 제4 레이저 광을 출력시키는 펄스 폭 보정장치;상기 제4 레이저 광을 전달받아 제5 레이저 광을 출력시키는 광학계; 및상기 제5 레이저 광의 제2 펄스 폭을 측정하는 제2 이광자 센서를 포함하되,상기 펄스 폭 보정장치는 상기 제1 펄스 폭과 상기 제2 펄스 폭 간의 차이를 보정하는 이광자 현미경
14 14
제 13항에 있어서,상기 펄스 폭 보정장치는 상기 제3 레이저 광의 펄스 폭에 음의 분산 값을 추가한 상기 제2 펄스 폭을 가지는 보정된 제4 레이저 광을 출력시키는 현미경
15 15
제 13항에 있어서,상기 광학계로부터 방출되는 제6 레이저 광이 전달되는 시료부; 및상기 시료부로부터 방출되어 상기 광학계를 통과한 검출광의 제3 펄스 폭을 측정하는 제3 이광자 센서를 더 포함하되,상기 펄스 폭 보정장치는 상기 제1 펄스 폭과 상기 제3 펄스 폭 간의 차이를 더 보정하는 이광자 현미경
16 16
제 15항에 있어서,상기 광학계는 제1 광학계, 제2 광학계 및 제3 광학계를 포함하되,상기 제2 레이저 광은 상기 제1 광학계 및 상기 제2 광학계를 통과하고,상기 검출광은 상기 제2 광학계 및 상기 제3 광학계를 통과하는 이광자 현미경
17 17
광원으로부터 출력된 제1 레이저 광의 제1 펄스 폭을 측정하는 것;상기 제1 레이저 광이 광학계를 통과함으로써 상기 광학계로부터 출력된 제2 레이저 광의 제2 펄스 폭을 측정하는 것;상기 제1 펄스 폭 및 상기 제2 펄스 폭 간 차이를 계산하는 것; 및상기 제1 펄스 폭 및 상기 제2 펄스 폭 간 상기 차이에 대응하는 음의 분산 값을 이용하여 상기 제1 레이저 광의 상기 제1 펄스 폭을 보정하는 것을 포함하는 펄스 폭 보정방법
18 18
제 17항에 있어서,상기 계산 및 상기 보정이 반복적으로 수행되는 펄스 폭 보정방법
19 19
제 17항에 있어서,상기 보정 전의 상기 제2 펄스 폭은 상기 제1 펄스 폭 대비 양의 분산 값만큼의 차이를 갖는 펄스 폭 보정방법
20 20
제 17항에 있어서,상기 제2 레이저 광을 상기 광학계로부터 시료부로 전달하는 것;상기 시료부로부터 방출되어 상기 광학계를 통과하는 검출광의 제3 펄스 폭을 측정하는 것;상기 제1 펄스 폭 및 상기 제3 펄스 폭 간 차이를 계산하는 것; 및상기 제1 펄스 폭 및 상기 제3 펄스 폭 간 차이를 보정하는 것을 포함하는 펄스 폭 보정방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.