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발광램프; 및발열선이 단락되어 있는 초기 상태에서 상기 발열선을 통해 발사통제장치의 접지에 연결되어 동작하는 발광소자 및 상기 발광소자에서 방출되는 빛에 의해 턴 온되어 상기 발광램프에 전류를 흘려보내는 광검출소자를 포함하는 이산신호 회로부를 포함하고,상기 발사통제장치의 착화신호에 의해 상기 발열선이 단선되면 상기 발광램프가 오프 상태가 되는 착화라인 인터페이스 시험용 장치
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제1 항에 있어서,상기 발광소자는 제1 전원에 연결되어 있는 애노드 전극 및 상기 발열선의 일단에 연결되어 있는 캐소드 전극을 포함하는 발광 다이오드이고,상기 광검출소자는 상기 발광 다이오드에서 방출되는 빛을 수신하는 게이트 전극, 제2 전원에 연결되어 있는 제1 전극 및 상기 발광램프에 연결되어 있는 제2 전극을 포함하는 포토트랜지스터인 착화라인 인터페이스 시험용 장치
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제2 항에 있어서,상기 발사통제장치의 착화전원에 연결되어 있는 착화전원라인을 상기 발열선의 일단에 연결시키고, 상기 발사통제장치의 접지에 연결되어 있는 착화귀환라인을 상기 발열선의 타단에 연결시키는 커넥터를 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치
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제3 항에 있어서,상기 착화전원라인과 상기 발열선의 일단 사이에 연결되어 있고, 상기 제1 전원으로부터 상기 발사통제장치의 착화전원으로 전류 흐름을 방지하는 제1 다이오드를 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치
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제3 항에 있어서,상기 발광 다이오드의 캐소드 전극과 상기 발열선의 일단 사이에 연결되어 있고, 상기 발사통제장치의 착화전원으로부터 상기 이산신호 회로부로 전류 흐름을 방지하는 제2 다이오드를 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치
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제2 항에 있어서,상기 발광 다이오드와 병렬 연결되어 있는 제1 커패시터; 및상기 제1 전원과 상기 발광 다이오드의 애노드 전극 사이에 연결되어 있는 제1 저항을 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치
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제6 항에 있어서,상기 발광 다이오드와 병렬 연결되어 있는 제2 저항을 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치
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제1 항에 있어서,상기 발열선만을 교체하여 여러 번 착화 시험을 수행할 수 있는 착화라인 인터페이스 시험용 장치
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제8 항에 있어서,상기 발열선의 일측을 고정하는 제1 퓨즈 고정 나사;상기 발열선의 타측을 고정하는 제2 퓨즈 고정 나사;상기 제2 퓨즈 고정 나사가 설치되고, 상기 제2 퓨즈 고정 나사가 상기 제1 퓨즈 고정 나사를 향하는 방향으로 이동될 수 있도록 설치되는 브래킷; 및상기 브래킷의 위치를 고정하는 브래킷 고정 나사를 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치
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제9 항에 있어서,상기 제1 퓨즈 고정 나사와 상기 제2 퓨즈 고정 나사 사이의 간격을 측정하기 위한 눈금자를 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치
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접지에 연결되어 있는 발열선과 제1 전원 사이에 연결되어 있는 발광 다이오드;상기 발광 다이오드에서 방출되는 빛에 의해 턴 온되는 포토트랜지스터; 및상기 포토트랜지스터가 턴 온됨에 따라 제2 전원으로부터 흐르는 전류에 의해 발광하는 발광램프를 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치
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제11 항에 있어서,상기 발광 다이오드와 병렬 연결되어 있는 제1 커패시터; 및상기 제1 전원과 상기 발광 다이오드 사이에 연결되어 있는 제1 저항을 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치
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제12 항에 있어서,상기 발광 다이오드와 병렬 연결되어 있는 제2 저항을 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치
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제11 항에 있어서,착화전원으로부터 상기 발열선으로 착화신호를 도통시키고, 상기 제1 전원으로부터 상기 착화전원으로 전류 흐름을 방지하는 제1 다이오드를 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치
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제14 항에 있어서,상기 제1 전원으로부터 상기 발열선으로 전류를 도통시키고, 상기 착화전원으로부터 상기 제1 전원으로 전류 흐름을 방지하는 제2 다이오드를 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치
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