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태양전지 모듈의 광열화 현상 및 회복 특성 분석 장치와 그 방법

  • 기술번호 : KST2022024272
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 모듈 단위에서 전류 주입과 하프 브릿지 공진 회로(Half-bridge resonance circuit)를 이용한 고주파 전자기장으로 피타입(p-type) 태양전지 모듈을 가열하지 않고 내부의 태양전지 셀만 선택적으로 가열하여 광열화 저감 처리하여 측정 및 분석하는 광열화 현상 및 회복 특성 분석 장치 및 그 방법에 관한 것으로서, 태양전지 모듈의 광열화(Light-Induced Degradation; LID) 저감 특성을 측정 및 분석하기 위해 태양전지 모듈이 장착되는 공진 가열 기구부, 상기 공진 가열 기구부의 내부에 유도 자기장을 형성하는 코일과 고주파 유도 교류 전자기장을 발생하는 인버터를 포함한 인덕션 코일 플레이트(Induction coil plate), 상기 인덕션 코일 플레이트를 통해 태양전지 모듈 내부의 태양전지 셀에 선택적인 자극(Exciting) 전기 및 온도를 공급하는 처리부 및 상기 태양전지 모듈에서 측정되는 광열화 저감 상태 및 특성 측정을 통해 광열화 및 회복 과정이 일어나는 정도를 측정하여 분석하는 모니터링부를 포함한다.
Int. CL H02S 50/10 (2014.01.01)
CPC H02S 50/10(2013.01) Y02E 10/56(2013.01)
출원번호/일자 1020210077514 (2021.06.15)
출원인 재단법인 구미전자정보기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0168022 (2022.12.22) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2021.06.15)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인 구미전자정보기술원 대한민국 경상북도 구미시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김수민 경상북도 구미시
2 김준희 경상북도 구미시
3 이용환 경상북도 구미시
4 석민광 경상남도 양산

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김정훈 대한민국 서울특별시 강남구 선릉로***길 ** 삼성빌딩 *층(피앤티특허사무소)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.06.15 수리 (Accepted) 1-1-2021-0689663-83
2 보정요구서
Request for Amendment
2021.06.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2021-0099919-31
3 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2021.06.24 수리 (Accepted) 1-1-2021-0727893-58
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2022.10.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
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번호 청구항
1 1
피타입(p-type) 태양전지 모듈의 광열화(Light-Induced Degradation; LID) 저감 특성을 분석하는 광열화 현상 및 회복 특성 분석 장치에 있어서,태양전지 모듈의 광열화(Light-Induced Degradation; LID) 저감 특성을 측정 및 분석하기 위해 태양전지 모듈이 장착되는 공진 가열 기구부; 상기 공진 가열 기구부의 내부에 유도 자기장을 형성하는 코일과 고주파 유도 교류 전자기장을 발생하는 인버터를 포함한 인덕션 코일 플레이트(Induction coil plate);상기 인덕션 코일 플레이트를 통해 태양전지 모듈 내부의 태양전지 셀에 선택적인 자극(Exciting) 전기 및 온도를 공급하는 처리부; 및상기 태양전지 모듈에서 측정되는 광열화 저감 상태 및 특성 측정을 통해 광열화 및 회복 과정이 일어나는 정도를 측정하여 분석하는 모니터링부를 포함하는 태양전지 모듈의 광열화 현상 및 회복 특성 분석 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 공진 가열 기구부에 위치한 태양전지 모듈로 주파수 및 전류를 인가하기 위해 상기 인덕션 코일 플레이트에 전원을 공급하는 전력 공급부; 및태양전지 모듈의 표면 온도를 비접촉 방식으로 센싱하는 적외선 온도 센서부를 더 포함하는 태양전지 모듈의 광열화 현상 및 회복 특성 분석 장치
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제1항에 있어서,태양전지 모듈의 전면 유리 부분이 상기 인덕션 코일 플레이트에 밀착하여 태양전지 모듈 내부의 전체 태양전지 셀에 유도 자기장이 인가되어 유지되는 것을 특징으로 하는, 태양전지 모듈의 광열화 현상 및 회복 특성 분석 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 인덕션 코일 플레이트는상기 공진 가열 기구부의 하부에 수평으로 위치하여 태양전지 모듈의 자중(dead load)에 의한 수직 하중을 인가하도록 형성되는, 태양전지 모듈의 광열화 현상 및 회복 특성 분석 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 인덕션 코일 플레이트는태양전지 모듈의 프레임이 깊이 위치하도록 표면에 복수 개로 형성된 코일 홀을 포함하는, 태양전지 모듈의 광열화 현상 및 회복 특성 분석 장치
6 6
제1항에 있어서,상기 인덕션 코일 플레이트는하프 브릿지(Half-bridge) 공진 회로를 사용하여 유도 교류 자기장을 발생시키는 것을 특징으로 하는, 태양전지 모듈의 광열화 현상 및 회복 특성 분석 장치
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제1항에 있어서,상기 처리부는상기 공진 가열 기구부에 위치한 태양전지 모듈에 상기 인버터를 통해 교류 파형의 유도 공진 주파수를 공급하는, 태양전지 모듈의 광열화 현상 및 회복 특성 분석 장치
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제7항에 있어서,상기 처리부는태양전지 모듈을 자극(Exciting)하는 상기 전력 공급부를 통해 태양전지 모듈로 균일한 전류를 인가하는, 태양전지 모듈의 광열화 현상 및 회복 특성 분석 장치
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제8항에 있어서,상기 모니터링부는상기 처리부에서 태양전지 모듈로 인가된 전류의 크기를 모니터링하여 실시간으로 발생되는 광열화 및 회복의 과정을 모니터링하는, 태양전지 모듈의 광열화 현상 및 회복 특성 분석 장치
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피타입(p-type) 태양전지 모듈의 광열화(Light-Induced Degradation; LID) 저감 특성을 분석하는 광열화 현상 및 회복 특성 분석 장치에 의한 광열화 현상 및 회복 특성 분석 방법에 있어서,태양전지 모듈의 광열화(Light-Induced Degradation; LID) 저감 특성을 측정 및 분석하기 위해 공진 가열 기구에 태양전지 모듈을 장착하는 단계;상기 공진 가열 기구 내부에 형성된 인덕션 코일 플레이트(Induction coil plate)를 통해 태양전지 모듈로 유도 공진 주파수를 공급하는 단계;태양전지 모듈로 전류를 인가하는 단계; 및태양전지 모듈에 인가된 전류의 크기를 관측하여 태양전지 모듈에서 발생되는 광열화 및 회복의 과정을 모니터링하는 단계를 포함하는 태양전지 모듈의 광열화 현상 및 회복 특성 분석 방법
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제10항에 있어서,상기 유도 공진 주파수를 공급하는 단계는태양전지 모듈에 유도 공진 주파수이 공급되면, 유도 자기장에 의해 태양전지 모듈 내부의 셀만 선택적으로 가열되어 광열화 저감 처리를 위한 온도 환경이 조성되는 단계를 포함하는 태양전지 모듈의 광열화 현상 및 회복 특성 분석 방법
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제10항에 있어서,상기 전류를 인가하는 단계는태양전지 모듈을 자극(Exciting)하는 상기 광열화 현상 및 회복 특성 분석 장치 내 처리부를 통해 태양전지 모듈로 균일한 전류를 인가하는, 태양전지 모듈의 광열화 현상 및 회복 특성 분석 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 (재)구미전자정보기술원 에너지기술개발사업 LCOE 저감을 위한 p-type 실리콘 태양전지 모듈용 연간출력저하율 0.2%급 출력저하 방지기술개발