맞춤기술찾기

이전대상기술

신틸레이터 잔상 효과를 이용한 SPAD 디지털 X-Ray 검출장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2023002445
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 신틸레이터 잔상 효과를 이용한 SPAD 디지털 X-Ray 검출장치 및 방법이 제공된다. 본 발명의 실시예에 따른 방사선 검출장치는, 방사선을 흡수하면 가시광을 방출하는 신틸레이터, 다수의 감지기들로 신틸레이터에서 가시광의 방출 유무를 감지하고 감지기들에서의 가시광 감지 시간들을 계산하는 감지기 어레이 및 감지기 어레이에 의해 계산된 가시광 감지 시간들을 기초로, 방사선 이미지를 생성하는 프로세서를 포함한다. 이에 의해, 신틸레이터의 광 잔상 시간을 SPAD와 카운터를 이용하여 디지털 방식으로 영상화 함으로써, ADC 자체가 필요 없으며 해상도가 높은 X-Ray 검출장치임에도 다중 픽셀의 신호 처리를 위한 발광 시간이 긴 신틸레이터의 개발이 필요 없다.
Int. CL G01T 1/20 (2006.01.01) G01T 1/164 (2006.01.01) G01T 1/29 (2006.01.01)
CPC G01T 1/2018(2013.01) G01T 1/1645(2013.01) G01T 1/1647(2013.01) G01T 1/2921(2013.01)
출원번호/일자 1020210189674 (2021.12.28)
출원인 한국전자기술연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2023-0100090 (2023.07.05) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 8

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 박원기 경기도 수원시 영통구
2 이성철 경기도 용인시 기흥구
3 전병찬 서울특별시 관악구
4 서연호 전라북도 군산시 나운로 **, *

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 남충우 대한민국 서울 강남구 언주로 ***, *층(역삼동, 광진빌딩)(알렉스국제특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.12.28 수리 (Accepted) 1-1-2021-1515070-62
2 보정요구서
Request for Amendment
2022.01.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2022-0003735-00
3 [출원서 등 보정]보정서(납부자번호)
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment(Payer number)
2022.01.07 수리 (Accepted) 1-1-2022-0015828-80
4 특허고객번호 정보변경(경정)신고서·정정신고서
2023.03.14 수리 (Accepted) 4-1-2023-5062703-94
5 특허고객번호 정보변경(경정)신고서·정정신고서
2023.03.20 수리 (Accepted) 4-1-2023-5067768-12
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
방사선을 흡수하면 가시광을 방출하는 신틸레이터;다수의 감지기들로 신틸레이터에서 가시광의 방출 유무를 감지하고, 감지기들에서의 가시광 감지 시간들을 계산하는 감지기 어레이;감지기 어레이에 의해 계산된 가시광 감지 시간들을 기초로, 방사선 이미지를 생성하는 프로세서;를 포함하는 것을 특징으로 하는 방사선 검출장치
2 2
청구항 1에 있어서,다수의 감지기들은,감지기 어레이에 격자로 배열되어 있으며,가시광이 감지되면 논리레벨 1의 디지털 신호를 출력하고,가시광이 감지되지 않으면 논리레벨 0의 디지털 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 방사선 검출장치
3 3
청구항 2에 있어서,감지기 어레이는,각 감지기들에서 출력되는 디지털 신호에서 논리레벨 1의 펄스 폭을 계산하는 다수의 카운터들;을 포함하는 것을 특징으로 하는 방사선 검출장치
4 4
청구항 3에 있어서,논리레벨 1의 펄스 폭은,감지되는 가시광의 광량에 비례하는 것을 특징으로 하는 방사선 검출장치
5 5
청구항 3에 있어서,프로세서는,계산된 펄스 폭을 각 감지기들의 격자 위치에 대응시켜 영상화 하여, 방사선 이미지를 생성하는 것을 특징으로 하는 방사선 검출장치
6 6
청구항 1에 있어서,감지기들은,SPAD(Single Photon Avalanche Diode)들인 것을 특징으로 하는 방사선 검출장치
7 7
청구항 1에 있어서,방사선은,X-Ray인 것을 특징으로 하는 방사선 검출장치
8 8
신틸레이터가, 방사선을 흡수하면 가시광을 방출하는 단계;다수의 감지기들이, 신틸레이터에서 가시광의 방출 유무를 감지하는 단계;다수의 카운터들이, 감지기들에서의 가시광 감지 시간들을 계산하는 단계; 및프로세서가, 계산된 가시광 감지 시간들을 기초로 방사선 이미지를 생성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 방사선 검출방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 에이투테크 차세대지능형반도체기술개발(설계·제조)(R&D) 1회 촬영으로 2종의 인체조직영상 검출이 가능한 영상센서 SoC개발