| 1 |
1
전압형 HVDC 변환소용 서브 모듈의 정상 운전 상태 열화 고장률 추정 방법에 있어서, (a) 상기 서브 모듈을 반도체 소자(IGBT 소자)의 PTC(power and temperature cycles)시험 데이터를 수집하는 단계;(b) 상기 PTC 시험 데이터에 상기 반도체 소자의 열화 특성을 반영한 정상 운전 수명 조건 데이터로 변환하는 단계; 및(c) 상기 변환된 정상 운전 수명 조건 데이터를 통계적인 기법을 통해 고장 분포를 확인하여 열화 특성이 반영된 고장률을 산출하는 단계를 포함하는 전압형 HVDC 변환소용 서브 모듈의 정상 운전 상태 열화 고장률 추정 방법
|
| 2 |
2
제1 항에 있어서, 상기 (b) 단계는, 상기 PTC 시험 데이터를 기초로 아레니우스 가속 계수를 산출하고, 상기 산출된 아레니우스 가속 계수를 적용한 후 타임-스케일(time-scale)하여 사이클(cycle)을 시간 단위로 변경하여 상기 반도체 소자의 열화 특성을 반영한 정상 운전 수명 조건 데이터로 변환하는 것을 특징으로 하는 전압형 HVDC 변환소용 서브 모듈의 정상 운전 상태 열화 고장률 추정 방법
|
| 3 |
3
제2 항에 있어서, 상기 아레니우스 가속 계수는 하기 수학식을 이용하여 산출되는 것을 특징으로 하는 전압형 HVDC 변환소용 서브 모듈의 정상 운전 상태 열화 고장률 추정 방법
|
| 4 |
4
제2 항에 있어서, 상기 (c) 단계는, 하기 수학식을 이용하여 반도체 소자의 전도 시간을 산출한 후 두배하여 시간 단위로 변경하는 것을 특징으로 하는 전압형 HVDC 변환소용 서브 모듈의 정상 운전 상태 열화 고장률 추정 방법
|
| 5 |
5
제1 항에 있어서, 상기 (d) 단계는, 상기 변환된 정상 운전 수명 조건 데이터를 와이블 확률지 분석하여 열화 특성이 반영된 고장률을 산출하는 것을 특징으로 하는 전압형 HVDC 변환소용 서브 모듈의 정상 운전 상태 열화 고장률 추정 방법
|
| 6 |
6
제5 항에 있어서, 상기 변환된 정상 운전 수명 조건 데이터를 기반으로 적용된 와이블 분포의 신뢰도 함수에 자연로그를 취하여 모수를 추정하는 것을 특징으로 하는 전압형 HVDC 변환소용 서브 모듈의 정상 운전 상태 열화 고장률 추정 방법
|
| 7 |
7
제1 항 내지 제6 항 중 어느 하나의 항에 따른 방법을 수행하기 위한 프로그램 코드를 기록한 컴퓨터로 판독 가능한 기록매체
|
| 8 |
8
전압형 HVDC 변환소용 서브 모듈의 정상 운전 상태 열화 고장률을 추정하는 장치에 있어서, 적어도 하나의 명령어를 저장하는 메모리; 및상기 메모리에 저장된 명령어를 실행하는 프로세서를 포함하되,상기 명령어는, (a) 상기 서브 모듈을 반도체 소자(IGBT 소자)의 PTC(power and temperature cycles)시험 데이터를 수집하는 단계;(b) 상기 PTC 시험 데이터에 상기 반도체 소자의 열화 특성을 반영한 정상 운전 수명 조건 데이터로 변환하는 단계; 및(c) 상기 변환된 정상 운전 수명 조건 데이터를 통계적인 기법을 통해 고장 분포를 확인하여 열화 특성이 반영된 고장률을 산출하는 단계를 수행하는 것을 특징으로 하는 장치
|
| 9 |
9
제8 항에 있어서, 상기 (b) 단계는, 상기 PTC 시험 데이터를 기초로 아레니우스 가속 계수를 산출하고, 상기 산출된 아레니우스 가속 계수를 적용한 후 타임-스케일(time-scale)하여 사이클(cycle)을 시간 단위로 변경하여 상기 반도체 소자의 열화 특성을 반영한 정상 운전 수명 조건 데이터로 변환하는 것을 특징으로 하는 장치
|
