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신드롬 형 측정을 위하여 양자 회로의 상태를 프로브하는 방법에 있어서,상기 양자 회로는,양자 AND 게이트 및 양자 AND† 게이트를 포함하고,상기 양자 AND 게이트 및 상기 양자 AND† 게이트는,레지스터에 연속적으로 적용되는방법
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양자 회로에 있어서,상태 |0003e#로 앤실라 큐빗(ancilla qubit)을 가지는 양자 AND 게이트; 및양자 AND† 게이트를 포함하고,상기 양자 AND 게이트는,|x003e# 입력, |y003e# 입력 및 |0003e# 입력을 가지고, |x003e# 출력, |y003e# 출력 및 |xy003e# 출력을 가지고,상기 양자 AND† 게이트는,|x003e# 입력, |y003e# 입력 및 |xy003e# 입력을 가지고,제1 출력은 |x003e# 이고, 제2 출력은 |y003e#이고, 제3 출력은 |0003e# 또는 |T003e# 인양자 회로
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양자 회로에 있어서,상태 |T003e#로 앤실라 큐빗(ancilla qubit)을 가지는 양자 AND 게이트; 및양자 AND† 게이트를 포함하고,상기 양자 AND 게이트는,|x003e# 입력, |y003e# 입력 및 |T003e# 입력을 가지고, |x003e# 출력, |y003e# 출력 및 |xy003e# 출력을 가지고,상기 양자 AND† 게이트는,|x003e# 입력, |y003e# 입력 및 |xy003e# 입력을 가지고,제1 출력은 |x003e# 이고, 제2 출력은 |y003e#이고, 제3 출력은 |0003e# 또는 |T003e# 인양자 회로
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제3항 또는 제4항에 있어서,상기 양자 AND 게이트의 |x003e# 입력에는 레지스터 값이 입력되고,상기 양자 AND 게이트의 |y003e# 입력에는 |1003e#이 입력되고,상기 양자 AND 게이트의 제3 입력에는 |0003e# 또는 |T003e#이 입력되는양자 회로
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