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펠리클 성능 평가 시스템 및 방법

  • 기술번호 : KST2023004738
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 펠리클 성능 평가 시스템에 관한 것으로서, 진공챔버 내의 이온과 활성종의 밀도 비율를 분석하는 사중극자 질량분석기; 상기 진공챔버 내의 플라즈마 밀도를 측정하는 플라즈마 밀도 분석기; 상기 사중극자 질량분석기 및 상기 플라즈마 밀도 분석기에 연결되어 플라즈마 내에 포함되는 이온 밀도와 활성종의 밀도를 분석하는 플라즈마 공정 분석부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL G03F 1/62 (2012.01.01) G01N 9/00 (2006.01.01) G01N 19/08 (2006.01.01)
CPC G03F 1/62(2013.01) G01N 9/00(2013.01) G01N 19/08(2013.01)
출원번호/일자 1020220008945 (2022.01.21)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2023-0112840 (2023.07.28) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2022.01.21)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이효창 세종특별자치시
2 김정형 대전광역시 유성구
3 김정원 대전광역시 유성구
4 제갈원 대전광역시 유성구
5 강상우 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 고종욱 대한민국 대전광역시 서구 둔산중로 ***, **층 ****호 (둔산동, 주은오피스텔)(고유특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2022.01.21 수리 (Accepted) 1-1-2022-0078159-53
2 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2022.03.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2022-0338830-14
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2023.04.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
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번호 청구항
1 1
펠리클 성능 평가 시스템에 있어서, 진공챔버 내의 이온과 활성종의 밀도 비율를 분석하는 사중극자 질량분석기; 상기 진공챔버 내의 플라즈마 밀도를 측정하는 플라즈마 밀도 분석기; 상기 사중극자 질량분석기 및 상기 플라즈마 밀도 분석기에 연결되어 플라즈마 내에 포함되는 이온 밀도와 활성종의 밀도를 분석하는 플라즈마 공정 분석부를 포함하는 것을 특징으로 하는 펠리클 성능 평가 시스템
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 플라즈마에 의하여 상기 펠리클에 발생하는 결함을 평가하는 결함 평가부를 더 포함하고, 상기 결함 평가부는 열적 특성, 기계적 특성, 광학적 특성 중 적어도 어느 하나를 평가하여 상기 펠리클에 발생하는 결함을 평가하는 것을 특징으로 하는 펠리클 성능 평가 시스템
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 플라즈마 밀도 분석기는 송수신안테나 내장 센서의 마이크로웨이브를 분석하여 플라즈마 밀도를 측정하는 것을 특징으로 하는 펠리클 성능 평가 시스템
4 4
제 1 항에 있어서, 플라즈마로부터 발생되는 광의 파장 및 세기를 분석하는 광방출 분광기를 더 포함하고, 상기 플라즈마 공정 분석부는 상기 광방출 분광기에서 분석하는 광의 파장에 따른 세기가 감소하고, 상기 플라즈마 밀도 분석기에서 분석하는 플라즈마 밀도에 변화가 없는 경우에 광방출 감지 센서의 측정 오류를 보상하는 것을 특징으로 하는 펠리클 성능 평가 시스템
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 플라즈마 공정 분석부는 상기 광방출 분광기에서 분석하는 광의 파장에 따른 세기가 감소하고, 상기 플라즈마 밀도 분석기에서 분석하는 플라즈마 밀도에 변화가 발생하는 경우에 플라즈마 공정의 외부변수인 플라즈마 발생을 위한 인가 전력, 가스 압력, 가스 유량비, 인가 전력 비율 중 적어도 하나를 제어하는 것을 특징으로 하는 펠리클 성능 평가 시스템
6 6
제 5 항에 있어서, 진공챔버 내의 온도를 분석하는 온도 분석기;를 더 포함하고, 상기 온도 분석기에 의하여 진공챔버 또는 기판 지지부의 온도가 사전 설정된 온도 범위를 벗어나는 것으로 판단되는 경우에 상기 플라즈마 공정 분석부는 플라즈마 공정의 외부변수인 플라즈마 발생을 위한 인가 전력 또는 가스 압력를 제어하는 것을 특징으로 하는 펠리클 성능 평가 시스템
7 7
제 2 항에 있어서, 상기 송수신안테나 내장 센서는 가변 주파수의 마이크로웨이브를 송신하고 플라즈마를 투과하는 마이크로웨이브를 수신하는 것을 특징으로 하는 펠리클 성능 평가 시스템
8 8
제 2 항에 있어서, 상기 송수신안테나 내장 센서는 가변 주파수의 마이크로웨이브를 송신하고 플라즈마로부터 반사되는 마이크로웨이브를 수신하는 것을 특징으로 하는 펠리클 성능 평가 시스템
9 9
펠리클 성능 평가 시스템에 있어서, 진공챔버 내의 플라즈마로부터 발생되는 광의 파장 및 세기를 분석하는 광방출 분광기; 상기 진공챔버 내의 플라즈마 밀도를 측정하는 플라즈마 밀도 분석기; 상기 광방출 분광기 및 상기 플라즈마 밀도 분석기에 연결되어 플라즈마 내에 포함되는 이온과 활성종의 밀도를 종합적으로 분석하는 플라즈마 공정 분석부를 포함하고, 상기 플라즈마 공정 분석부는 극자외선 노광공정에서 극자외선 광에 의해서 생성되는 플라즈마를 진단하는 것을 특징으로 하는 펠리클 성능 평가 시스템
10 10
제 9 항에 있어서, 상기 진공챔버 내의 이온과 활성종의 밀도 분포를 분석하는 사중극자 질량분석기를 더 포함하고, 상기 플라즈마 공정 분석부는 상기 광방출 분광기, 상기 플라즈마 밀도 분석기, 상기 사중극자 질량분석기에 연결되어 플라즈마 내에 포함되는 이온과 활성종의 밀도를 종합적으로 분석하는 것을 특징으로 하는 펠리클 성능 평가 시스템
11 11
펠리클 성능 평가 시스템에 있어서, 진공챔버 내의 이온과 활성종의 밀도 비율를 분석하는 사중극자 질량분석기; 상기 진공 챔버 내의 플라즈마 밀도를 측정하는 플라즈마 밀도 분석기; 상기 사중극자 질량분석기 및 상기 플라즈마 밀도 분석기에 연결되어 플라즈마 내에 포함되는 이온 밀도와 활성종의 밀도를 분석하는 플라즈마 공정 분석부; 상기 플라즈마에 의하여 상기 펠리클에 발생하는 결함을 평가하는 결함 평가부;를 포함하고, 상기 결함 평가부는 열적 특성, 기계적 특성, 광학적 특성 중 적어도 어느 하나를 평가하여 상기 펠리클에 발생하는 결함을 평가하는 것을 특징으로 하는 펠리클 성능 평가 시스템
12 12
펠리클 성능 평가 방법에 있어서, 사중극자 질량분석기에서 진공챔버 내의 이온과 활성종의 밀도 분포를 분석하는 단계; 플라즈마 밀도 분석기에서 상기 진공챔버 내의 플라즈마 밀도를 측정하는 단계; 광방출 분광기에서 플라즈마로부터 발생하는 광의 파장 및 세기를 분석하는 단계; 플라즈마 공정 분석부에서 상기 사중극자 질량분석기 및 상기 플라즈마 밀도 분석기에 연결되어 플라즈마 내에 포함되는 이온 밀도와 활성종의 밀도를 분석하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 펠리클 성능 평가 방법
13 13
펠리클 성능 평가 방법에 있어서, 진공챔버 내에 펠리클을 위치시키고 플라즈마를 생성하는 단계; 사중극자 질량분석기에서 상기 플라즈마 내의 이온과 활성종의 밀도 분포를 분석하는 단계; 플라즈마 밀도 분석기에서 상기 진공챔버 내의 상기 플라즈마 밀도를 측정하는 단계; 광방출 분광기에서 상기 플라즈마로부터 발생하는 광의 파장 및 세기를 분석하는 단계; 플라즈마 공정 분석부에서 상기 사중극자 질량분석기 및 상기 플라즈마 밀도 분석기에 연결되어 상기 플라즈마 내에 포함되는 이온 밀도와 활성종의 밀도를 분석하는 단계; 상기 플라즈마에 의하여 상기 펠리클에 발생하는 결함을 평가하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 펠리클 성능 평가 방법
14 14
제 12 항 또는 제 13 항의 펠리클 성능 평가 방법을 실행시키기 위하여 저장매체에 기록되는 컴퓨터프로그램
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
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2 과학기술정보통신부 한국표준과학연구원 2020년도 미래선도형 융합연구단사업 반도체 플라즈마 공정장비 지능화 기술 개발 및 실증
3 과학기술정보통신부 한국표준과학연구원 한국표준과학연구원연구운영비지원(R&D)(주요사업비) 첨단측정장비 핵심기술 개발
4 과학기술정보통신부 한국표준과학연구원 한국표준과학연구원연구운영비지원(R&D)(주요사업비) 첨단측정장비 핵심기술 개발