맞춤기술찾기

이전대상기술

전자기 성능 분석 장치

  • 기술번호 : KST2023004884
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 일 실시 예에 따르는 전자기 성능 분석 장치는, 3차원 구조를 가지는 구조물의 표면에 전자 신호를 방사하고, 상기 구조물의 표면으로부터 반사되는 전자 신호를 수신할 수 있는 안테나; 상기 안테나에 의하여 지지되고, 상기 안테나가 상기 구조물의 표면에 전자 신호를 수직으로 방사할 수 있도록 상기 안테나의 위치를 설정할 수 있는 레이저; 상기 안테나를 이동 가능하도록 지지하는 안테나 이동 유닛; 및 상기 안테나로부터 수신된 전자 신호를 분석하여 상기 구조물의 표면의 전파 흡수 성능을 계산할 수 있는 제어 유닛;을 포함할 수 있다.
Int. CL G01R 29/08 (2006.01.01) H01Q 17/00 (2018.01.01) H01Q 3/06 (2006.01.01) G01S 17/08 (2006.01.01)
CPC G01R 29/0878(2013.01) G01R 29/0814(2013.01) H01Q 17/00(2013.01) H01Q 3/06(2013.01) G01S 17/08(2013.01)
출원번호/일자 1020220184814 (2022.12.26)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자 10-2546338-0000 (2023.06.16)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20230621) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2022.12.26)
심사청구항수 8

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 백상민 대전광역시 유성구
2 이원준 대전광역시 유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [우선심사신청]심사청구서·우선심사신청서
2022.12.26 수리 (Accepted) 1-1-2022-1401174-51
2 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2022.12.26 수리 (Accepted) 1-1-2022-1400253-92
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2023.01.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2023.02.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2023-0036655-74
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2023.02.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2023-0189096-26
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2023.04.03 수리 (Accepted) 1-1-2023-0372770-94
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2023.04.03 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2023-0372771-39
8 등록결정서
Decision to grant
2023.06.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2023-0537939-29
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
3차원 구조를 가지는 구조물의 표면에 전자 신호를 방사하고, 상기 구조물의 표면으로부터 반사되는 전자 신호를 수신할 수 있는 안테나;상기 안테나에 의하여 지지되고, 상기 안테나가 상기 구조물의 표면에 전자 신호를 수직으로 방사할 수 있도록 상기 안테나의 위치를 설정할 수 있는 레이저;상기 안테나 및 상기 안테나에 고정된 상기 레이저의 위치를 이동시키는 안테나 이동 유닛;상기 안테나가 상기 구조물 표면에 충돌되는 것을 방지할 수 있는 충돌 센서; 및상기 안테나로부터 수신된 전자 신호를 분석하여 상기 구조물의 표면의 전파 흡수 성능을 계산할 수 있는 제어 유닛;을 포함하고,상기 제어 유닛은, 네트워크 분석기(Network Analyzer), 컴퓨터 및 표시 디스플레이를 포함하고,상기 네트워크 분석기와 상기 컴퓨터에는 상기 안테나를 통하여 수신된 전자 신호가 입력될 수 있고, 상기 네트워크 분석기와 상기 컴퓨터는 전자적으로 연결되어 상기 안테나를 통하여 수신된 전자 신호를 분석할 수 있고,상기 제어 유닛은,상기 구조물 상의 복수 개의 조사 지점(p)으로부터 반사되어 상기 안테나로 수신된 전자 신호를 매개로, 상기 구조물의 전파 흡수 성능을 상기 구조물의 표면 상에 매핑하고, 상기 표시 디스플레이 상에 출력할 수 있고,상기 구조물 상의 조사 지점(p)을 변경하며 상기 구조물 전체의 표면에 대하여 전파 흡수 성능을 매핑함으로써, 3차원 구조물 전체의 전파 흡수 성능이 상기 표시 디스플레이 상에 출력되어 가시화될 수 있는 것을 특징으로 하는 전자기 성능 분석 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 안테나는 상기 안테나 이동 유닛에 연결된 상태에서 6자유도로 이동 가능한,전자기 성능 분석 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 레이저는 상기 구조물의 표면으로부터 상기 안테나의 초점 거리만큼 수직으로 이격된 위치를 측정하고, 상기 안테나는 상기 안테나 이동 유닛에 의하여 상기 위치로 이동될 수 있는,전자기 성능 분석 장치
4 4
제3항에 있어서,상기 안테나는 상기 안테나 이동 유닛에 의하여 이동된 상기 위치에서 상기 구조물의 표면으로 전자 신호를 방사 및 수신하고, 수신된 전자 신호는 상기 제어 유닛에 의하여 분석됨으로써 안테나의 상기 위치는 교정될 수 있는,전자기 성능 분석 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 안테나의 상기 위치는 상기 안테나의 전자 신호가 상기 구조물의 표면에 수직으로 도달되는 위치로 교정될 수 있는,전자기 성능 분석 장치
6 6
삭제
7 7
제1항에 있어서,상기 레이저는 복수 개로 형성되는,전자기 성능 분석 장치
8 8
제2항에 있어서,상기 안테나 이동 유닛은, 베이스 바디와, 상기 베이스 바디에 대하여 회전 가능하도록 지지되는 제1 암과, 상기 제1 암의 일 단부에 연결되고 상기 제1 암에 대하여 회전 가능하도록 지지되는 제2 암을 포함하고,상기 안테나는 상기 제2 암에 연결되고 상기 제2 암에 의하여 회전 가능하도록 지지되는,전자기 성능 분석 장치
9 9
제2항에 있어서,상기 안테나 이동 유닛은, 상기 안테나를 지면과 평행한 제1 방향으로 이동시킬 수 있는 제1 프레임과, 상기 안테나를 지면과 평행하고 상기 제1 방향과 수직인 제2 방향으로 이동시킬 수 있는 제2 프레임과, 상기 안테나를 지면에 수직인 제3 방향으로 이동시킬 수 있는 제3 프레임을 포함하고,상기 안테나는 상기 제3 프레임의 일 단부에 연결되고, 상기 제3 프레임은 상기 안테나를 회전 가능하도록 지지하는,전자기 성능 분석 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.