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전자 장치에서 표준 적합성 시험을 수행하는 방법에 있어서,검증 모듈에서 제1 전술 정보 메시지를 표준에 기반하여 처리한 제1 결과 정보를 획득하는 단계;인증 대상 모듈에서 제2 전술 정보 메시지를 상기 표준에 기반하여 처리한 제2 결과 정보를 획득하는 단계; 및결과 비교 모듈에서 상기 제1 결과 정보 및 상기 제2 결과 정보를 비교함으로써, 상기 제1 결과 정보 및 상기 제2 결과 정보가 동일한지 여부를 확인하는 단계를 포함하고, 및상기 제1 결과 정보 및 상기 제2 결과 정보가 동일한지 여부를 확인하는 단계는,상기 제1 결과 정보에 포함되는 복수 개의 필드의 값과 상기 제2 결과 정보에 포함되는 복수 개의 필드의 값이 동일한지 확인함으로써, 값이 상이한 필드를 표시하는 단계를 포함하는, 표준 적합성 시험을 수행하는 방법
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전자 장치에서 표준 적합성 시험을 수행하는 방법에 있어서,검증 모듈에서 제1 전술 정보 메시지를 표준에 기반하여 처리한 제1 결과 정보를 획득하는 단계;인증 대상 모듈에서 제2 전술 정보 메시지를 상기 표준에 기반하여 처리한 제2 결과 정보를 획득하는 단계; 및결과 비교 모듈에서 상기 제1 결과 정보 및 상기 제2 결과 정보를 비교함으로써, 상기 제1 결과 정보 및 상기 제2 결과 정보가 동일한지 여부를 확인하는 단계를 포함하고, 및상기 제1 전술 정보 메시지는 상기 표준에 대응하는 복수 개의 필드로 구성된 메시지로, 상기 복수 개의 필드에 대응하는 값은 매크로를 통해 결정되고, 및 상기 제2 전술 정보 메시지는 상기 제1 전술 정보 메시지와 동일한 메시지인 것을 특징으로 하는 표준 적합성 시험을 수행하는 방법
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제3 항에 있어서,상기 표준 적합성 시험은 상기 매크로에 기반하여 반복적으로 결정되는 상기 복수 개의 필드에 대응하는 값을 포함하는 복수 개의 전술 정보 메시지에 대한 복수의 표준 적합성 시험을 포함하는 것을 특징으로 하는 표준 적합성 시험을 수행하는 방법
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제4 항에 있어서,상기 복수 개의 전술 정보 메시지는 상기 복수 개의 필드 각각에 입력 가능한 값을 포함하는 표준 적합성 시험을 수행하는 방법
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전자 장치에서 표준 적합성 시험을 수행하는 방법에 있어서,검증 모듈에서 제1 전술 정보 메시지를 표준에 기반하여 처리한 제1 결과 정보를 획득하는 단계;인증 대상 모듈에서 제2 전술 정보 메시지를 상기 표준에 기반하여 처리한 제2 결과 정보를 획득하는 단계; 및결과 비교 모듈에서 상기 제1 결과 정보 및 상기 제2 결과 정보를 비교함으로써, 상기 제1 결과 정보 및 상기 제2 결과 정보가 동일한지 여부를 확인하는 단계를 포함하고, 및오브젝트를 감지함에 따라 상기 검증 모듈 및 상기 인증 대상 모듈에서 각각 제1 메시지 및 제2 메시지를 생성하는 단계; 및상기 검증 모듈 및 상기 인증 대상 모듈에서 상기 표준에 기반하여 상기 제1 메시지 및 상기 제2 메시지를 비교 및 일치시킴으로써, 상기 제1 전술 정보 메시지 및 상기 제2 전술 정보 메시지를 생성하는 단계를 더 포함하는 표준 적합성 시험을 수행하는 방법
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전자 장치에서 표준 적합성 시험을 수행하는 방법에 있어서,검증 모듈에서 제1 전술 정보 메시지를 표준에 기반하여 처리한 제1 결과 정보를 획득하는 단계;인증 대상 모듈에서 제2 전술 정보 메시지를 상기 표준에 기반하여 처리한 제2 결과 정보를 획득하는 단계; 및결과 비교 모듈에서 상기 제1 결과 정보 및 상기 제2 결과 정보를 비교함으로써, 상기 제1 결과 정보 및 상기 제2 결과 정보가 동일한지 여부를 확인하는 단계를 포함하고, 및상기 제1 결과 정보를 획득하는 단계는,매크로를 통해 상기 제1 결과 정보를 표시하는 제1 디바이스로부터 상기 제1 결과 정보를 추출하는 단계를 포함하고, 및상기 제2 결과 정보를 획득하는 단계는,상기 매크로를 통해 상기 제2 결과 정보를 표시하는 제2 디바이스로부터 상기 제2 결과 정보를 추출하는 단계를 포함하는 표준 적합성 시험을 수행하는 방법
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제7 항에 있어서,상기 매크로는 설정된 복수 개의 매크로 중 상기 제1 전술 정보 메시지 및 상기 제2 전술 정보 메시지에 대응하는 매크로인 것을 특징으로 하는 표준 적합성 시험을 수행하는 방법
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제3 항에 있어서,표준 DB는 표준 관련 문서에 기반한 전술 정보 메시지의 구조에 대한 정보를 포함하고, 및 상기 복수 개의 필드는 상기 표준 DB로부터 확인되는 것을 특징으로 하는 표준 적합성 시험을 수행하는 방법
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표준 적합성 시험을 수행하기 위한 전자 장치에 있어서,제1 전술 정보 메시지를 표준에 기반하여 처리한 제1 결과 정보를 획득하는 검증 모듈,제2 전술 정보 메시지를 상기 표준에 기반하여 처리한 제2 결과 정보를 획득하는 인증 대상 모듈, 및상기 제1 결과 정보 및 상기 제2 결과 정보를 비교함으로써, 상기 제1 결과 정보 및 상기 제2 결과 정보가 동일한지 여부를 확인하는 결과 비교 모듈을 포함하고, 및상기 결과 비교 모듈은,상기 제1 결과 정보에 포함되는 복수 개의 필드의 값과 상기 제2 결과 정보에 포함되는 복수 개의 필드의 값이 동일한지 확인함으로써, 값이 상이한 필드를 표시하는,표준 적합성 시험을 수행하기 위한 전자 장치
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표준 적합성 시험을 수행하는 방법을 컴퓨터에서 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 판독 가능한 비일시적 기록매체로서, 상기 표준 적합성 시험을 수행하는 방법은:검증 모듈에서 제1 전술 정보 메시지를 표준에 기반하여 처리한 제1 결과 정보를 획득하는 단계;인증 대상 모듈에서 제2 전술 정보 메시지를 상기 표준에 기반하여 처리한 제2 결과 정보를 획득하는 단계; 및결과 비교 모듈에서 상기 제1 결과 정보 및 상기 제2 결과 정보를 비교함으로써, 상기 제1 결과 정보 및 상기 제2 결과 정보가 동일한지 여부를 확인하는 단계를 포함하고, 및상기 제1 결과 정보 및 상기 제2 결과 정보가 동일한지 여부를 확인하는 단계는,상기 제1 결과 정보에 포함되는 복수 개의 필드의 값과 상기 제2 결과 정보에 포함되는 복수 개의 필드의 값이 동일한지 확인함으로써, 값이 상이한 필드를 표시하는 단계를 포함하는,컴퓨터로 판독 가능한 비일시적 기록매체
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