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풀 브릿지(full bridge) 구조로 형성된 전력변환회로 일단에 직렬 연결되어 온(ON) 상태로 구동중인 전력반도체의 전류 값을 검출하는 전류 검출부;베이커 클램프(baker clamp) 회로에 연결되는 포토커플러와 RC 필터를 이용하여 노이즈를 차폐하고, 온 상태로 구동중인 전력반도체의 전압 값과 아웃 노드의 전압 값 간 비율을 조정하여 상기 온 상태로 구동중인 전력반도체의 전압 값을 검출하는 전압 검출부; 및상기 검출된 전류 값과 전압 값을 이용하여 상기 전력반도체의 저항 값을 산출하고, 산출된 저항 값에 따라 노화 정도 및 잔여 수명을 예측하는 진단부를 포함하는 전력반도체의 노화 상태 진단 장치
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제1항에 있어서,상기 전압 검출부는,상기 포토커플러에 의해 상기 전력반도체의 전압에 포함된 스위칭 노이즈 및 공통 모드 노이즈를 차폐하고,상기 RC 필터에 의해 상기 아웃 노드의 전압에 포함된 스위칭 노이즈 및 맥동을 포함하는 차동 모드 노이즈를 차폐하는 전력반도체의 노화 상태 진단 장치
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제1항에 있어서,상기 전압 검출부는,상기 베이커 클램프 회로에 포함된 다이오드의 애노드 전압 값을 측정하여 상기 온 상태로 구동중인 전력반도체의 전압 값을 검출하되,상기 애노드 전압 값이 캐소드 전압 값 보다 높을 때 상기 전력반도체가 온 상태로 구동되는 전력반도체의 노화 상태 진단 장치
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제1항에 있어서,상기 전력반도체는 MOSFET, IGBT 및 다이오드 중 어느 하나의 스위칭 소자인 전력반도체의 노화 상태 진단 장치
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제1항에 있어서,상기 진단부는,상기 산출된 저항 값이 클수록 상기 전력반도체의 노화 정도는 증가하고 잔여 수명은 감소하는 것으로 노화 정도 및 잔여 수명을 예측하는 전력반도체의 노화 상태 진단 장치
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제2항에 있어서,상기 전압 검출부는,상기 포토커플러의 앞단에 노이즈의 주파수에 따라 가변되는 임피던스가 포함된 비반전 연산 증폭기를 추가하여 상기 전력반도체의 전압에 포함된 스위칭 노이즈 및 공통 모드 노이즈를 차폐하는 전력반도체의 노화 상태 진단 장치
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제2항에 있어서,상기 전압 검출부는,상기 RC 필터에 RC 필터를 더 추가하거나, 상기 RC 필터 대신 LC 필터 또는 공통 모드 필터를 추가하여 상기 아웃 노드의 전압에 포함된 스위칭 노이즈 및 맥동을 포함하는 차동 모드 노이즈를 차폐하는 전력반도체의 노화 상태 진단 장치
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전력반도체의 노화 상태 진단 장치를 이용한 전력반도체의 노화 상태 진단 방법에 있어서,풀 브릿지(full bridge) 구조로 형성된 전력변환회로 일단에 직렬 연결되어 온(ON) 상태로 구동중인 전력반도체의 전류 값을 검출하는 단계;베이커 클램프(baker clamp) 회로에 연결되는 포토커플러와 RC 필터를 이용하여 노이즈를 차폐하고, 온 상태로 구동중인 전력반도체의 전압 값과 아웃 노드의 전압 값 간 비율을 조정하여 상기 온 상태로 구동중인 전력반도체의 전압 값을 검출하는 단계;상기 검출된 전류 값과 전압 값을 이용하여 상기 전력반도체의 저항 값을 산출하는 단계; 및상기 산출된 저항 값에 따라 노화 정도 및 잔여 수명을 예측하는 단계를 포함하는 전력반도체의 노화 상태 진단 방법
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제8항에 있어서,상기 전압 값을 검출하는 단계는,상기 포토커플러에 의해 상기 전력반도체의 전압에 포함된 스위칭 노이즈 및 공통 모드 노이즈를 차폐하고,상기 RC 필터에 의해 상기 아웃 노드의 전압에 포함된 스위칭 노이즈 및 맥동을 포함하는 차동 모드 노이즈를 차폐하는 전력반도체의 노화 상태 진단 방법
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제8항에 있어서,상기 전압 값을 검출하는 단계는,상기 베이커 클램프 회로에 포함된 다이오드의 애노드 전압 값을 측정하여 상기 온 상태로 구동중인 전력반도체의 전압 값을 검출하되,상기 애노드 전압 값이 캐소드 전압 값 보다 높을 때 상기 전력반도체가 온 상태로 구동되는 전력반도체의 노화 상태 진단 방법
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제8항에 있어서,상기 전력반도체는 MOSFET, IGBT 및 다이오드 중 어느 하나의 스위칭 소자인 전력반도체의 노화 상태 진단 방법
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제8항에 있어서,상기 노화 정도 및 잔여 수명을 예측하는 단계는,상기 산출된 저항 값이 클수록 상기 전력반도체의 노화 정도는 증가하고 잔여 수명은 감소하는 것으로 노화 정도 및 잔여 수명을 예측하는 전력반도체의 노화 상태 진단 방법
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