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마이크로 LED 칩을 EL 방식으로 검사하기 위한 LED 측정장치에 있어서,기판에 라인상으로 배열된 복수의 마이크로 LED 칩 각각의 양전극에 병렬 접속되고, 전원을 공급하는 제1리드가 연결되는 제1 라인컨택부와;기판에 라인상으로 배열된 복수의 마이크로 LED 칩 각각의 음전극에 병렬 접속되고, 전원을 공급하는 제2리드가 연결되는 제2 라인컨택부;를 포함하고,상기 제1 라인컨택부 및 상기 제2 라인컨택부 각각은 상기 마이크로 LED 칩들의 배열 길이와 대응되는 길이를 가지도록 연장되고 상하방향으로 일정 두께를 가지도록 연장되며 탄성을 가지도록 엘라스토머 소재로 형성된 지지층과, 상기 지지층의 하면에 형성되고, 전기전도성을 가지도록 메탈소재로 형성된 컨택층을 포함하는 것을 특징으로 하는 LED 측정장치
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제1항에 있어서,상기 컨택층은 상기 마이크로 LED 칩의 전극에 접촉되는 저면이 평탄하게 형성된 것을 특징으로 하는 LED 측정장치
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제1항에 있어서,상기 컨택층은 상기 마이크로 LED 칩의 전극에 접촉되는 하부에 상기 컨택층의 길이방향을 따라 돌기부와 인입홈이 반복되는 요철부가 형성된 것을 특징으로 하는 LED 측정장치
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제3항에 있어서,상기 요철부는 삼각파형 또는 구형파형 또는 정현파형을 이루도록 형성된 것을 특징으로 하는 LED 측정장치
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제3항 또는 제4항에 있어서,상기 돌기부들 사이의 간격은 일 측 마이크로 LED 칩의 전극과 타 측 마이크로 LED 칩의 전극 사이의 간격보다 작게 설정된 것을 특징으로 하는 LED 측정장치
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