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반도체 소자

  • 기술번호 : KST2023008264
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 개념에 따른 반도체 소자는, 기판 상의 활성 패턴; 상기 활성 패턴 상의 하부 채널 패턴, 상기 하부 채널 패턴은 서로 이격되어 적층된 제1 하부 반도체 패턴 및 제2 하부 반도체 패턴을 포함하고; 상기 하부 채널 패턴 상의 상부 채널 패턴, 상기 상부 채널 패턴은 서로 이격되어 적층된 제1 상부 반도체 패턴 및 제2 상부 반도체 패턴을 포함하며; 상기 하부 채널 패턴의 양 측에 배치되는 한 쌍의 하부 소스/드레인 패턴들 및 상기 상부 채널 패턴의 양 측에 배치되는 한 쌍의 상부 소스/드레인 패턴들; 및 상기 활성 패턴을 가로지르며 연장되어 상기 하부 채널 패턴 및 상기 상부 채널 패턴을 둘러싸는 게이트 전극, 상기 게이트 전극은 상기 제1 및 제2 상부 반도체 패턴들 사이의 제1 상부 부분 및 상기 제1 및 제2 하부 반도체 패턴들 사이의 제1 하부 부분을 포함하되, 상기 제1 및 제2 상부 반도체 패턴들 그리고 상기 제1 및 제2 하부 반도체 패턴들 각각은: 그의 상면에 제1 리세스 영역을 갖는 제1 리세스부; 및 상기 제1 리세스부의 하면으로부터 돌출되는 제1 돌출부를 포함할 수 있다.
Int. CL H01L 27/092 (2006.01.01) H01L 29/06 (2006.01.01) H01L 29/08 (2006.01.01) H01L 29/423 (2006.01.01)
CPC H01L 27/0922(2013.01) H01L 29/0684(2013.01) H01L 29/0843(2013.01) H01L 29/42392(2013.01)
출원번호/일자 1020220034170 (2022.03.18)
출원인 삼성전자주식회사, 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2023-0136833 (2023.09.27) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유현용 서울특별시 서초구
2 정승근 서울특별시 용산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 고려 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2022.03.18 수리 (Accepted) 1-1-2022-0296177-22
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 상의 활성 패턴;상기 활성 패턴 상의 하부 채널 패턴, 상기 하부 채널 패턴은 서로 이격되어 적층된 제1 하부 반도체 패턴 및 제2 하부 반도체 패턴을 포함하고;상기 하부 채널 패턴 상의 상부 채널 패턴, 상기 상부 채널 패턴은 서로 이격되어 적층된 제1 상부 반도체 패턴 및 제2 상부 반도체 패턴을 포함하며;상기 하부 채널 패턴의 양 측에 배치되는 한 쌍의 하부 소스/드레인 패턴들 및 상기 상부 채널 패턴의 양 측에 배치되는 한 쌍의 상부 소스/드레인 패턴들; 및상기 활성 패턴을 가로지르며 연장되어 상기 하부 채널 패턴 및 상기 상부 채널 패턴을 둘러싸는 게이트 전극, 상기 게이트 전극은 상기 제1 및 제2 상부 반도체 패턴들 사이의 제1 상부 부분 및 상기 제1 및 제2 하부 반도체 패턴들 사이의 제1 하부 부분을 포함하되,상기 제1 및 제2 상부 반도체 패턴들 그리고 상기 제1 및 제2 하부 반도체 패턴들 각각은: 그의 상면에 제1 리세스 영역을 갖는 제1 리세스부; 및 상기 제1 리세스부의 하면으로부터 돌출되는 제1 돌출부를 포함하는 반도체 소자
2 2
제1항에 있어서,상기 제1 상부 부분 및 상기 제1 하부 부분 각각은 그의 상면에 제2 리세스 영역을 갖는 제2 리세스부 및 상기 제2 리세스부의 하면으로부터 돌출되는 제2 돌출부를 포함하는 반도체 소자
3 3
제2항에 있어서,상기 제1 상부 부분의 상기 제2 돌출부는 상기 제1 상부 반도체 패턴의 상기 제1 리세스 영역을 향해 돌출되고,상기 제1 하부 부분의 상기 제2 돌출부는 상기 제1 하부 반도체 패턴의 상기 제1 리세스 영역을 향해 돌출되는 반도체 소자
4 4
제2항에 있어서,상기 제2 상부 반도체 패턴의 상기 제1 돌출부는 상기 제1 상부 부분의 상기 제2 리세스 영역을 향해 돌출되고,상기 제2 하부 반도체 패턴의 상기 제1 돌출부는 상기 제1 하부 부분의 상기 제2 리세스 영역을 향해 돌출되는 반도체 소자
5 5
제1항에 있어서,상기 제1 리세스부의 최대 폭은 상기 제1 돌출부의 최대 폭보다 큰 반도체 소자
6 6
제1항에 있어서,상기 게이트 전극은 상기 제1 하부 반도체 패턴의 하면 아래의 제2 하부 부분을 더 포함하되,상기 제2 하부 부분의 하면은 평평한 반도체 소자
7 7
제1항에 있어서,상기 제1 상부 부분의 측벽 상에 제공되는 상부 내측 스페이서; 및상기 제1 하부 부분의 측벽 상에 제공되는 하부 내측 스페이서를 더 포함하는 반도체 소자
8 8
제7항에 있어서,상기 상부 내측 스페이서는 상기 제2 상부 반도체 패턴의 상기 제1 돌출부의 측벽과 접촉하고,상기 하부 내측 스페이서는 상기 제2 하부 반도체 패턴의 상기 제1 돌출부의 측벽과 접촉하는 반도체 소자
9 9
제1항에 있어서,상기 제1 상부 반도체 패턴의 상기 제1 리세스 영역의 최대 폭은 상기 제2 상부 반도체 패턴의 상기 제1 리세스 영역의 최대 폭보다 큰 반도체 소자
10 10
제1항에 있어서,상기 제1 및 제2 상부 반도체 패턴들 각각의 상기 제1 돌출부의 하면은 상기 기판을 향해 볼록한 프로파일을 갖는 반도체 소자
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.