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파장을 선택하여 빛을 제공하는 광원부;선택된 파장을 가지는 빛이 입사되는 편광판;편광판으로부터 선형편광된 빛을 회전시켜주는 위상지연자;상기 위상지연자로부터 편광 방향이 조절된 빛이 통과하는 빔스플리터;상기 빔스플리터를 통과한 빛이 투과 및 반사되는 이등방성 시료체;상기 이등방성 시료체로부터 반사된 빛을 감지하는 제1 디텍터와, 상기 이등방성 시료체로부터 투과된 빛을 감지하는 제2 디텍터를 포함하고, 투과광과 반사광의 세기를 동시에 측정하는 검출부; 및상기 제1 디텍터 및 제2 디텍터와 연결되어 검출된 신호를 처리하고, 투과율 및 반사율을 추출하는 신호처리부를 포함하고,상기 투과율과 반사율로부터 반사율 스펙트럼에서의 굴절률 실수부를 추출하고, 전달매트릭스 분석 방법을 이용하여 추정된 실수부로부터 반사율 스펙트럼 및 투과율 스펙트럼 값을 동시에 일치시키는 굴절률 허수부를 추출하는 것을 포함하는 이등방성 물질의 굴절률 측정장치
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제1항에 있어서, 상기 광원부는, 서로 다른 파장의 빛을 선택하여 제공하고, 상기 이등방성 물질의 굴절률 측정장치는, 각각의 선택된 파장에 대한 투과율 및 반사율을 각각 추출하여 파장에 따른 굴절률 분산을 측정하는 것을 포함하는 이등방성 물질의 굴절률 측정장치
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제1항에 있어서, 상기 광원부는, 광대역의 파장을 가지는 빛을 제공하는 광원과, 광원으로부터 제공된 빛 중 특정 파장을 선택하는 분광기를 포함하는 이등방성 물질의 굴절률 측정장치
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제1항에 있어서,상기 편광판 또는 위상지연자는, 회전가능하도록 구비되어 빛의 편광 방향을 선택하는 것을 포함하는 이등방성 물질의 굴절률 측정장치
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제1항에 있어서, 상기 이등방성 물질의 굴절률 측정장치는, 상기 이등방성 시료체의 전방에 형성된 빛의 경로 상에 배치되는 제1 렌즈와, 이등방성 시료체의 후방에 형성된 빛의 경로 상에 배치되는 제2 렌즈를 포함하는 이등방성 물질의 굴절률 측정장치
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제1항에 있어서, 상기 이등방성 시료체는, 용융실리카를 포함하는 베이스 시료와, 상기 베이스 시료 상의 일부 영역에 형성되고 결정 비대칭성을 가지는 측정 시료를 포함하는 이등방성 물질의 굴절률 측정장치
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제6항에 있어서, 상기 이등방성 물질의 굴절률 측정장치는, 상기 베이스 시료에 대한 투과광 및 반사광의 세기를 측정한 제1 측정값과, 상기 측정 시료에 대한 투과광 및 반사광의 세기를 측정한 제2 측정값을 구하고, 제1 측정값과 제2 측정값을 연산하여 측정 시료의 굴절률을 실험적으로 얻는 것을 포함하는 이등방성 물질의 굴절률 측정장치
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제1항의 이등방성 물질의 굴절률 측정장치를 이용하는 이등방성 물질의 굴절률 측정방법
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