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동일 평면 상의 대칭형 이온 게이트 트랜지스터, 이의 제조방법 및 이를 포함하는 이온 센서

  • 기술번호 : KST2023009401
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 동일 평면 상의 대칭형 이온 게이트 트랜지스터, 이의 제조방법 및 이를 포함하는 이온 센서를 개시한다. 본 발명은 트랜지스터의 게이트, 소스 및 드레인 전극들을 동일 평면에 코르비노(Corbino) 구조로 형성하여 게이트 전극과 채널층 그리고 소스 및 드레인 전극 간의 거리를 동일하게 형성함으로써, 전위 상실에 의한 전자 축적 정도를 종래 기술보다 균일하게 제공한다. 본 발명의 트랜지스터는 뛰어난 전기적 특성을 통해 이온의 농도를 센싱하는 이온 센서로 이용 시 높은 응답성을 제공할 수 있다.
Int. CL H01L 29/786 (2006.01.01) H01L 29/66 (2006.01.01) G01N 27/414 (2006.01.01)
CPC H01L 29/7869(2013.01) H01L 29/78696(2013.01) H01L 29/66969(2013.01) G01N 27/414(2013.01)
출원번호/일자 1020220045621 (2022.04.13)
출원인 중앙대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2023-0146790 (2023.10.20) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2022.04.13)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 중앙대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동작구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박성규 서울특별시 서초구
2 장영우 경기도 성남시 수정구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 차상윤 대한민국 서울 영등포구 경인로 *** (문래동*가) *동 ***호(엔씨국제특허법률사무소)
2 박종수 대한민국 서울특별시 금천구 가산디지털*로 ***, 비동****호(가산동,한라원앤원타워)(특허법인 태백)
3 남건필 대한민국 서울 영등포구 경인로 *** (문래동*가) *동 ***호(엔씨국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2022.04.13 수리 (Accepted) 1-1-2022-0393786-15
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2023.08.18 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
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번호 청구항
1 1
기판 상에 게이트 전극, 상기 게이트 전극과 이격되어 배치된 소스와 드레인 전극, 상기 소스와 드레인 전극을 전기적으로 연결하는 채널층 및 상기 게이트 전극과 상기 채널층을 연결하는 이온겔층이 상기 게이트 전극 및 상기 채널층을 덮도록 배치됨을 포함하고,상기 소스 전극은 제1 디스크(disc) 구조로 형성되고, 상기 드레인 전극은 상기 소스 전극과 제1 간격으로 이격되고 상기 소스 전극의 전부 또는 일부를 감싸도록 상기 제1 디스크보다 큰 지름을 갖는 제2 디스크 구조로 형성되고, 상기 게이트 전극은 상기 드레인 전극과 제2 간격으로 이격되고 상기 드레인 전극의 전부 또는 일부분을 감싸도록 상기 제2 디스크보다 큰 지름을 갖는 제3 디스크 구조로 형성된 구조로 형성된 것을 특징으로 하며,상기 채널층은 상기 소스 전극과 상기 드레인 전극 사이의 제1 간격의 일 부분에 형성된 것인,동일 평면 상의 대칭형 이온 게이트 트랜지스터
2 2
제1항에 있어서,상기 이온겔층은 제4 디스크 구조로 형성되어 배치되며 상기 게이트 전극, 상기 채널층, 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극을 모두 커버하도록 배치된,동일 평면 상의 대칭형 이온 게이트 트랜지스터
3 3
제1항에 있어서,상기 채널층은 IGZO, ITZO 및 ITO 중에서 선택된 어느 하나인 것을 특징으로 하는,동일 평면 상의 대칭형 이온 게이트 트랜지스터
4 4
제1항에 있어서, 상기 이온겔은 EMIM:TSFI(1-Ethyl-3-methylimidazolium bis(trifluoromethylsulfonyl)imide), PEGDA(poly(ethylene glycol) diacrylate), HOMPP(2-hydroxy-2-methyl- propiophenone) 및 이들의 혼합물 중에서 선택된 어느 하나인 것을 특징으로 하는,동일 평면 상의 대칭형 이온 게이트 트랜지스터
5 5
제1항에 있어서,상기 채널층의 높이는 30 ㎛ 내지 100 ㎛이며, 너비는 300 ㎛ 내지 1000 ㎛인 것을 특징으로 하고, 상기 너비는 상기 채널층과 상기 드레인 전극과 채널층이 맞닿은 계면의 길이인 것인,동일 평면 상의 대칭형 이온 게이트 트랜지스터
6 6
기판 상에 스퍼터링을 통해 패턴된 채널층을 형성하는 제1 단계;상기 채널층이 형성된 동일 평면 상에 게이트 전극, 상기 게이트 전극과 이격되어 배치된 소스와 드레인 전극을 증착하여 형성하는 제2 단계; 및상기 게이트 전극, 소스와 드레인 전극 및 채널층이 형성된 평면 상에 형성되며 이들의 일부 또는 전부를 커버하도록 배치되는 이온겔을 포함한 게이트 유전층을 형성하는 제3 단계;를 포함하고,상기 채널층은 상기 소스 전극과 상기 드레인 전극 사이의 제1 간격의 일 부분에 형성되며,상기 게이트 전극, 소스와 드레인 전극은 패터닝되어 형성되는 것을 특징으로 하며, 상기 패터닝은, 상기 소스 전극은 제1 디스크(disc) 구조로 형성되고, 상기 드레인 전극은 상기 소스 전극과 제1 간격으로 이격되고 상기 소스 전극의 전부 또는 일부를 감싸도록 상기 제1 디스크보다 큰 지름을 갖는 제2 디스크 구조로 형성되고, 상기 게이트 전극은 상기 드레인 전극과 제2 간격으로 이격되고 상기 드레인 전극의 전부 또는 일부분을 감싸도록 상기 제2 디스크보다 큰 지름을 갖는 제3 디스크 구조로 형성된 구조로 형성하는 것인,동일 평면 상의 대칭형 이온 게이트 트랜지스터의 제조방법
7 7
제6항에 있어서,상기 채널층은 IGZO, ITZO 및 ITO 중에서 선택된 어느 하나인 것을 특징으로 하는,동일 평면 상의 대칭형 이온 게이트 트랜지스터의 제조방법
8 8
제6항에 있어서,상기 이온겔은 EMIM:TSFI(1-Ethyl-3-methylimidazolium bis(trifluoromethylsulfonyl)imide), PEGDA(poly(ethylene glycol) diacrylate), HOMPP(2-hydroxy-2-methyl- propiophenone) 및 이들의 혼합물 중에서 선택된 어느 하나인 것을 특징으로 하는,동일 평면 상의 대칭형 이온 게이트 트랜지스터의 제조방법
9 9
제6항에 있어서,상기 채널층의 높이는 30 ㎛ 내지 100 ㎛이며, 너비는 300 ㎛ 내지 1000 ㎛인 것을 특징으로 하고, 상기 너비는 상기 채널층과 상기 드레인 전극과 채널층이 맞닿은 계면의 길이인 것인,동일 평면 상의 대칭형 이온 게이트 트랜지스터의 제조방법
10 10
제1항 내지 제5항의 어느 한 항에 따른 동일 평면 상의 대칭형 이온 게이트 트랜지스터를 포함하는, 이온 센서
11 11
제10항에 있어서,상기 이온 센서는 수은 이온을 감지하는 센서인 것을 특징으로 하는,이온 센서,
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 중앙대학교 개인기초연구(과기정통부)(R&D) 저차원 멀티감응 소재를 이용한 딥러닝 기반의 교차반응(Cross-Reactive)형 다중감각센서 네트워크 플랫폼 기술 개발
2 산업통상자원부 중앙대학교 소재부품산업미래성장동력(R&D) 고해상도 대면적 디스플레이가 가능한 비실리콘계 반도체 TFT와 이를 활용한 CMOS 제조 핵심 기술 개발