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구형파(square wave) 전류에 대한 커패시터 시험 장치에 있어서,부스트 컨버팅 회로의 입력 단자와 그라운드 노드 사이에 연결되며, 구형파 전류를 생성하는 부스트 컨버팅 회로로 제1 직류 전압을 인가하는 제1 전원 공급부;제1 스위칭 소자를 포함하고, 상기 제1 스위칭 소자의 듀티 사이클에 따라 생성되는 구형파 전류를 시험 대상인 커패시터의 일 단이 연결된 출력 단자로 전달하는 부스트 컨버팅 회로;상기 그라운드 노드와 상기 시험 대상인 커패시터의 타 단 사이에 연결되고, 상기 커패시터의 직류 전원 시험 조건에 대응하여 제2 직류 전압을 인가하는 제2 전원 공급부; 및상기 부스트 컨버팅 회로의 입력 단자 및 출력 단자 사이에 연결되고, 제2 스위칭 소자를 포함하고, 상기 제2 스위칭 소자를 따라 흐르는 전류의 평균값이 상기 시험 대상인 커패시터의 평균 전류를 추종하도록 전류 제어됨으로써 상기 커패시터를 통해 흐르는 부하 전류의 적어도 일부를 추출하여 피드백 루프로 흐르게 하는 벅 컨버팅 회로를 포함하는 구형파 전류에 대한 커패시터 시험 장치
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제1항에 있어서,상기 제1 전원 공급부는,상기 그라운드 노드에 음극 단자가 연결되며, 상기 제1 직류 전압을 제공하는 제1 전압원;상기 제1 전압원의 양극 단자와 상기 부스트 컨버팅 회로의 입력 단자 사이에 연결되는 제1 인덕터;상기 그라운드 노드와 상기 부스트 컨버팅 회로의 입력 단자 사이에 연결되는 제1 커패시터를 포함하는 구형파 전류에 대한 커패시터 시험 장치
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제1항에 있어서,상기 제2 전원 공급부는,상기 그라운드 노드에 양극 단자가 연결되며, 상기 제2 직류 전압을 제공하는 제2 전압원;상기 제2 전압원의 음극 단자와 상기 시험 대상인 커패시터의 타 단 사이에 연결되는 제2 인덕터; 및상기 그라운드 노드와 상기 시험 대상인 커패시터의 타 단 사이에 연결되는 제2 커패시터를 포함하는 구형파 전류에 대한 커패시터 시험 장치
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제3항에 있어서,상기 제2 직류 전압의 크기는,상기 커패시터의 직류 전원 시험 조건에 대응하는 직류 전압 크기에서 상기 제1 직류 전압의 크기의 소정 배수만큼을 차감한 값으로 결정되는 것을 특징으로 하는 구형파 전류에 대한 커패시터 시험 장치
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제1항에 있어서,상기 부스트 컨버팅 회로는,상기 제1 스위칭 소자로서 제1 MOSFET을 포함하고,상기 제1 커패시터의 일 단과 상기 제1 MOSFET의 드레인 단자 사이에 연결되는 제3 인덕터;상기 제1 MOSFET의 드레인 단자에 양극 단자가 연결되고, 음극 단자가 상기 시험 대상인 커패시터의 일 단에 연결되는 제1 다이오드; 및드레인 단자가 상기 제1 다이오드의 양극 단자에 연결되고, 소스 단자가 상기 그라운드 노드에 연결되는 제1 MOSFET을 포함하는 구형파 전류에 대한 커패시터 시험 장치
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제5항에 있어서,상기 제1 MOSFET의 게이트 단자로,미리 지정된 듀티 사이클에 대응하여 상기 제1 MOSFET을 턴 온 시키는 제어 신호가 소정 주기로 입력되는 것을 특징으로 하는 구형파 전류에 대한 커패시터 시험 장치
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제1항에 있어서,상기 벅 컨버팅 회로는,상기 부스트 컨버팅 회로의 입력 단자와 제2 다이오드의 음극 단자 사이에 연결되는 제4 인덕터;상기 제4 인덕터의 일 단과 그라운드 노드 사이에 연결되는 제2 다이오드;소스 단자가 상기 제2 다이오드의 음극 단자에 연결되고, 드레인 단자가 필터부의 일 단에 연결되는 제2 MOSFET; 및상기 제2 MOSFET의 소스 단자와 상기 부스트 컨버팅 회로의 출력 단자에 연결되어, 상기 제2 MOSFET의 드레인 단자와 소스 단자를 통해 흐르는 전류를 평활화하는 필터부를 포함하는 구형파 전류에 대한 커패시터 시험 장치
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제7항에 있어서,상기 필터부는,상기 제2 MOSFET의 드레인 단자와 상기 부스트 컨버팅 회로의 출력 단자 사이에 연결되는 제5 인덕터;상기 제2 MOSFET의 드레인 단자와 그라운드 노드 사이에 연결되는 제3 커패시터; 및상기 부스트 컨버팅 회로의 출력 단자와 그라운드 노드 사이에 연결되는 제4 커패시터를 포함하는 것을 특징으로 하는 구형파 전류에 대한 커패시터 시험 장치
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구형파 전류에 대한 커패시터 시험 장치에 있어서,부스트 컨버팅 회로의 입력 단자와 그라운드 노드 사이에 연결되며, 구형파 전류를 생성하는 부스트 컨버팅 회로로 제1 직류 전압을 인가하는 제1 전원 공급부;제1 MOSFET을 포함하고, 상기 제1 MOSFET의 게이트 단자로 듀티 사이클 D를 갖는 제어 신호가 입력됨에 따라 생성되는 구형파 전류를 시험 대상인 커패시터의 일 단이 연결된 출력 단자로 전달하는 부스트 컨버팅 회로;상기 그라운드 노드와 상기 시험 대상인 커패시터의 타 단 사이에 연결되고, 상기 커패시터의 직류 전원 시험 조건에 대응하여 제2 직류 전압을 인가하는 제2 전원 공급부; 및상기 부스트 컨버팅 회로의 입력 단자 및 출력 단자 사이에 연결되고, 제2 MOSFET을 포함하고, 상기 제2 MOSFET을 따라 흐르는 전류의 평균값이 상기 시험 대상인 커패시터의 평균 전류의 듀티 사이클의 역수 배를 추종하도록 전류 제어됨으로써 상기 커패시터를 통해 흐르는 부하 전류의 적어도 일부를 추출하여 피드백 루프로 흐르게 벅 컨버팅 회로를 포함하는 구형파 전류에 대한 커패시터 시험 장치
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제9항에 있어서,상기 부스트 컨버팅 회로는,상기 제1 커패시터의 일 단과 상기 제1 MOSFET의 드레인 단자 사이에 연결되는 제1 인덕터; 및상기 제1 MOSFET의 드레인 단자에 양극 단자가 연결되고, 음극 단자가 상기 시험 대상인 커패시터의 일 단에 연결되는 제1 다이오드;를 더 포함하고,상기 제1 MOSFET는 드레인 단자가 상기 제1 다이오드의 양극 단자에 연결되고, 소스 단자가 상기 그라운드 노드에 연결되는 구형파 전류에 대한 커패시터 시험 장치
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제9항에 있어서,상기 벅 컨버팅 회로는,상기 부스트 컨버팅 회로의 입력 단자와 제2 다이오드의 음극 단자 사이에 연결되는 제2 인덕터; 및상기 제2 MOSFET의 소스 단자와 상기 부스트 컨버팅 회로의 출력 단자에 연결되어, 상기 제2 MOSFET의 드레인 단자와 소스 단자를 통해 흐르는 전류를 평활화하는 필터부를 더 포함하고,상기 제2 MOSFET는,소스 단자가 상기 제2 다이오드의 음극 단자에 연결되고, 드레인 단자가 필터부의 일 단에 연결되는 구형파 전류에 대한 커패시터 시험 장치
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제11항에 있어서,상기 필터부는,상기 제2 MOSFET의 드레인 단자와 상기 부스트 컨버팅 회로의 출력 단자 사이에 연결되는 제3 인덕터;상기 제2 MOSFET의 드레인 단자와 그라운드 노드 사이에 연결되는 제1 커패시터; 및상기 부스트 컨버팅 회로의 출력 단자와 그라운드 노드 사이에 연결되는 제2 커패시터를 포함하는 것을 특징으로 하는 구형파 전류에 대한 커패시터 시험 장치
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