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Mo 전극을 활용한 커패시터 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2023010005
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 개시된 내용은 소자의 신뢰성을 저하시키는 웨이크업 효과(wake-up effect)를 방지하고 강유전 특성을 크게 향상시킬 수 있는 Mo 전극을 활용한 커패시터 및 그 제조 방법에 관한 것이다. 개시된 내용은 상부 전극, 하부 전극, 및 유전체 박막을 포함하며, 상기 상부 전극 또는 상기 하부 전극은 몰리브데넘(Mo)으로 구성되는 Mo 전극을 활용한 커패시터를 일 실시예로 제시한다.
Int. CL H01G 13/00 (2006.01.01) H01G 4/12 (2006.01.01)
CPC H01G 13/006(2013.01) H01G 4/1236(2013.01)
출원번호/일자 1020220053235 (2022.04.29)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2023-0153617 (2023.11.07) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2022.04.29)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박민혁 서울특별시 관악구
2 김세현 서울특별시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 윤의섭 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, **층 유니스특허법률사무소 (역삼동, 윤익빌딩)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2022.04.29 수리 (Accepted) 1-1-2022-0460780-03
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2022.06.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2022.07.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2023-0115545-36
4 특허고객번호 정보변경(경정)신고서·정정신고서
2022.08.11 수리 (Accepted) 4-1-2022-5189083-38
5 특허고객번호 정보변경(경정)신고서·정정신고서
2022.10.07 수리 (Accepted) 4-1-2022-5235636-01
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2023.06.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2023-0570617-52
7 [지정기간연장]기간 연장신청서·기간 단축신청서·기간 경과 구제신청서·절차 계속신청서
2023.08.23 수리 (Accepted) 1-1-2023-0931141-08
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2023.09.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2023-1056387-10
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2023.09.22 수리 (Accepted) 1-1-2023-1056402-18
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번호 청구항
1 1
상부 전극;하부 전극; 및상기 상부 전극과 상기 하부 전극 사이에 형성되며, 화학식 Hf1-xMxO2 로 표시되는 유전체 박막을 포함하며,상기 상부 전극 또는 상기 하부 전극은 몰리브데넘(Mo)이며, 상기 화학식에서 0
2 2
제1항에 있어서,상기 하부 전극 상에 상기 유전체 박막을 증착하는 과정에서, 상기 하부 전극과 상기 유전체 박막 사이에 몰리브데넘 산화물(MoO2)이 더 형성되는 것을 특징으로 하는, Mo 전극을 활용한 커패시터
3 3
제1항 또는 제2항에 있어서,상기 M은 지르코늄(Zr)인 것을 특징으로 하는, Mo 전극을 활용한 커패시터
4 4
제1항 또는 제2항에 있어서,상기 상부 전극 및 상기 하부 전극은 몰리브데넘(Mo)인 것을 특징으로 하는, Mo 전극을 활용한 커패시터
5 5
제1항 또는 제2항에 있어서,상기 화학식에서 0
6 6
제2항에 있어서,상기 몰리브데넘 산화물(MoO2)이 상기 유전체 박막이 성장할 때 산소를 공급하여 유전체 박막의 결정립(grain)의 크기를 증가시키는 것을 특징으로 하는, Mo 전극을 활용한 커패시터
7 7
기판 상에 하부 전극을 증착하는 단계;상기 하부 전극 상에 화학식 Hf1-xMxO2 로 표시되는 유전체 박막을 증착하는 단계;상기 유전체 박막 상에 상부 전극을 증착하는 단계; 및상기 결과물을 금속화 후 어닐링(PMA)하는 단계를 포함하며,상기 상부 전극 또는 상기 하부 전극은 몰리브데넘(Mo)이며, 상기 화학식에서 0
8 8
제7항에 있어서,상기 하부 전극 상에 화학식 Hf1-xMxO2 로 표시되는 유전체 박막을 증착하는 단계에서, 상기 하부 전극과 상기 유전체 박막 사이에 몰리브데넘 산화물(MoO2)이 더 형성되는 것을 특징으로 하는, Mo 전극을 활용한 커패시터의 제조 방법
9 9
제7항 또는 제8항에 있어서,상기 기판 상에 하부 전극을 증착하는 단계 이전에, 상기 기판의 표면에 대하여 플라즈마 처리 또는 세정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, Mo 전극을 활용한 커패시터의 제조 방법
10 10
제7항 또는 제8항에 있어서,상기 하부 전극 상에 강유전체 박막을 증착하는 단계는 원자층 증착 공정(ALD)으로 수행되는 것을 특징으로 하는, Mo 전극을 활용한 커패시터
11 11
제7항 또는 제8항에 있어서,상기 M은 지르코늄(Zr)인 것을 특징으로 하는, Mo 전극을 활용한 커패시터의 제조 방법
12 12
제7항 또는 제8항에 있어서,상기 상부 전극 및 상기 하부 전극은 몰리브데넘(Mo)인 것을 특징으로 하는, Mo 전극을 활용한 커패시터의 제조 방법
13 13
제7항 또는 제8항에 있어서,상기 화학식에서 0
14 14
제8항에 있어서,상기 몰리브데넘 산화물(MoO2)이 유전체 박막이 성장할 때 산소를 공급하여 상기 유전체 박막의 결정립(grain)의 크기를 증가시키는 것을 특징으로 하는, Mo 전극을 활용한 커패시터
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