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전자 장치에 있어서,인스트럭션들을 포함하는 메모리; 및상기 메모리와 전기적으로 연결되고, 상기 인스트럭션들을 실행하기 위한 프로세서를 포함하고,상기 프로세서에 의해 상기 인스트럭션들이 실행될 때, 상기 프로세서는,배전반의 결로 발생 잔여 시간에 따라 단계적으로 알람 신호를 출력하고, 상기 배전반의 결로 원인에 따라 상기 배전반의 내부 또는 상기 배전반이 위치하는 건물 내부의 서로 다른 결로 방지 장치를 작동시키고, 상기 결로 발생 잔여 시간에 따라 작동되는 결로 방지 장치의 종류 및 수를 조절하는, 전자 장치
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제1항에 있어서,상기 프로세서는,상기 건물 내부의 온/습도, 상기 배전반 내부의 온/습도, 및 상기 배전반 내부의 버스바(busbars)에 흐르는 전류를 이용하여, 상기 결로 발생 잔여 시간을 계산하고 상기 결로 원인을 분석하는, 전자 장치
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제1항에 있어서,상기 프로세서는,상기 결로 원인에 따라 결로 발생 장치가 작동된 후로부터 일정 시간이 경과한 후에 상기 결로 원인의 개선 여부를 확인하고, 상기 개선 여부의 확인 결과에 따라 결로 원인 분석 알고리즘을 수정하는, 전자 장치
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제3항에 있어서,상기 프로세서는,상기 결로 발생 잔여 시간의 증가 또는 감소에 기초하여 상기 결로 원인의 개선 여부를 확인하는, 전자 장치
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결로 예측 방법에 있어서,배전반의 결로 발생 잔여 시간에 따라 단계적으로 알람 신호를 출력하는 동작;상기 배전반의 결로 원인에 따라 상기 배전반의 내부 또는 상기 배전반이 위치하는 건물 내부의 서로 다른 결로 방지 장치를 작동시키는 동작; 및상기 결로 발생 잔여 시간에 따라 작동되는 결로 방지 장치의 종류 및 수를 조절하는 동작을 포함하는, 결로 예측 방법
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제5항에 있어서,상기 배전반의 결로 발생 잔여 시간을 계산하는 동작; 및상기 배전반의 결로 원인을 분석하는 동작을 더 포함하고,상기 계산하는 동작 및 상기 분석하는 동작은,상기 건물 내부의 온/습도, 상기 배전반 내부의 온/습도, 및 상기 배전반 내부의 버스바(busbars)에 흐르는 전류를 이용하는 것인, 결로 예측 방법
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제5항에 있어서,상기 결로 원인에 따라 결로 발생 장치가 작동된 후로부터 일정 시간이 경과한 후에 상기 결로 원인의 개선 여부를 확인하는 동작; 및상기 개선 여부의 확인 결과에 따라 결로 원인 분석 알고리즘을 수정하는 동작을 더 포함하는, 결로 예측 방법
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제7항에 있어서,상기 확인하는 동작은,상기 결로 발생 잔여 시간의 증가 또는 감소에 기초하여 상기 결로 원인의 개선 여부를 확인하는 동작을 포함하는, 결로 예측 방법
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