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가시광선 및 근적외선의 파장대역에서 입사각도 및 편광상태에 관계없이 반사를 방지하는 무반사막, 무반사막 실리콘 광 검출기 및 이의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2023010777
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 가시광선 및 근적외선의 파장대역에서 입사각도 및 편광상태에 관계없이 반사를 방지하는 무반사막, 무반사막 실리콘 광 검출기 및 이의 제조 방법을 개시한다. 본 발명에 따르면, PIN 접합을 통해 빛의 입사에 상응하는 광 전류를 발생시키는 실리콘 광 검출기로서, 금속층; 상기 금속층 상에 위치하며 고유한 결정질 실리콘으로 이루어진 진성 반도체층; 상기 진성 반도체층 상에 위치하며 n-type으로 도핑된 실리콘으로 이루어진 N형 반도체층; 상기 진성 반도체층 상에 위치하며 p-type으로 도핑된 실리콘으로 이루어진 P형 반도체층; 상기 N형 반도체층 상에 위치하는 음극; 상기 P형 반도체층 상에 위치하는 양극; 및 상기 P형 반도체층 상에 위치하는 무반사막을 포함하되, 상기 무반사막은, 상기 P형 반도체층 상에 위치하며 SiO2로 형성되는 제1 층, 상기 제1 층과 소정 거리만큼 이격되어 SiO2로 형성되는 제2 층, 상기 제1 층과 제2 층 사이에 배치되며 TiO2로 형성되는 이격층을 포함하고, 상기 무반사막은 상기 제1 층 및 제2 층이 상기 이격층과 함께 구조적 이중층을 이루어 메타물질로 형성되고, 입사된 빛에 대한 전자기파 반응의 비국소성(nonlocality)을 활용하여 상기 입사된 빛의 주파수 및 입사각도에 따라 유효굴절률(effective refractive index)이 변하는 시공간분산(spatiotemporal dispersion)을 구현하는 무반사막 실리콘 광 검출기가 제공된다.
Int. CL H01L 31/0216 (2014.01.01) H01L 31/105 (2006.01.01) H01L 31/18 (2006.01.01)
CPC H01L 31/02162(2013.01) H01L 31/105(2013.01) H01L 31/18(2013.01)
출원번호/일자 1020220061364 (2022.05.19)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2023-0161696 (2023.11.28) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2022.05.19)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김수진 서울특별시 성북구
2 박규환 서울특별시 강남구
3 정현진 충청남도 천안시 서북구
4 임 구 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 윤형근 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
2 최관락 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
3 송인호 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2022.05.19 수리 (Accepted) 1-1-2022-0530366-89
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번호 청구항
1 1
PIN 접합을 통해 빛의 입사에 상응하는 광 전류를 발생시키는 실리콘 광 검출기로서, 금속층;상기 금속층 상에 위치하며 고유한 결정질 실리콘으로 이루어진 진성 반도체층;상기 진성 반도체층 상에 위치하며 n-type으로 도핑된 실리콘으로 이루어진 N형 반도체층;상기 진성 반도체층 상에 위치하며 p-type으로 도핑된 실리콘으로 이루어진 P형 반도체층;상기 N형 반도체층 상에 위치하는 음극; 상기 P형 반도체층 상에 위치하는 양극; 및상기 P형 반도체층 상에 위치하는 무반사막을 포함하되, 상기 무반사막은 상기 제1 층 및 제2 층이 상기 이격층과 함께 구조적 이중층을 이루어 메타물질로 형성되고, 상기 P형 반도체층 상에 위치하며 SiO2로 형성되는 제1 층, 상기 제1 층과 소정 거리만큼 이격되어 SiO2로 형성되는 제2 층, 상기 제1 층과 제2 층 사이에 배치되며 TiO2로 형성되는 이격층을 포함하고, 상기 무반사막은 메타물질로 이루어진 구조적 이중층으로 형성되고, 입사된 빛에 대한 전자기파 반응의 비국소성(nonlocality)을 활용하여 상기 입사된 빛의 주파수 및 입사각도에 따라 유효굴절률(effective refractive index)이 변하는 시공간분산(spatiotemporal dispersion)을 구현하는 무반사막 실리콘 광 검출기
2 2
제1항에 있어서, 상기 제1층, 상기 제2층 및 상기 이격층의 총 두께는, 상기 입사된 빛의 파장보다 작은 두께를 가지며, 상기 제2 층은 상기 제1 층 두께의 7배 내지 9배의 두께로 형성되고, 상기 이격층은 제1 층 두께의 3배 내지 3
3 3
제2항에 있어서, 상기 이격층은 상기 입사된 빛의 중심 파장인 750nm의 0
4 4
제1항에 있어서, 상기 제1 층, 상기 제2 층 및 상기 이격층은 스퍼터링 공정을 통해 형성되는 무반사막 실리콘 광 검출기
5 5
SiO2로 형성되는 제1 층; 상기 제1 층과 소정 거리만큼 이격되어 SiO2로 형성되는 제2 층; 및상기 제1 층과 제2 층 사이에 배치되며 TiO2로 형성되는 이격층을 포함하되, 상기 제1 층 및 제2 층은 상기 이격층과 함께 구조적 이중층을 이루어 메타물질로 형성되고, 입사된 빛에 대한 전자기파 반응의 비국소성(nonlocality)을 활용하여 상기 입사된 빛의 주파수 및 입사각도에 따라 유효굴절률(effective refractive index)이 변하는 시공간분산(spatiotemporal dispersion)을 구현하는 무반사막
6 6
제5항에 있어서, 상기 제1층, 상기 제2층 및 상기 이격층의 총 두께는, 상기 입사된 빛의 파장보다 작은 두께를 가지며, 상기 제2 층은 상기 제1 층 두께의 7배 내지 9배의 두께로 형성되고, 상기 이격층은 제1 층 두께의 3배 내지 3
7 7
PIN 접합을 통해 빛의 입사에 상응하는 광 전류를 발생시키는 실리콘 광 검출기 제조 방법으로서, 금속층 상에 고유한 결정질 실리콘으로 이루어진 진성 반도체층을 형성하는 단계; 상기 진성 반도체층 상에 n-type으로 도핑된 실리콘으로 이루어진 N형 반도체층을 형성하는 단계;상기 진성 반도체층 상에 p-type으로 도핑된 실리콘으로 이루어진 P형 반도체층을 형성하는 단계;상기 N형 반도체층 및 P형 반도체층 상에 음극 및 양극을 구성하는 금속패드를 형성하는 단계; 및스퍼터를 이용하여 상기 P형 반도체층 상에 무반사막을 형성하는 단계를 포함하되, 상기 무반사막은, 상기 P형 반도체층 상에 위치하며 SiO2로 형성되는 제1 층, 상기 제1 층과 소정 거리만큼 이격되어 SiO2로 형성되는 제2 층, 상기 제1 층과 제2 층 사이에 배치되며 TiO2로 형성되는 이격층을 포함하고, 상기 무반사막은 상기 제1 층 및 제2 층이 상기 이격층과 함께 구조적 이중층을 이루어 메타물질로 형성되고, 입사된 빛에 대한 전자기파 반응의 비국소성(nonlocality)을 활용하여 상기 입사된 빛의 주파수 및 입사각도에 따라 유효굴절률(effective refractive index)이 변하는 시공간분산(spatiotemporal dispersion)을 구현하는 무반사막 실리콘 광 검출기 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.