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광센서를 이용한 레이저가공공정 모니터링 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2024000152
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 저비용으로 레이저가공공정 진행 중에 정확한 공정오류판단이 가능하여 공정재료비용절감 및 공정시간단축이 가능한 광센서를 이용한 레이저가공공정 모니터링 장치 및 방법이 제안된다. 본 발명에 따른 광센서를 이용한 레이저가공공정 모니터링장치는 레이저가 조사된 레이저 조사대상으로부터 발생한 광을 받아들여 전달하는 광커플러부, 광커플러부로부터 전달받은 광을 센싱하고 상태센싱데이터를 생성하는 제1포토다이오드부 및 제2포토다이오드부를 포함하는 센싱부; 및 센싱된 광에 관한 상태센싱데이터를 기초로 레이저가공공정의 오류발생여부를 판단하는 판단부;를 포함한다.
Int. CL B23K 26/03 (2014.01.01) B23K 26/36 (2014.01.01) B23K 26/20 (2014.01.01) B23K 26/53 (2014.01.01) G05B 23/02 (2006.01.01)
CPC B23K 26/032(2013.01) B23K 26/36(2013.01) B23K 26/20(2013.01) B23K 26/53(2013.01) G05B 23/02(2013.01)
출원번호/일자 1020220075624 (2022.06.21)
출원인 한국전자기술연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2023-0174549 (2023.12.28) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2022.06.21)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 서용곤 경기도 성남시 분당구
2 윤형도 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남충우 대한민국 서울 강남구 언주로 ***, *층(역삼동, 광진빌딩)(알렉스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2022.06.21 수리 (Accepted) 1-1-2022-0647640-05
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2022.12.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 특허고객번호 정보변경(경정)신고서·정정신고서
 2023.03.14 수리 (Accepted) 4-1-2023-5062703-94
4 특허고객번호 정보변경(경정)신고서·정정신고서
 2023.03.20 수리 (Accepted) 4-1-2023-5067768-12
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번호 청구항
1 1
레이저가 조사된 레이저 조사대상으로부터 발생한 광을 받아들여 전달하는 광커플러부, 광커플러부로부터 전달받은 광을 센싱하고 상태센싱데이터를 생성하는 제1포토다이오드부 및 제2포토다이오드부를 포함하는 센싱부; 및센싱된 광에 관한 상태센싱데이터를 기초로 레이저가공공정의 오류발생여부를 판단하는 판단부;를 포함하는 광센서를 이용한 레이저가공공정 모니터링장치
2 2
청구항 1에 있어서, 상태센싱데이터는, 레이저가 조사된 레이저 조사대상으로부터 발생한 광의 광량인 것을 특징으로 하는 광센서를 이용한 레이저가공공정 모니터링장치
3 3
청구항 1에 있어서, 상태센싱데이터는, 레이저가 조사된 레이저 조사대상으로부터 발생한 광의 특정 파장대역 파장스펙트럼 데이터인 것을 특징으로 하는 광센서를 이용한 레이저가공공정 모니터링장치
4 4
청구항 1에 있어서, 제1포토다이오드부는 제2포토다이오드부의 파장응답특성과 상이한 파장응답특성을 갖는 것을 특징으로 하는 광센서를 이용한 레이저가공공정 모니터링장치
5 5
청구항 1에 있어서, 제1포토다이오드부의 파장응답특성은 레이저 조사대상으로부터 발생한 광의 파장스펙트럼보다 넓고, 제2포토다이오드부의 파장응답특성은 레이저 조사대상으로부터 발생한 광의 파장스펙트럼보다 좁은 것을 특징으로 하는 광센서를 이용한 레이저가공공정 모니터링장치
6 6
청구항 1에 있어서, 제1포토다이오드부 및 제2포토다이오드부 중 적어도 하나는 파장대역을 제한하는 필터를 포함하는 것을 특징으로 하는 광센서를 이용한 레이저가공공정 모니터링장치
7 7
청구항 1에 있어서, 광커플러부는 제1포토다이오드부 및 제2포토다이오드부와 광섬유로 연결된 것을 특징으로 하는 광센서를 이용한 레이저가공공정 모니터링장치
8 8
청구항 1에 있어서, 광커플러부는 제1포토다이오드부 및 제2포토다이오드부와 광도파로로 연결된 것을 특징으로 하는 광센서를 이용한 레이저가공공정 모니터링장치
9 9
청구항 1에 있어서, 판단부는 상태센싱데이터의 변화량을 기준으로 오류발생여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 광센서를 이용한 레이저가공공정 모니터링장치
10 10
레이저가 조사된 레이저 조사대상으로부터 발생한 광을 받아들여 전달하는 광커플러부로부터 광신호를 전달받은 제1포토다이오드부 및 제2포토다이오드부가 상태센싱데이터를 생성하는 단계; 및센싱된 광에 관한 상태센싱데이터를 기초로 레이저가공공정의 오류발생여부를 판단하는 단계;를 포함하는 광센서를 이용한 레이저가공공정 모니터링방법
11 11
레이저가 조사된 레이저 조사대상으로부터 발생한 광을 받아들여 전달하는 광커플러부, 광커플러부로부터 전달받은 광을 센싱하고 상태센싱데이터를 생성하는 3이상의 포토다이오드부를 포함하는 센싱부; 및센싱된 광에 관한 상태센싱데이터를 기초로 레이저가공공정의 오류발생여부를 판단하는 판단부;를 포함하는 광센서를 이용한 레이저가공공정 모니터링장치
12 12
레이저가 조사된 레이저 조사대상으로부터 발생한 광을 받아들여 전달하는 광커플러부로부터 광신호를 전달받은 3이상의 포토다이오드부가 상태센싱데이터를 생성하는 단계; 및센싱된 광에 관한 상태센싱데이터를 기초로 레이저가공공정의 오류발생여부를 판단하는 단계;를 포함하는 광센서를 이용한 레이저가공공정 모니터링방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.