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광학지수 측정장치 및 측정방법

  • 기술번호 : KST2024000163
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 광학지수 측정장치 및 측정방법에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 광학지수 측정장치는, 각각이 서로 상이한 밴드 대역의 이미지 데이터를 획득하는 다수 개의 분광 센서; 및 상기 분광 센서에서 획득한 이미지 데이터를 이용하여 광학지수를 산출하는 산출부;를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이러한 광학지수 측정장치에 의하면, 경제적으로 다양한 광학지수를 측정하는 것이 가능하다.
Int. CL G01N 21/27 (2006.01.01) G01J 3/28 (2006.01.01) G01N 21/17 (2006.01.01) G01N 21/31 (2006.01.01) G01J 3/12 (2006.01.01)
CPC G01N 21/274(2013.01) G01J 3/2823(2013.01) G01N 2021/1765(2013.01) G01N 2021/3129(2013.01) G01N 2201/12746(2013.01) G01J 2003/1213(2013.01) G01J 2003/2826(2013.01)
출원번호/일자 1020220079883 (2022.06.29)
출원인 한국전자기술연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2024-0002565 (2024.01.05) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2022.06.29)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박근호 전라북도 전주시 완산구
2 정성환 전라북도 전주시 덕진구
3 김동훈 전라북도 전주시 덕진구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박종한 대한민국 서울특별시 구로구 디지털로**길 * (구로동, 에이스하이엔드타워*차) ***호(한림특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2022.06.29 수리 (Accepted) 1-1-2022-0680846-11
2 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2022.10.18 수리 (Accepted) 1-1-2022-1096331-56
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2023.02.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 특허고객번호 정보변경(경정)신고서·정정신고서
2023.03.14 수리 (Accepted) 4-1-2023-5062703-94
5 특허고객번호 정보변경(경정)신고서·정정신고서
2023.03.20 수리 (Accepted) 4-1-2023-5067768-12
6 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2023.12.28 수리 (Accepted) 1-1-2023-1468057-55
7 [우선심사신청]심사청구서·우선심사신청서
2023.12.29 수리 (Accepted) 1-1-2023-1475738-04
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
각각이 서로 상이한 밴드 대역의 이미지 데이터를 획득하는 다수 개의 분광 센서; 및상기 분광 센서에서 획득한 이미지 데이터를 이용하여 광학지수를 산출하는 산출부;를 포함하는 광학지수 측정장치
2 2
제1항에 있어서,상기 산출부는,상기 분광 센서 각각에서 획득한 이미지 데이터를 조합하여 다수의 광학지수를 산출하는 것을 특징으로 하는 광학지수 측정장치
3 3
제2항에 있어서,상기 산출부는,정규식생지수(NDVI; normalized difference vegetation index), 적변식생지수(NDRE; normalized difference red edge), 녹색정규식생지수(GNDVI; green normalized difference vegetation index), 향상된 식생지수(EVI; enhanced vegetation index), 진보된 식생지수(AVI; advanced vegetation index), 토양보정식생지수(SAVI; soil adjusted vegetation index), 엽록소지수(GCI; green chlorophyll index), 정규수분지수(NDWI; normalized difference water index), 공기보정식생지수(ARVI; atmospherically resistant vegetation index) 및 구조둔감성색소지수(SIPI; structure insensitive pigment index) 중 적어도 하나의 광학지수를 산출하는 것을 특징으로 하는 광학지수 측정장치
4 4
제1항에 있어서,상기 분광 센서 각각에서 획득한 이미지 데이터의 위상을 보정하는 위상 보정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학지수 측정장치
5 5
제4항에 있어서,상기 위상 보정부는,상기 분광 센서 각각에서 획득한 이미지 데이터의 특징점을 계산하는 특징점 계산부,서로 다른 두 이미지 데이터에서 매칭되는 상기 특징점을 이용하여 변환 매트릭스를 계산하는 변환 매트릭스 계산부, 및상기 변환 매트릭스를 이용하여 상기 서로 다른 두 이미지 데이터 중 하나의 위상을 보정하는 보정부를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학지수 측정장치
6 6
제1항에 있어서,상기 산출부가 산출한 광학지수를 이미지로 출력하는 디스플레이부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학지수 측정장치
7 7
제1항에 있어서,상기 분광 센서 각각은 서로 상이한 분광 필터를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학지수 측정장치
8 8
각각이 서로 상이한 밴드 대역의 이미지 데이터를 생성하는 다수 개의 분광 센서로 이미지 데이터를 생성하는 이미지 데이터 생성단계; 및상기 이미지 데이터 생성단계에서 생성된 이미지 데이터를 이용하여 광학지수를 산출하는 광학지수 산출단계;를 포함하는 광학지수 측정방법
9 9
제8항에 있어서,상기 광학지수 산출단계는,상기 이미지 데이터 생성단계에서 생성된 이미지 데이터들 중 일부를 선택하는 이미지 선택단계, 및상기 이미지 선택단계에서 선택된 이미지 데이터를 이용하여 광학지수를 산출하는 산출단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학지수 측정방법
10 10
제8항에 있어서,상기 이미지 데이터 생성단계와 상기 광학지수 산출단계 사이에 진행되는 것으로서,상기 이미지 데이터 생성단계에서 생성된 이미지 데이터의 위상을 보정하는 위상 보정단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학지수 측정방법
11 11
제10항에 있어서,상기 위상 보정단계는,상기 이미지 데이터 각각의 특징점을 계산하는 특징점 계산단계,상기 이미지 데이터들 중 서로 다른 두 이미지 데이터에서 매칭되는 상기 특징점을 이용하여 변환 매트릭스를 계산하는 변환 매트릭스 계산단계, 및상기 변환 매트릭스를 이용하여 상기 서로 다른 두 이미지 데이터 중 하나의 위상을 보정하는 보정단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학지수 측정방법
12 12
제8항에 있어서,상기 광학지수 산출단계 후에 진행되는 것으로서,상기 광학지수 산출단계에서 산출한 광학지수를 이미지로 출력하는 디스플레이단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학지수 측정방법
13 13
제12항에 있어서,상기 디스플레이단계 전에 진행되는 것으로서,상기 이미지 데이터 생성단계에서 생성된 이미지 데이터에서 광학지수를 이미지로 출력할 부분을 선택하는 출력위치 선택단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학지수 측정방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.