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셀 측정 방법 및 그를 위한 정보 전송 방법

  • 기술번호 : KST2015067252
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 개시는 기지국에 의한 정보 전송 방법을 제시한다. 상기 정보 전송 방법은 제1 셀이 제2 셀에 대한 측정 수행을 위한 서브프레임을 지시하는 제1 패턴 정보를 획득하는 단계와; 상기 제1 셀이 상기 제2 셀에 대한 측정 수행을 위한 서브프레임과 다르게 측정 수행을 위한 서브프레임을 설정하는 단계와; 상기 제1 셀이 설정한 서브프레임에 대한 제2 패턴 정보를 단말로 전송하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL H04J 11/00 (2006.01) H04B 7/26 (2006.01)
CPC H04B 17/309(2013.01) H04B 17/309(2013.01) H04B 17/309(2013.01) H04B 17/309(2013.01) H04B 17/309(2013.01) H04B 17/309(2013.01) H04B 17/309(2013.01) H04B 17/309(2013.01) H04B 17/309(2013.01) H04B 17/309(2013.01)
출원번호/일자 1020120018204 (2012.02.22)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-1150846-0000 (2012.05.22)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20120613) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 미국  |   61/579,641   |   2011.12.22
미국  |   61/531,082   |   2011.09.05
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.02.22)
심사청구항수 29

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 양윤오 대한민국 경기 안양시 동안구
2 임수환 대한민국 경기 안양시 동안구
3 정만영 대한민국 경기 안양시 동안구
4 이상욱 대한민국 경기 안양시 동안구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박장원 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, *층~*층 (논현동, 비너스빌딩)(박장원특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 서울특별시 영등포구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2012.02.22 수리 (Accepted) 1-1-2012-0145825-68
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2012.02.24 수리 (Accepted) 1-1-2012-0154290-42
3 우선권주장증명서류제출서(USPTO)
Submission of Priority Certificate(USPTO)		 2012.03.12 수리 (Accepted) 9-1-2012-9004391-88
4 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search		 2012.03.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search		 2012.03.14 수리 (Accepted) 9-1-2012-0016763-97
6 등록결정서
Decision to grant		 2012.05.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0272098-63
7 [우선권증명서류]서류제출서
[Certificate of Priority] Submission of Document		 2012.11.21 수리 (Accepted) 1-1-2012-0959279-53
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 셀이 측정 수행을 위한 서브프레임을 설정하는 단계와;여기서 상기 제1 셀이 설정한 서브프레임은 제2 셀에 대한 측정 수행을 위한 서브프레임과는 다르며;상기 제1 셀이 상기 설정한 서브프레임에 대한 제1 패턴 정보와 그리고 상기 제2 셀에 대한 측정 수행을 위한 서브프레임을 지시하는 제2 패턴 정보를 단말로 전송하는 단계를 포함하고,상기 제1 패턴 정보 또는 상기 제2 패턴 정보는 측정을 위한 서브프레임을 비트 1로 지시하고, 상기 제1 패턴 정보 또는 상기 제2 패턴 정보는 상기 측정을 위한 서브프레임을 프레임 당 적어도 하나 이상 지시하는 것을 특징으로 하는 셀 측정을 위한 정보 전송 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 제1 패턴 정보 또는 상기 제2 패턴 정보는 비트열로 표현되고, 상기 비트열의 첫번째 비트는 SFN mod x=0을 만족하는 프레임의 0번 서브프레임에 해당하고,여기서 상기 x는 비트열을 10으로 나눈 크기이고,SFN은 시스템 프레임 번호(System Frame Number )인 것을 특징으로 하는 셀 측정을 위한 정보 전송 방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 패턴 정보는 시간 도메인 측정 자원 제한 패턴 또는 measSubframePattern인 것을 특징으로 하는 셀 측정을 위한 정보 전송 방법
4 4
제1항에 있어서, 상기 제1 패턴 정보는 measSubframePattern-Serv이거나,상기 제2 패턴 정보는 measSubframePattern-Neigh인 것을 특징으로 하는 셀 측정을 위한 정보 전송 방법
5 5
제1항에 있어서, 상기 제1 셀이 설정한 서브프레임은MBSFN(MBMS Single Frequency Network)이 아닌 일반 ABS(Almost Black Subframe) 또는 MBSFN ABS을 고려하여 설정된 것을 특징으로 하는 셀 측정을 위한 정보 전송 방법
6 6
제1항에 있어서, 상기 제2 패턴 정보는 X2 인터페이스 기반 시그널링을 통해 수신되는 것을 특징으로 하는 셀 측정을 위한 정보 전송 방법
7 7
제1항에 있어서, 상기 전송 단계에서상기 제1 패턴 정보는 RRC(Radio Resource Control) 기반 메시지를 통해 전송되는 것을 특징으로 하는 셀 측정을 위한 정보 전송 방법
8 8
제7항에 있어서, 상기 RRC 메시지는RRC 연결 재구성 메시지인 것을 특징으로 하는 셀 측정을 위한 정보 전송 방법
9 9
서빙셀의 커버리지와 이웃셀의 커버리지에 위치한 단말에서 측정을 수행하는 방법으로서,측정 수행을 위한 서브프레임에 대한 패턴 정보를 획득하는 단계와, 여기서 상기 패턴 정보는 서빙셀과 이웃셀이 서로 다르게 설정되어 있고;상기 패턴 정보에 따라 서로 다른 서브프레임 상에서 서빙셀과 이웃셀에 대해 측정을 수행하는 단계를 포함하고,상기 패턴 정보는 측정을 위한 서브프레임을 비트 1로 지시하고, 상기 패턴 정보는 상기 측정을 위한 서브프레임을 프레임 당 적어도 하나 이상 지시하는 것을 특징으로 하는 측정 수행 방법
10 10
제9항에 있어서,상기 패턴 정보는 비트열로 표현되고, 상기 비트열의 첫번째 비트는 SFN mod x=0을 만족하는 프레임의 0번 서브프레임에 해당하고,여기서 상기 x는 비트열을 10으로 나눈 크기이고,SFN은 시스템 프레임 번호(System Frame Number )인 것을 특징으로 하는 측정 수행 방법
11 11
제9항에 있어서, 상기 패턴 정보는 시간 도메인 측정 자원 제한 패턴 또는 measSubframePattern인 것을 특징으로 하는 측정 수행 방법
12 12
제9항에 있어서, 상기 패턴 정보는상기 서빙셀에 대한 제1 패턴 정보와, 이웃셀에 대한 제2 패턴 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 측정 수행 방법
13 13
제12항에 있어서,상기 제1 패턴 정보는 measSubframePattern-Neigh이거나상기 제2 패턴 정보는 measSubframePattern-Serv인 것을 특징으로 하는 측정 수행 방법
14 14
제9항에 있어서, 상기 서브프레임은MBSFN(MBMS Single Frequency Network)이 아닌 일반 ABS(Almost Black Subframe) 또는 MBSFN ABS로 설정되어 있는 것을 특징으로 하는 측정 수행 방법
15 15
제9항에 있어서, 상기 측정은CRS(Cell-specific Reference Signal)를 통한 RSRP(Reference Signal Received Power)와 RSRQ(Reference　Signal Received Quality) 중 하나 이상을 측정하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 측정 수행 방법
16 16
측정 수행을 위한 서브프레임을 설정하는 제어부와, 여기서 상기 설정한 서브프레임은 이웃 셀에 대한 측정 수행을 위한 서브프레임과는 다르며;상기 설정한 서브프레임에 대한 제1 패턴 정보와 그리고 상기 이웃 셀에 대한 측정 수행을 위한 서브프레임을 지시하는 제2 패턴 정보를 단말로 전송하는 송신부를 포함하고,상기 제1 패턴 정보 또는 상기 제2 패턴 정보는 측정을 위한 서브프레임을 비트 1로 지시하고, 상기 제1 패턴 정보 또는 상기 제2 패턴 정보는 상기 측정을 위한 서브프레임을 프레임 당 적어도 하나 이상 지시하는 것을 특징으로 하는 기지국
17 17
제16항에 있어서, 상기 제1 패턴 정보는 measSubframePattern-Serv이거나,상기 제2 패턴 정보는 measSubframePattern-Neigh인 것을 특징으로 하는 기지국
18 18
제16항에 있어서,상기 제1 패턴 정보 또는 상기 제2 패턴 정보는 비트열로 표현되고, 상기 비트열의 첫번째 비트는 SFN mod x=0을 만족하는 프레임의 0번 서브프레임에 해당하고,여기서 상기 x는 비트열을 10으로 나눈 크기이고,SFN은 시스템 프레임 번호(System Frame Number )인 것을 특징으로 하는 기지국
19 19
제16항에 있어서, 상기 패턴 정보는 시간 도메인 측정 자원 제한 패턴 또는 measSubframePattern인 것을 특징으로 하는 기지국
20 20
제16항에 있어서, 상기 제1 셀이 설정한 서브프레임은MBSFN(MBMS Single Frequency Network)이 아닌 일반 ABS(Almost Black Subframe) 또는 MBSFN ABS을 고려하여 설정된 것을 특징으로 하는 기지국
21 21
제16항에 있어서, 상기 제2 패턴 정보는 X2 인터페이스 기반 시그널링을 통해 수신되는 것을 특징으로 하는 기지국
22 22
제16항에 있어서, 상기 전송 단계에서상기 제1 패턴 정보는 RRC(Radio Resource Control) 기반 메시지를 통해 전송되는 것을 특징으로 하는 기지국
23 23
제22항에 있어서, 상기 RRC 메시지는RRC 연결 재구성 메시지인 것을 특징으로 하는 기지국
24 24
서빙셀로부터 측정 수행을 위한 서브프레임에 대한 패턴 정보를 획득하는 수신부와;서빙셀의 커버리지와 이웃셀의 커버리지에 위치할 때, 상기 패턴 정보에 따라 서로 다른 서브프레임 상에서 서빙셀과 이웃셀에 대해 측정을 수행하는 제어부를 포함하고,상기 패턴 정보는 측정을 위한 서브프레임을 비트 1로 지시하고, 상기 패턴 정보는 상기 측정을 위한 서브프레임을 프레임 당 적어도 하나 이상 지시하는 것을 특징으로 하는 단말
25 25
제24항에 있어서, 상기 패턴 정보는 시간 도메인 측정 자원 제한 패턴 또는 measSubframePattern인 것을 특징으로 하는 단말
26 26
제24항에 있어서, 상기 패턴 정보는상기 서빙셀에 대한 제1 패턴 정보와, 이웃셀에 대한 제2 패턴 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 단말
27 27
제26항에 있어서,상기 제1 패턴 정보는 measSubframePattern-Neigh이거나상기 제2 패턴 정보는 measSubframePattern-Serv인 것을 특징으로 하는 단말
28 28
제24항에 있어서, 상기 서브프레임은MBSFN(MBMS Single Frequency Network)이 아닌 일반 ABS(Almost Black Subframe) 또는 MBSFN ABS로 설정되어 있는 것을 특징으로 하는 단말
29 29
제24항에 있어서, 상기 측정은CRS(Cell-specific Reference Signal)를 통한 RSRP(Reference Signal Received Power)와 RSRQ(Reference　Signal Received Quality) 중 하나 이상을 측정하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 단말
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7 US20160050036 US 미국 FAMILY
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7 US9413475 US 미국 DOCDBFAMILY
8 US9706552 US 미국 DOCDBFAMILY
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