맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

시간-파장 변환에 의한 초고속 광신호의 아이 패턴 측정장치

  • 기술번호 : KST2015077855
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야본 발명은 시간-파장 변환에 의한 초고속 광신호의 아이 패턴(eye pattern) 측정 장치에 관한 것임.2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제본 발명은, 선형 처핑(chirping)된 초연속 광원과 비선형 간섭계를 이용하여 입력 광펄스의 시간 파형을 파장 영역으로 변환하여 아이 패턴을 측정하는 아이 패턴 측정 장치를 제공하고자 함.3. 발명의 해결방법의 요지 본 발명은, 시간-파장 변환에 의한 광신호의 아이 패턴 측정 장치에 있어서, 선형 처핑된 초연속 광원을 생성하기 위한 초연속 광원 생성 수단; 상기 초연속 광원 생성 수단에 의해 생성된 초연속 광원을, 입력받은 광펄스에 의해 비선형 간섭을 발생시키기 위한 비선형 간섭 수단; 및 상기 비선형 간섭 수단에 의해 발생한 초연속 광원에 대한 비선형 간섭의 결과를 이용해 광파장을 분석하여 아이 패턴을 측정하기 위한 광파장 분석 수단을 포함함.4. 발명의 중요한 용도본 발명은 광신호의 아이 패턴 측정 등에 이용됨.아이 패턴, 선형 처핑, 시간-파장 변환, 비선형 간섭, 초연속 광원
Int. CL H04B 10/07 (2013.01)
CPC H04B 10/07957(2013.01) H04B 10/07957(2013.01)
출원번호/일자 1020000084565 (2000.12.28)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0353844-0000 (2002.09.10)
공개번호/일자 10-2002-0055533 (2002.07.09) 문서열기
공고번호/일자 (20020928) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2000.12.28)
심사청구항수 4

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이학규 대한민국 대전광역시유성구
2 전민용 대한민국 대전광역시대덕구
3 안준태 대한민국 대전광역시중구
4 임동성 대한민국 경기도성남시중원구
5 김경헌 대한민국 대전광역시유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2000.12.28 수리 (Accepted) 1-1-2000-0284069-14
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2002.07.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2002.08.13 수리 (Accepted) 9-1-2002-0014777-33
6 등록결정서
Decision to grant		 2002.08.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2002-0307962-61
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

시간-파장 변환에 의한 광신호의 아이 패턴 측정 장치에 있어서,

선형 처핑(chirping)된 초연속 광원을 생성하기 위한 초연속 광원 생성 수단;

상기 초연속 광원 생성 수단에 의해 생성된 초연속 광원을, 입력받은 광펄스에 의해 비선형 간섭을 발생시키기 위한 비선형 간섭 수단; 및

상기 비선형 간섭 수단에 의해 발생한 초연속 광원에 대한 비선형 간섭의 결과를 이용해 광파장을 분석하여 아이 패턴을 측정하기 위한 광파장 분석 수단

을 포함하는 아이 패턴 측정 장치

2 2

제 1 항에 있어서,

상기 비선형 간섭 수단은,

광신호의 전송이 광선로를 통해 이루어지지 않을 경우, 광신호를 반사하여 일정한 방향으로 전송하는 역할을 수행하기 위한 하나 이상의 광신호 반사 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 아이 패턴 측정 장치

3 3

제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,

상기 비선형 간섭 수단은,

마하젠더(Mach-Zehnder) 간섭계로 구성된 것을 특징으로 하는 아이 패턴 측정 장치

4 4

제 1 항에 있어서,

상기 광파장 분석 수단은,

상기 비선형 간섭 수단에 의해 발생된 비선형 간섭의 결과로 검출되는 광세기, 위상차, 위상 변화량 및 굴절율 등을 이용하여, 시간적으로 투과하는 파장을 선형적으로 변환시켜 광파장을 분석하는 것을 특징으로 하는 아이 패턴 측정 장치

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.