1 |
1
촬상대에 놓인 금속패널을 포함하는 이미지를 촬영하는 촬영부;상기 촬영부에 의해 촬영된 이미지 데이터 중 상기 금속패널의 이미지를 구체화하는 데이터 처리부;상기 구체화된 이미지 데이터를 기초로 기 저장된 기저 이미지와의 대조를 통해 상기 금속패널의 결함여부를 판단하는 기저 이미지 처리부 및 상기 구체화된 이미지 데이터를 기초로 퍼컬레이션(percolation)법을 통해 상기 금속패널의 결함여부를 판단하는 무기저 이미지 처리부를 포함하는 병렬처리부;상기 기저 이미지 처리부 및 상기 무기저 이미지 처리부의 판단 결과를 기초로 상기 금속패널의 최종 결함여부를 판단하는 최종판단부; 및상기 구체화된 이미지 데이터를 기초로 상기 금속패널의 결함여부를 판단하고, 상기 금속패널에 결함이 존재하지 않는 경우, 상기 구체화된 이미지 데이터를 상기 기저 이미지로 저장하는 기저 이미지 판단부;를 포함하고,상기 병렬처리부는 상기 기저 이미지 처리 및 상기 무기저 이미지 처리를 동시에 병렬 연산하는, 금속패널 결함 탐지 장치
|
2 |
2
삭제
|
3 |
3
청구항 1에 있어서,상기 데이터 처리부는,상기 촬영부에 의해 촬영된 이미지 데이터 중 상기 금속패널의 이미지와 상기 금속패널의 이미지를 제외한 나머지 이미지를 이원화하는 제1 처리부;를 포함하는, 금속패널 결함 탐지 장치
|
4 |
4
청구항 3에 있어서,상기 데이터 처리부는,퍼컬레이션(percolation)법을 통해 상기 제1 처리부에 의해 이원화된 상기 금속패널 이미지의 내곽선 및 외곽선 중 적어도 하나를 형성하는 제2 처리부;를 더 포함하는, 금속패널 결함 탐지 장치
|
5 |
5
청구항 1에 있어서,상기 촬영부는 복수개 구비되고,상기 복수개의 촬영부 각각은 상호 상이한 위치에서 상기 금속패널을 촬영하는, 금속패널 결함 탐지 장치
|
6 |
6
청구항 1에 있어서,상기 이미지 데이터, 상기 구체화된 이미지, 상기 기저 이미지 처리부의 판단 결과, 상기 무기저 이미지 처리부의 판단 결과 및 상기 최종판단부의 판단 결과 중 적어도 하나를 사용자에 제공하는 디스플레이부를 더 포함하는, 금속패널 결함 탐지 장치
|
7 |
7
청구항 1에 있어서,상기 퍼컬레이션(percolation)법은 복수 퍼컬레이션(multi seed percolation)법 및 선형 퍼컬레이션(linear seed percolation)법 중 어느 하나인, 금속패널 결함 탐지 장치
|
8 |
8
촬상대에 놓인 금속패널을 포함하는 이미지가 촬영되고,상기 촬영된 이미지 데이터 중 상기 금속패널의 이미지가 구체화되고,상기 구체화된 이미지 데이터를 기초로 기 저장된 기저 이미지와의 대조를 통해 기저 이미지 처리로 상기 금속패널의 결함여부가 판단되며, 상기 구체화된 이미지 데이터를 기초로 퍼컬레이션(percolation)법을 통해 무기저 이미지 처리로 상기 금속패널의 결함여부가 판단되고,상기 기저 이미지 처리 및 상기 무기저 이미지 처리의 판단 결과를 기초로 상기 금속패널의 최종 결함여부가 판단되고,상기 구체화된 이미지 데이터를 기초로 상기 금속패널의 결함여부가 판단되고, 상기 금속패널에 결함이 존재하지 않는 경우, 상기 구체화된 이미지 데이터는 상기 기저 이미지로 저장되며,상기 기저 이미지 처리 및 상기 무기저 이미지 처리는 동시에 병렬 연산되는, 금속패널 결함 탐지 방법
|
9 |
9
삭제
|
10 |
10
청구항 8에 있어서,상기 촬영된 이미지 데이터 중 상기 금속패널의 이미지와 상기 금속패널의 이미지를 제외한 나머지 이미지는 이원화되는, 금속패널 결함 탐지 방법
|
11 |
11
청구항 10에 있어서,상기 이원화된 금속패널 이미지의 내곽선 및 외곽선 중 적어도 하나가 형성되어 구체화되는, 금속패널 결함 탐지 방법
|
12 |
12
청구항 8에 있어서,상기 금속패널은 각각이 상호 상이한 복수개의 위치에서 촬영되는, 금속패널 결함 탐지 방법
|
13 |
13
청구항 8에 있어서,상기 이미지 데이터, 상기 구체화된 이미지, 상기 기저 이미지 처리에 의한 판단 결과, 상기 무기저 이미지 처리에 의한 판단 결과 및 상기 최종 결함여부 판단 결과 중 적어도 하나는 사용자에게 제공되는, 금속패널 결함 탐지 방법
|
14 |
14
청구항 8에 있어서,상기 퍼컬레이션(percolation)법은 복수 퍼컬레이션(multi seed percolation)법 및 선형 퍼컬레이션(linear seed percolation)법 중 어느 하나인, 금속패널 결함 탐지 방법
|