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브래그 격자를 이용한 광센서 칩 및 그의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2014002883
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 브래그 격자(Bragg grating)를 이용한 광센서 칩 및 그의 제조 방법에 관한 것으로, 기판과; 상기 기판 상부에 형성된 클래드층과; 상기 클래드층 내부에 개재되어 있는 코어층과; 상기 코어층으로 입사되는 광 중 특정 파장을 중심으로 일정 대역의 광을 반사시키고 나머지 광은 통과시키도록, 상기 코어층에 형성되어 있는 브래그 격자패턴으로 구성된다. 또한, 본 발명은 PLC(Planar Lightwave Circuit) 기술을 이용하여 한 웨이퍼 안에다 수십∼수백개의 광센서칩을 동시에 노광시켜 양산해 낼 수 있으므로, 소자의 저가격화를 수행할 수 있는 효과가 있다.브래그, 격자, 반사, 센서, 칩
Int. CL G02B 6/124 (2006.01) G02B 6/10 (2006.01)
CPC G02B 6/02076(2013.01) G02B 6/02076(2013.01) G02B 6/02076(2013.01) G02B 6/02076(2013.01) G02B 6/02076(2013.01)
출원번호/일자 1020060072155 (2006.07.31)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-0822337-0000 (2008.04.08)
공개번호/일자 10-2008-0011765 (2008.02.11) 문서열기
공고번호/일자 (20080415) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.07.31)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 윤형도 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 임영민 대한민국 경기도 태안읍 반월리 *
3 김명진 대한민국 경기도 성남시 분당구
4 김회경 대한민국 서울특별시 동작구
5 서용곤 대한민국 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정종옥 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)
2 조현동 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 (도곡동, 덕영빌딩)(노벨국제특허법률사무소)
3 진천웅 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.07.31 수리 (Accepted) 1-1-2006-0551082-12
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.06.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.07.11 수리 (Accepted) 9-1-2007-0039779-37
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.08.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0461481-63
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2007.10.24 수리 (Accepted) 1-1-2007-0761137-84
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2007.10.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0761143-58
7 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2007.12.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0691363-67
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.02.18 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2008-0119064-47
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.02.18 수리 (Accepted) 1-1-2008-0119055-36
10 등록결정서
Decision to grant
2008.03.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0182764-02
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판과; 상기 기판 상부에 형성된 클래드층과; 상기 클래드층 내부에 개재되어 있는 코어층과; 상기 코어층으로 입사되는 광 중 특정 파장을 중심으로 일정 대역의 광을 반사시키고 나머지 광은 통과시키도록, 상기 코어층에 형성되어 있는 브래그 격자패턴으로 구성되며, 상기 코어층은 복수개로 분기되어 있고, 상기 브래그 격자패턴이 상기 분기된 코어층 영역 각각에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 브래그 격자를 이용한 광센서 칩
2 2
제 1 항에 있어서,상기 기판은 실리콘 기판이고,상기 클래드층은 고밀화된 실리카막이고, 상기 코어층은 게르마늄 산화막인 것을 특징으로 하는 브래그 격자를 이용한 광센서 칩
3 3
삭제
4 4
제 1 항에 있어서,상기 분기된 코어층 영역 각각에 형성되어 있는 브래그 격자패턴 각각은 격자주기가 다른 것을 특징으로 하는 브래그 격자를 이용한 광센서 칩
5 5
제 1 항, 제 2 항, 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 코어층은 상기 기판의 일측에서 타측으로 형성되어 있고, 상기 코어층의 일측에는 광섬유가 광 정렬되어 있는 것을 특징으로 하는 브래그 격자를 이용한 광센서 칩
6 6
실리콘 기판 상부에 실리카막(SiO2)을 형성하는 단계와;상기 실리카막 상부에 게르마늄 산화막(GeO2)을 형성하는 단계와;상기 실리카막과 게르마늄 산화막에 고밀화(Consolidation) 공정을 수행하는 단계와;상기 고밀화된 게르마늄 산화막의 일부를 제거하여 코어층을 형성하는 단계와; 상기 코어층 상부에 격자패턴이 형성되어 있는 위상마스크를 위치시키고, 상기 위상마스크를 통하여 상기 코어층을 노광시켜, 상기 코어층에 브래그 격자패턴을 형성시키는 단계와;상기 코어층을 감싸며, 상기 고밀화된 실리카막 상부에 클래드층을 형성하는 단계로 구성되며,상기 코어층은 복수개로 분기되어 있는 코어층이고,상기 코어층에 브래그 격자패턴을 형성시키는 공정으로 상기 각 분기된 코어층 영역에 브래그 격자패턴이 형성되는 것을 특징으로 하는 브래그 격자를 이용한 광센서 칩의 제조 방법
7 7
제 6 항에 있어서,상기 코어층을 형성하는 공정은, 상기 고밀화된 게르마늄 산화막 상부 일부에 마스크층을 형성하고, 상기 고밀화된 게르마늄 산화막을 식각하여 코어층을 형성하는 것을 특징으로 하는 브래그 격자를 이용한 광센서 칩의 제조 방법
8 8
제 7 항에 있어서,상기 코어층을 형성하는 공정은, 상기 고밀화된 게르마늄 산화막 상부에 알루미늄층과 포토레지스트막을 순차적으로 형성하고,Cr마스크로 마스킹하여, 상기 포토레지스트막을 노광시키고,상기 노광된 포토레지스트막 영역을 식각하고,상기 노광되지 않은 포토레지스트막으로 마스킹하여, 상기 알루미늄층과 고밀화된 게르마늄 산화막을 식각하고,상기 포토레지스트막과 알루미늄층을 제거하여 코어층을 형성하는 것을 특징으로 하는 브래그 격자를 이용한 광센서 칩의 제조 방법
9 9
삭제
10 10
제 6 항에 있어서,상기 분기된 코어층 영역 각각에 형성되어 있는 브래그 격자패턴 각각은 격자주기가 다른 것을 특징으로 하는 브래그 격자를 이용한 광센서 칩의 제조 방법
11 11
제 6 항에 있어서,상기 실리카막은,화염 가수분해 증착(Flame Hydrolysis Deposition, FHD) 장비 또는 화학 기상 증착(Chemical Vapor Deposition, CVD)장비를 사용하여 실리카를 증착하여 형성하는 것을 특징으로 하는 브래그 격자를 이용한 광센서 칩의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.