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유기 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2014026638
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 한 실시예에 따른 유기 박막 트랜지스터 표시판에서는 리프트 오프(lift-off) 공정 또는 쉐도우 마스크(shadow mask)를 이용한 공정으로 금속과 금속산화물을 이용하여 이중층의 소스 전극(173)과 드레인 전극(175)을 형성함으로써, 박막 트랜지스터의 특성이 향상되며, 박막 트랜지스터 표시판의 제조 공정 원가가 절감되는 효과가 있다. 유기 박막 트랜지스터, 금속 산화물, lift-off, shadow mask
Int. CL H01L 29/786 (2006.01) H01L 51/00 (2006.01)
CPC H01L 51/105(2013.01) H01L 51/105(2013.01) H01L 51/105(2013.01) H01L 51/105(2013.01) H01L 51/105(2013.01) H01L 51/105(2013.01) H01L 51/105(2013.01)
출원번호/일자 1020080086897 (2008.09.03)
출원인 삼성디스플레이 주식회사, 포항공과대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2010-0027828 (2010.03.11) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 26

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성디스플레이 주식회사 대한민국 경기 용인시 기흥구
2 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조승환 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 김보성 대한민국 서울특별시 서초구
3 김영민 대한민국 경기도 용인시 수지구
4 이시우 대한민국 경상북도 포항시 남구
5 윤동진 대한민국 충북 청주시 상당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 팬코리아특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 역삼***빌딩 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.09.03 수리 (Accepted) 1-1-2008-0627882-05
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5132663-40
3 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2012.09.13 수리 (Accepted) 1-1-2012-0742774-19
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.13 수리 (Accepted) 4-1-2013-0025573-58
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5024386-11
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2015-5104722-59
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.01.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5016605-77
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.20 수리 (Accepted) 4-1-2019-5243581-27
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5245997-53
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5247115-68
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번호 청구항
1 1
게이트 전극을 포함하는 게이트선, 상기 게이트선 위에 형성되어 있는 층간 절연막, 상기 층간 절연막 위에 형성되어 있으며 소스 전극을 포함하는 데이터선, 상기 소스 전극과 마주하는 드레인 전극, 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극 사이에 형성되어 있는 유기 반도체, 그리고 상기 드레인 전극과 연결되어 있는 화소 전극 을 포함하고, 상기 데이터선 및 상기 드레인 전극은 금속을 포함하는 제1 데이터선 및 제1 드레인 전극, 그리고 상기 제1 데이터선 및 상기 제1 드레인 전극 위에 형성되며, 금속 산화물을 포함하는 제2 데이터선 및 제2 드레인 전극 을 포함하는 박막 트랜지스터 표시판
2 2
제1항에서, 상기 유기 반도체는 상기 제2 데이터선 및 제2 드레인 전극과 접촉하는 박막 트랜지스터 표시판
3 3
제2항에서, 상기 제2 데이터선 및 제2 드레인 전극은 상기 제1 데이터선 및 상기 제1 드레인 전극을 각각 완전히 덮고 있는 박막 트랜지스터 표시판
4 4
제3항에서, 상기 제1 데이터선 및 상기 제1 드레인 전극은 각각 상기 제2 데이터선 및 상기 제2 드레인 전극과 실질적으로 동일한 평면 모양을 가지고 있는 박막 트랜지스터 표시판
5 5
제2항에서, 상기 유기 반도체는 상기 층간 절연막과 접촉하고 있는 박막 트랜지스터 표시판
6 6
제1항에서, 상기 금속과 상기 금속 산화물은 동일한 금속을 포함하는 박막 트랜지스터 표시판
7 7
제6항에서, 상기 금속은 몰리브덴(Mo), 구리(Cu), 루비듐(Ru), 바나듐(V), 크롬(Cr), 아연(Zn), 인듐(In) 또는 알루미늄(Al)인 박막 트랜지스터 표시판
8 8
제6항에서, 상기 금속 산화물의 일함수 값은 4
9 9
제1항에서, 상기 유기 반도체는 상기 제2 데이터선 및 상기 제2 드레인 전극 위에 형성되어 있는 박막 트랜지스터 표시판
10 10
제1항에서, 상기 유기 반도체, 상기 제2 데이터선 및 상기 제2 드레인 전극 위에 형성되어 있는 보호막을 더 포함하는 박막 트랜지스터 표시판
11 11
제1항에서, 상기 유기 반도체의 두께는 상기 소스 전극이나 상기 드레인 전극의 두께보다 얇은 박막 트랜지스터 표시판
12 12
게이트 전극을 포함하는 게이트선을 형성하는 단계, 상기 게이트선 위에 층간 절연막을 형성하는 단계, 상기 층간 절연막 위에 소스 전극을 포함하는 데이터선과 드레인 전극의 형성을 위한 감광막 패턴을 형성하는 단계, 상기 감광막 패턴과 상기 층간 절연막 위에 데이터 금속층을 적층하는 단계, 상기 데이터 금속층 위에 데이터 금속 산화물층을 적층하는 단계, 상기 감광막 패턴을 제거하여 소스 전극을 포함하는 데이터선과 드레인 전극을 형성하는 단계, 그리고 상기 소스 전극과 상기 드레인 전극의 사이에 유기 반도체를 형성하는 단계 를 포함하는 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
13 13
제12항에서, 상기 감광막은 음성 감광 물질을 포함하는 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
14 14
제12항에서, 상기 유기 반도체를 형성하는 단계는 상기 금속 산화물층과 상기 유기 반도체가 접촉하도록 상기 금속 산화물층 위에 형성하는 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
15 15
제14항에서, 상기 데이터 금속층과 상기 데이터 금속 산화물층은 동일한 금속을 포함하는 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
16 16
제15항에서, 상기 금속은 몰리브덴(Mo), 구리(Cu), 루비듐(Ru), 바나듐(V), 크롬(Cr), 아연(Zn), 인듐(In) 또는 알루미늄(Al)인 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
17 17
제12항에서, 상기 유기 반도체 위에 보호막을 형성하는 단계를 더 포함하는 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
18 18
제17항에서, 상기 보호막 위에 화소 전극을 형성하는 단계를 더 포함하는 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
19 19
게이트 전극을 포함하는 게이트선을 형성하는 단계, 상기 게이트선 위에 층간 절연막을 형성하는 단계, 상기 층간 절연막 위에 보조 금속층을 형성하는 단계, 상기 보조 금속층 위에 소스 전극을 포함하는 데이터선과 드레인 전극의 형성을 위한 감광막 패턴을 형성하는 단계, 상기 감광막 패턴을 마스크로 하여 상기 보조 금속층을 식각하는 단계, 상기 감광막 패턴과 상기 층간 절연막 위에 데이터 금속층을 적층하는 단계, 상기 데이터 금속층 위에 데이터 금속 산화물층을 적층하는 단계, 상기 감광막 패턴과 상기 보조 금속층을 제거하여 소스 전극을 포함하는 데이터선과 드레인 전극을 형성하는 단계, 그리고 상기 소스 전극과 상기 드레인 전극의 사이에 유기 반도체를 형성하는 단계 를 포함하는 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
20 20
제19항에서, 상기 유기 반도체를 형성하는 단계는 상기 금속 산화물층과 상기 유기 반도체가 접촉하도록 상기 금속 산화물층 위에 형성하는 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
21 21
제19항에서, 상기 데이터 금속층과 상기 데이터 금속 산화물층은 동일한 금속을 포함하는 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
22 22
제21항에서, 상기 금속은 몰리브덴(Mo), 구리(Cu), 루비듐(Ru), 바나듐(V), 크롬(Cr), 아연(Zn), 인듐(In) 또는 알루미늄(Al)인 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
23 23
게이트 전극을 포함하는 게이트선을 형성하는 단계, 상기 게이트선 위에 층간 절연막을 형성하는 단계, 상기 층간 절연막 위에 소스 전극을 포함하는 데이터선과 드레인 전극의 형성을 위한 마스크를 상기 층간 절연막 위에 배치하는 단계, 상기 마스크의 개구부를 통하여 데이터 금속층과 데이터 금속 산화물층을 적층하여 소스 전극을 포함하는 데이터선과 드레인 전극을 형성하는 단계, 상기 소스 전극과 상기 드레인 전극의 사이에 유기 반도체를 형성하는 단계 를 포함하는 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
24 24
제23항에서,상기 유기 반도체를 형성하는 단계는 상기 금속 산화물층과 상기 유기 반도체가 접촉하도록 상기 금속 산화물층 위에 형성하는 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
25 25
제23항에서, 상기 데이터 금속층과 상기 데이터 금속 산화물층은 동일한 금속을 포함하는 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
26 26
제25항에서, 상기 금속은 몰리브덴(Mo), 구리(Cu), 루비듐(Ru), 바나듐(V), 크롬(Cr), 아연(Zn), 인듐(In), 또는 알루미늄(Al)인 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US20100051911 US 미국 FAMILY

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1 US2010051911 US 미국 DOCDBFAMILY
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