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탄성률 영상화 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2014029897
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 잡음을 최소화할 수 있는 탄성률 영상화 방법 및 장치에 관한 것으로, 측정대상 내부에 탄성파를 발생시키는 단계와; 상기 측정대상 내부에서 진행하는 상기 탄성파를 검출하는 단계와; 상기 검출된 탄성파의 한번 미분된 값을 근거로 하여 상기 측정대상 내부의 탄성률을 계산하는 단계와; 상기 계산된 탄성률을 근거로 하여 상기 측정대상의 내부를 영상화하는 단계를 포함한다. 탄성파, 전단파, 탄성률, 헬름홀츠 분리법
Int. CL A61B 5/055 (2006.01) A61B 8/00 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020070033234 (2007.04.04)
출원인 경희대학교 산학협력단, 권오인, 이병일, 박춘재
등록번호/일자 10-0868551-0000 (2008.11.06)
공개번호/일자 10-2008-0090120 (2008.10.08) 문서열기
공고번호/일자 (20081113) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.04.04)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 경희대학교 산학협력단 대한민국 경기도 용인시 기흥구
2 권오인 대한민국 서울특별시 양천구
3 이병일 대한민국 경기도 화성
4 박춘재 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 권오인 대한민국 서울특별시 양천구
2 이병일 대한민국 경기 수원시 권선구
3 박춘재 대한민국 서울 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 심창섭 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 **, 현대빌딩 *층 (잠실동)(KBK특허법률사무소)
2 김용인 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 ** (잠실현대빌딩 *층)(특허법인(유한)케이비케이)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 경희대학교산학협력단 경기도 용인시 기흥구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2007.04.04 수리 (Accepted) 1-1-2007-0260991-86
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2007.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2007-5065076-36
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2007.09.07 수리 (Accepted) 4-1-2007-5139506-36
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2008.01.18 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2008.02.05 수리 (Accepted) 4-1-2008-5020006-08
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2008.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2008-5020784-90
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2008.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2008-5020788-72
8 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2008.02.13 수리 (Accepted) 9-1-2008-0006447-67
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2008.03.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0149643-67
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2008.05.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0351581-16
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2008.05.19 수리 (Accepted) 1-1-2008-0351582-62
12 등록결정서
Decision to grant		 2008.09.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0501326-67
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2011-5102681-80
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2011-5102703-07
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.03.09 수리 (Accepted) 4-1-2015-5029677-09
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.19 수리 (Accepted) 4-1-2019-5164254-26
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
측정대상 내부에 탄성파를 발생시키는 단계와;상기 측정대상 내부에서 진행하는 상기 탄성파를 검출하는 단계와;상기 검출된 탄성파를 스칼라 성분과 벡터 성분으로 분리하는 단계와;상기 분리된 스칼라 성분 및 벡터 성분 그리고 상기 검출된 탄성파의 한번 미분된 값을 이용하여 상기 측정대상 내부의 탄성률을 계산하는 단계와;상기 계산된 탄성률을 근거로 하여 상기 측정대상의 내부를 영상화하는 단계를 포함하는 탄성률 영상화 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 탄성파는 전단파(shear wave)인 것을 특징으로 하는 탄성률 영상화 방법
3 3
삭제
4 4
제 1 항에 있어서,상기 탄성파의 주파수 및 상기 검출된 탄성파의 값을 근거로 하여 상기 스칼라 성분의 값을 계산하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 탄성률 영상화 방법
5 5
제 1 항에 있어서,상기 스칼라 성분의 값과 상기 검출된 탄성파의 한번 미분된 값을 근거로 하여 상기 벡터 성분의 값을 계산하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 탄성률 영상화 방법
6 6
제 1 항에 있어서,상기 분리된 스칼라 성분 및 벡터 성분 그리고 상기 검출된 탄성파의 한번 미분된 값을 이용하여 상기 측정대상 내부의 탄성률을 계산하는 단계에서,상기 스칼라 성분 , 상기 벡터 성분 , 상기 검출된 탄성파의 한번 미분된 값 을 수학식 (여기서, )에 대입하여 상기 탄성률을 계산하는 것을 특징으로 하는 탄성률 영상화 방법
7 7
측정대상 내부에 탄성파를 발생시키는 탄성파 발생부와;상기 측정대상 내부에서 진행하는 상기 탄성파를 검출하는 신호 검출부와;상기 검출된 탄성파를 스칼라 성분 및 벡터 성분으로 분리하고, 상기 분리된 스칼라 성분 및 벡터 성분 그리고 상기 검출된 탄성파의 한번 미분된 값을 이용하여 상기 측정대상 내부의 탄성률을 계산하고, 상기 계산된 탄성률을 근거로 하여 상기 측정대상의 내부를 영상화하는 제어부를 포함하는 탄성률 영상화 장치
8 8
제 7 항에 있어서,상기 신호 검출부는 MRI 장치 또는 초음파 측정 장치인 것을 특징으로 하는 탄성률 영상화 장치
9 9
삭제
10 10
제 7 항에 있어서,상기 제어부는,상기 탄성파의 주파수 및 상기 검출된 탄성파의 값을 근거로 하여 상기 스칼라 성분의 값을 계산하는 것을 특징으로 하는 탄성률 영상화 장치
11 11
제 7 항에 있어서,상기 제어부는,상기 스칼라 성분의 값과 상기 검출된 탄성파의 한번 미분된 값을 근거로 하여 상기 벡터 성분의 값을 계산하는 것을 특징으로 하는 탄성률 영상화 장치
12 12
제 7 항에 있어서,상기 제어부는,상기 스칼라 성분 , 상기 벡터 성분 , 상기 검출된 탄성파의 한번 미분된 값 을 수학식 (여기서, )에 대입하여 상기 탄성률을 계산하는 것을 특징으로 하는 탄성률 영상화 장치
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP02142100 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
2 EP02142100 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 US08128564 US 미국 FAMILY
4 US20090007674 US 미국 FAMILY
5 WO2008123706 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP2142100 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
2 EP2142100 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
3 EP2142100 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
4 US2009007674 US 미국 DOCDBFAMILY
5 US8128564 US 미국 DOCDBFAMILY
6 WO2008123706 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.