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원자층 증착법에 의한 금속 박막 증착 방법

  • 기술번호 : KST2014041859
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 원자층 증착법에 의한 금속 박막 증착 방법에 관한 것으로, (a) 기판에 금속 전구체를 공급하는 단계; (b) 상기 금속 전구체에 질화제 또는 산화제를 공급하는 단계; 및 (c) 상기 금속 전구체를 환원시키는 단계;를 포함하여, 다양한 기판에 대해 접착력이 우수한 동시에 박막의 치밀한 구조를 가질 수 있고, 종래의 박막 증착법과 같은 후속열처리를 요하지 않으므로 비저항이 높아지는 단점을 해결할 수 있다. 금속 박막, 원자층 증착, 구리, 기판, 접착력
Int. CL H01L 21/20 (2006.01)
CPC C23C 16/45553(2013.01) C23C 16/45553(2013.01) C23C 16/45553(2013.01) C23C 16/45553(2013.01)
출원번호/일자 1020080075538 (2008.08.01)
출원인 세종대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1013818-0000 (2011.02.01)
공개번호/일자 10-2010-0013832 (2010.02.10) 문서열기
공고번호/일자 (20110214) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.08.01)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 세종대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 광진구 능동로 *** (군

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이원준 대한민국 서울특별시 마포구
2 한별 대한민국 서울특별시 은평구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김희곤 대한민국 대전시 유성구 문지로 ***-*(문지동) *동(웰쳐국제특허법률사무소)
2 김인한 대한민국 서울특별시 서초구 사임당로 **, **층 (서초동, 신영빌딩)(특허법인세원)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 세종대학교산학협력단 대한민국 서울 광진구 군
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.08.01 수리 (Accepted) 1-1-2008-0556589-88
2 보정요구서
Request for Amendment
2008.08.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2008-0096267-17
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2008.08.08 수리 (Accepted) 1-1-2008-0569873-44
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.03.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.04.15 수리 (Accepted) 9-1-2010-0022237-10
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.07.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0327982-19
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.09.29 수리 (Accepted) 1-1-2010-0627888-26
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.09.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0627890-18
9 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2010.10.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0488549-38
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.12.09 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2010-0810269-23
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.12.09 수리 (Accepted) 1-1-2010-0810268-88
12 등록결정서
Decision to grant
2011.01.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0008268-13
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.04.13 수리 (Accepted) 4-1-2011-5073277-77
14 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2012.02.06 수리 (Accepted) 1-1-2012-0094757-76
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
(a) 기판에 금속 전구체를 공급하는 단계; (b) 상기 금속 전구체에 질화제 또는 산화제를 공급하는 단계; 및 (c) 상기 금속 전구체를 환원시키는 단계를 포함하되, 상기 질화제는 N2, NH3, N2H4, 또는 이들의 유도성 결합 플라즈마(ICP, inductively-coupled plasma)에 의해 생성된 라디칼이 포함된 기체 또는 액체를 사용하며, 상기 산화제는 O2, O3, H2O, H2O2, N2O, 금속 알콕사이드(metal alkoxide) 또는 이들의 유도성 결합 플라즈마(ICP, inductively-coupled plasma)에 의해 생성된 라디칼이 포함된 기체 또는 액체를 사용하고, 상기 금속 전구체를 환원시키는 단계의 환원제는 H2, D2, CO, 메탄올, 에탄올, 이소프로필 알코올, 포름알데히드, 아세트알데히드, 부틸알데히드, 포름산, 카르복실산 또는 이들의 유도성 결합 플라즈마(ICP, inductively-coupled plasma)에 의해 생성된 라디칼이 포함된 기체 또는 액체를 사용하며, 상기 유도성 결합 플라즈마(ICP, inductively-coupled plasma)는 플라즈마 파워 100 ~ 5000W, 유량 50 ~ 5000sccm, 압력 0
2 2
제 1항에 있어서, 상기 금속 전구체의 금속은 Cu, Ni, Co, Cr 또는 Zn인 것을 특징으로 하는 원자층 증착법에 의한 금속 박막 증착 방법
3 3
제 1항에 있어서, 상기 금속 전구체는 구리 전구체로서, 구리 할로겐 화합물 또는 구리 유기금속화합물이 포함된 기체 또는 액체인 것을 특징으로 하는 원자층 증착법에 의한 금속 박막 증착 방법
4 4
제 3항에 있어서, 상기 구리 할로겐 화합물은 CuCl1, CuCl2, CuF1, CuF2, CuBr1, CuBr2, CuI1 또는 CuI2인 것을 특징으로 하는 원자층 증착법에 의한 금속 박막 증착 방법
5 5
제 3항에 있어서, 상기 구리 유기금속 화합물은 CuI(beta-diketonate)·L, CuII(beta-diketonate)2, (CuIamidinate)2, CuI(diketimiate)·L, CuII(diketiminate)2, CuI(ketoiminate)·L, CuII(ketoiminate)2, CuI(alkylamide)·L, CuII(alkylamide)2, CuI(cyclopentadienyl)·L 또는 CuII(cyclopentadienyl)2 인 것을 특징으로 하는 원자층 증착법에 의한 금속 박막 증착 방법
6 6
삭제
7 7
삭제
8 8
제 1항에 있어서, 상기 (c)단계에서 진공을 유지하는 것을 특징으로 하는 원자층 증착법에 의한 금속 박막 증착 방법
9 9
삭제
10 10
삭제
11 11
제 1항에 있어서, 상기 금속 전구체를 압력 0
12 12
제 1항에 있어서, 상기 질화제 또는 산화제를 압력 0
13 13
제 1 항에 있어서, 상기 금속 전구체를 환원시키는 단계의 환원제를 압력 0
14 14
제 1항에 있어서, 상기 (a)와 (b)단계 사이, (b)와 (c)단계 사이 및 (c)단계 후에 H2, N2, Ar 또는 He 기체를 이용한 퍼지, 펌핑 또는 이들을 혼합한 단계가 추가되는 것을 특징으로 하는 원자층 증착법에 의한 금속 박막 증착 방법
15 15
제 1항에 있어서, 상기 기판의 온도를 100 ~ 300℃로 가열하는 것을 특징으로 하는 원자층 증착법에 의한 금속 박막 증착 방법
16 16
제 15항에 있어서, 상기 기판의 가열을 위해 저항가열방식, 유도가열방식 또는 램프가열방식 등을 사용하는 것을 특징으로 하는 원자층 증착법에 의한 금속 박막 증착 방법
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패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 세종대학교 산학협력단 전자정보디바이스 산업원천기술개발사업 Cu 배선용 Cu Seed Layer의 원자층 증착