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고온의 대상 물체가 발산하는 광의 파장 대역과 다른 파장 대역으로서, 서로 다른 파장 대역을 갖는 2개의 광과, 상기 2개의 광과 동일한 파장 대역을 갖는 2개의 광에서, 서로 동일한 파장 대역을 갖는 광들을 서로 다른 방향으로 편광시켜 서로 간섭없는 4개의 광으로 발산하는 광원부;상기 광원부로부터 편광된 4개의 광을 동시에 상기 대상 금속 물체에 조사하여 상기 대상 금속 물체에 대한 2차원 영상을 획득하기 위한 영상획득부; 및상기 영상획득부가 획득한 2차원 영상을 포토메트릭 스테레오(Photometric Stereo) 기법을 이용하여 합성하고 상기 대상 금속 물체의 표면에 대한 3차원 형상을 추출하는 영상처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 고온 금속 표면 3차원 형상 추출 시스템
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제 1 항에 있어서,상기 광원부는,상기 서로 다른 파장 대역을 갖는 2개의 광을 각각 2개씩 발산하는 4개의 조명; 및 상기 조명으로부터 발산된 서로 동일한 파장 대역을 갖는 광들을 서로 다른 방향으로 편광시키는 편광 필터를 포함하는 것을 특징으로 하는 고온 금속 표면 3차원 형상 추출 시스템
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제 2 항에 있어서,상기 편광 필터는, 상기 서로 동일한 파장 대역을 갖는 광들을 서로 직교 방향으로 편광시키는 선편광 필터 또는 원편광 필터인 것을 특징으로 하는 고온 금속 표면 3차원 형상 추출 시스템
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제 3 항에 있어서,상기 영상획득부는, 상기 선편광 필터가 서로 직교하도록 배치되거나, 상기 원편광 필터의 선편광 필터 부분이 서로 직교하거나, 상기 선편광 필터와 상기 원편광 필터의 선편광 필터 부분이 서로 직교하도록 배치된 2개의 카메라를 포함하는 것을 특징으로 하는 고온 금속 표면 3차원 형상 추출 시스템
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고온의 대상 물체가 발산하는 광의 파장 대역과 다른 파장 대역으로서, 서로 다른 파장 대역을 갖는 2개의 광과, 상기 2개의 광과 동일한 파장 대역을 갖는 2개의 광에서, 서로 동일한 파장 대역을 갖는 광들을 서로 다른 방향으로 편광시켜 서로 간섭없는 4개의 광으로 상기 고온의 대상 금속 물체를 동시에 조사하는 단계;상기 편광된 4개의 광으로 조사된 상기 대상 금속 물체에 대한 2차원 영상을 획득하는 단계; 및상기 획득된 2차원 영상을 포토메트릭 스테레오(Photometric Stereo) 기법을 이용하여 합성하고 상기 대상 금속 물체의 표면에 대한 3차원 형상을 추출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 고온 금속 표면 3차원 형상 추출 방법
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제 5 항에 있어서,상기 조사하는 단계는,상기 서로 동일한 파장 대역을 갖는 광들을 선편광 필터 또는 원편광 필터를 이용하여 서로 직교 방향으로 선편광시켜 선편광된 광들로 상기 고온의 대상 물체를 조사하고,상기 2차원 영상을 획득하는 단계는,서로 직교 방향으로 선편광된 광들이 투과되도록 선편광 필터 또는 원편광 필터가 배치된 카메라를 이용하여 2차원 영상을 획득하는 것을 특징으로 하는 고온 금속 표면 3차원 형상 추출 방법
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제 5 항에 있어서,상기 2차원 영상을 획득하는 단계는,상기 편광된 4개의 광에 대한 각각의 독립적인 4개의 2차원 영상을 획득하며,상기 3차원 형상을 추출하는 단계는,획득한 상기 4개의 2차원 영상 중 적어도 3개 이상의 영상을 포토메트릭 스테레오(Photometric Stereo) 기법으로 합성하여 상기 대상 물체의 표면에 대한 3차원 형상을 추출하는 것을 특징으로 하는 고온 금속 표면 3차원 형상 추출 방법
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