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직각도 측정 방법

  • 기술번호 : KST2015002936
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 비전장치를 이용하여 객체의 직각도를 정밀하게 측정하기 위한 방법 및 시스템에 관한 것이다. 본 발명은, 비전장치 및 그 비전장치에 채택되는 광학 마스터(optical master)를 이용하여 더욱 정밀하게 객체의 직각도를 측정하는 방법의 제공을 그 기술적 과제로 한다.이를 위해, 본 발명은, 직교 좌표계를 갖는 비전장치를 이용하여 객체의 직각도를 측정하는 방법을 제공하며. 본 발명에 따른 직각도 측정방법은, (a) 비전장치의 비전스크린을 통해 객체에 대한 상대 위치의 확인이 가능한 점패턴들을 갖는 광학 마스터를 준비하는 단계와; (b) 상기 비전스크린을 통해, 상기 직교 좌표계와 상기 객체 사이에 상기 점패턴들을 광학적으로 위치시킨 후, 그 점패턴들의 좌표점을 인식하는 단계와; (c) 상기 (b) 단계에서 인식된 좌표점들의 좌표정보에 따라 상기 직교 좌표계와 상기 객체 사이의 기하학적 관계를 얻고, 그 기하학적인 관계에 따라, 상기 객체의 제 1 축과 제 2 축 사이의 직각도 오차를 계산하는 단계를 포함한다.직각도, 비전장치, 광학, 마스터, 점패턴, 좌표점, 반전법, 회전법
Int. CL G01B 11/26 (2006.01)
CPC G01B 11/26(2013.01)G01B 11/26(2013.01)G01B 11/26(2013.01)
출원번호/일자 1020060020912 (2006.03.06)
출원인 한국기계연구원
등록번호/일자 10-0736005-0000 (2007.06.28)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20070706) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.03.06)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이창우 대한민국 대전 서구
2 송준엽 대한민국 대전 서구
3 하태호 대한민국 경기 안양시 만안구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이수완 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 **-*(역삼동, AIP빌딩)(특허법인에이아이피)
2 이성규 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 **-*(역삼동, AIP빌딩)(특허법인에이아이피)
3 조진태 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 **-*(역삼동, AIP빌딩)(특허법인에이아이피)
4 윤종섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 **-*(역삼동, AIP빌딩)(특허법인에이아이피)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2006.03.06 수리 (Accepted) 1-1-2006-0158373-29
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2006.12.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2007.01.15 수리 (Accepted) 9-1-2007-0004436-84
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2007.02.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0119681-10
5 의견서
Written Opinion		 2007.04.06 수리 (Accepted) 1-1-2007-0267308-30
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 2007.04.06 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0267306-49
7 등록결정서
Decision to grant		 2007.05.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0303041-26
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.04.08 수리 (Accepted) 4-1-2011-5069919-31
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.04.08 수리 (Accepted) 4-1-2011-5069914-14
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.11.28 수리 (Accepted) 4-1-2017-5193093-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
직교 좌표계를 갖는 비전장치를 이용하여 객체의 직각도를 측정하는 방법으로서,(a) 상기 비전장치의 비전스크린을 통해 상기 객체에 대한 상대 위치의 확인이 가능한 점패턴들을 갖는 광학 마스터를 준비하는 단계와;(b) 상기 비전스크린을 통해, 상기 직교 좌표계와 상기 객체 사이에 상기 점패턴들을 광학적으로 위치시킨 후, 그 점패턴들의 좌표점을 인식하는 단계와;(c) 상기 (b) 단계에서 인식된 좌표점들의 좌표정보에 따라 상기 직교 좌표계와 상기 객체 사이의 기하학적 관계를 얻고, 그 기하학적인 관계에 따라, 상기 객체의 제 1 축과 제 2 축 사이의 직각도 오차를 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 비전장치를 이용한 직각도 측정방법
2 2
직교 좌표계를 갖는 비전장치를 이용하여 객체의 직각도를 측정하는 방법으로서,(a) 상기 비전장치의 비전스크린을 통해 상기 객체에 대한 상대 위치의 확인이 가능한 제 1, 제 2, 제 3 점패턴을 구비한 광학 마스터를 준비하는 단계와;(b1) 상기 비전스크린을 통해, 상기 제 1 및 제 2 점패턴을 상기 객체의 제 1 축 및 상기 직교 좌표계의 X축에 일치시키고 상기 제 3 점패턴이 상기 제 1 및 제 2 점패턴과 함께 삼각형을 이루도록 한 후, 상기 점패턴들의 좌표점들을 인식하는 단계와;(b2) 상기 (b1) 단계에서 인식된 좌표점들을 상기 Y축을 기준으로 대칭되게 반전시켜, 상기 점패턴들의 반전된 좌표점들을 인식하는 단계와;(c) 상기 (b1) 단계와 상기 (b2) 단계에서 인식된 좌표점들의 좌표 정보를 이용하여, 상기 객체의 제 1 축과 제 2 축 사이의 직각도 오차를 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 비전장치를 이용한 직각도 측정방법
3 3
청구항 2에 있어서, 상기 (b1) 단계와 상기 (b2) 단계에서, 상기 제 1 점패턴의 좌표점은 상기 직교 좌표계의 Y축 상에 위치하는 특징으로 하는 비전장치를 이용한 직각도 측정방법
4 4
청구항 3에 있어서, 상기 직각도 오차(α)는, 상기 반전 전후에 각각 인식된 상기 제 3 점패턴의 좌표점으로부터 상기 제 2 축의 측정 좌표점에 이르는 수평거리들(x1m, x2m)과 상기 제 1 점패턴의 좌표점으로부터 상기 제 2 축의 측정 좌표점에 이르는 거리(ym)를 기초로 아래의 수학식에 의해 계산되는 것을 특징으로 하는 비전장치을 이용한 직각도 계산방법
5 5
직교 좌표계를 갖는 비전장치를 이용하여 객체의 직각도를 측정하는 방법에 있어서,(a) 상기 비전장치의 비전스크린을 통해 상기 객체에 대한 상대 위치의 확인이 가능한 제 1, 제 2, 제 3 점패턴을 구비한 광학 마스터를 준비하는 단계와;(b1) 상기 비전스크린을 통해, 상기 제 1 및 제 2 점패턴을 상기 객체의 제 1 축 및 상기 직교 좌표계의 X축에 일치시키고 상기 제 3 점패턴이 상기 제 1 및 제 2 점패턴과 함께 삼각형을 이루도록 한 후, 상기 점패턴들의 좌표점들을 인식하는 단계와;(b2) 상기 직교 좌표계의 Y축 상에 있는 상기 제 1 점패턴의 좌표점을 중심으로 상기 제 2 및 제 3 점패턴의 좌표점을 회전시켜서, 회전된 제 3 점패턴의 좌표점이 상기 객체의 제 2 축과 만나는 좌표점을 인식하는 단계와;(c) 상기 (b1) 단계와 상기 (b2) 단계에서 인식된 좌표점들의 좌표 정보를 이용하여, 상기 객체의 제 1 축과 상기 제 2 축 사이의 직각도 오차를 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 비전장치를 이용한 직각도 측정방법
6 6
청구항 5에 있어서, 상기 직각도 오차(α)는, 상기 (b1) 단계에서 인식된 상기 제 3 점패턴의 좌표점으로부터 상기 객체의 제 2 축 상의 측정 좌표점에 이르는 수평거리(x1m)와 상기 제 1 점패턴의 좌표점으로부터 상기 측정 좌표점에 이르는 거리(y1m)와, 그리고, 상기 (b2) 단계에서 인식된 상기 제 1 점패턴의 좌표점으로부터 상기 제 3 점패턴의 회전 좌표점에 이르는 거리(y2m)를 기초로 아래의 [수학식]에 의해 계산되는 것을 특징으로 하는 비전장치를 이용한 직각도 측정방법
7 7
직교 좌표계를 갖는 비전장치를 이용하여 객체의 직각도를 측정하는 방법에 있어서,(a) 상기 비전장치의 비전스크린을 통해 상기 객체에 대한 상대 위치의 확인이 가능하고 직각 삼각형으로 배열되는 제1, 제 2, 제 3 점패턴을 구비한 광학 마스터를 준비하는 단계와;(b) 상기 제 1 및 제 2 점패턴을 상기 직교 좌표계의 X축 및 상기 객체의 제 1 축에 일치시키고 상기 제 3 점패턴을 상기 직교 좌표계의 Y측에 일치시킨 후 각 점패턴들의 좌표점을 인식하는 단계와;(c) 상기 좌표점들의 좌표 정보를 이용하여, 상기 객체의 제 1 축과 상기 제 2 축 사이의 직각도 오차를 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 비전장치를 이용한 직각도 측정방법
8 8
청구항 7에 있어서, 상기 직각도 오차(α)는, 상기 제 3 점패턴의 좌표점으로부터 상기 객체의 제 2 축의 측정 좌표점 사이에 이르는 수평거리(xm)와 상기 제 1 점패턴의 좌표점으로부터 상기 제 2 축의 측정 좌표점에 이르는 거리(ym)을 얻어, 아래의 수학식에 의해 계산되는 것을 특징으로 하는 비전장치를 이용한 직각도 측정방법
9 9
직교 좌표계와 비전스크린을 갖는 비전장치와;상기 비전스크린을 통해 상기 객체에 대한 상대 위치의 확인이 가능한 점패턴들을 구비하며, 상기 비전장치에 의해 상기 점패턴들의 좌표점이 인식되는 광학 마스터를 포함하되,상기 비전장치는, 상기 좌표점들의 좌표 정보에 따라 상기 직교 좌표계와 상기 객체 사이의 기하학적 관계를 얻고, 그 기하학적인 관계에 따라, 상기 객체의 제 1 축과 제 2 축 사이의 직각도 오차를 계산하는 것을 특징으로 하는 비전장치를 이용한 직각도 측정 시스템
10 10
청구항 9에 있어서, 상기 비전장치는,제 1 및 제 2 점패턴이 상기 직교 좌표계의 X축 및 상기 객체의 제 1 축에 일치되고 상기 제 3 점패턴이 상기 제 1 및 제 2 점패턴와 함께 삼각형을 이루는 좌표점을 인식하는 패턴 인식부와;상기 좌표점들을 상기 Y축을 중심으로 대칭, 반전시키는 패턴 변환부를;더 포함하는 것을 특징으로 하는 직각도 측정 시스템
11 11
청구항 9에 있어서, 상기 비전장치는,제 1 및 제 2 점패턴이 상기 직교 좌표계의 X축 및 상기 객체의 제 1 축에 일치되고 제 3 점패턴이 상기 제 1 및 제 2 점패턴와 함께 삼각형을 이루는 좌표점을 인식하는 패턴 인식부와;상기 좌표점들을 상기 직교 좌표계의 Y축 상에 있는 제 1 점패턴의 좌표점을 중심으로 회전시키는 패턴 변환부를;더 포함하는 것을 특징으로 하는 직각도 측정시스템
12 12
비전장치에 적용되어 객체의 직각도 측정에 이용되는 광학 마스터로서,비전장치의 비전스크린을 통해 객체와의 상대 위치의 확인이 가능한 점패턴이 형성된 3개의 광학패널들과;상기 광학패널들을 위치 조절 가능하게 지지하는 베이스 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 직각도 측정용 광학 마스터
13 13
청구항 12에 있어서, 상기 베이스 유닛은,액자형의 틀체와,상기 틀체의 양측벽을 가로질러 설치되며, 상기 광학패널을 슬라이딩 가능하게 안내하는 레일들과;상기 레일들 상의 광학패널을 고정시키는 고정기구를;포함하는 것을 특징으로 하는 직각도 측정용 광학 마스터
14 14
청구항 13에 있어서, 상기 레일들 중 제 1 레일에는 2개의 광학패널이 설치되고, 제 2 레일에는 나머지 하나의 광학패널이 설치되는 것을 특징으로 하는 직각도 측정용 광학 마스터
15 15
청구항 12 내지 청구항 14 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광학패널들 각각에는 크기 또는 형상이 다른 복수의 점패턴들이 마련되고, 점패턴 각각은 나머지 광학패널들에 형성된 동일 크기 및 형상의 다른 점패턴들과 함께 삼각형을 이루도록 정렬되는 것을 특징으로 하는 직각도 측정용 광학 마스터
16 16
청구항 12 내지 청구항 14 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광학패널에 형성된 점패턴들은 자신 또는 주변이 투명 또는 반투명으로 이루어진 것을 특징으로 하는 직각도 측정용 광학 마스터
17 17
청구항 13 또는 청구항 14에 있어서, 상기 베이스 유닛은,상기 틀체의 일측에 연결되는 힌지축을 구비하여 상기 힌지축을 중심으로 상기 틀체를 회전가능하게 지지하는 회전 지지부와;두개의 광학패턴에 형성된 두 점패턴을 객체의 한 축에 일치시키기 위해 상기 틀체를 상기 힌지축을 회전 이동시키고 그 회전 이동된 틀체를 고정 상태로 유지하기 위한 미세 각도 조종부를;더 포함하는 것을 특징으로 하는 직각도 측정용 광학 마스터
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.