맞춤기술찾기

이전대상기술

전자파 측정실 설계 및 평가 기술

  • 기술번호 : KST2015021050
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전자파 잔향실에 관한 것으로, 실내의 반사 특성을 조절하기 위해 의도된 공간에 전자파 흡수 장치가 설치되며 전자파 흡수 장치는 전자파 저지대 구조를 가지고, 이처럼 전자파저지대와 같은 주기 구조 기술을 응용한 소형 및 박형의 전자파 흡수 장치를 포함하는 전자파 잔향실을 제공함으로써 사용자가 더 넓은 내부 공간을 활용할 수 있게 하여 다양한 크기의 시험기기를 테스트할 수 있게 하고 동일 시험기기에 대해 더 적은 공간이 요구되므로 전자파 잔향실의 제작비를 크게 절감할 수 있는 이점이 있다.
Int. CL G01R 29/08 (2006.01)
CPC G01R 29/0814(2013.01) G01R 29/0814(2013.01) G01R 29/0814(2013.01) G01R 29/0814(2013.01) G01R 29/0814(2013.01)
출원번호/일자 1020100133406 (2010.12.23)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0071740 (2012.07.03) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.12.03)
심사청구항수 17

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 심동욱 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.12.23 수리 (Accepted) 1-1-2010-0852263-23
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2015.12.03 수리 (Accepted) 1-1-2015-1184186-87
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.08.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2016.10.18 수리 (Accepted) 1-1-2016-1006807-47
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.11.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0794714-38
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.11.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2016-0142555-84
8 [대리인해임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Dismissal of Sub-agent] Report on Agent (Representative)
2017.01.02 수리 (Accepted) 1-1-2017-0001332-12
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.01.02 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0001634-95
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.01.02 수리 (Accepted) 1-1-2017-0001635-30
11 등록결정서
Decision to grant
2017.05.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0361253-93
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
실내의 반사 특성을 조절하기 위해 의도된 공간에 전자파 흡수 장치가 설치되며, 상기 전자파 흡수 장치는 복수의 단위셀이 주기적으로 배열되고,상기 단위셀은, 금속 도체층과, 상기 금속 도체층 위에 형성된 유전체층과, 상기 유전체층 위에 저항성 재질로 형성된 단위셀 패턴을 포함하는 전자파 저지대 구조를 가지는전자파 잔향실
2 2
삭제
3 3
실내의 반사 특성을 조절하기 위해 의도된 공간에 전자파 흡수 장치가 설치되며, 상기 전자파 흡수 장치는 복수의 단위셀이 주기적으로 배열되고,상기 단위셀은, 금속 도체층과, 상기 금속 도체층 위에 형성된 유전체층과, 상기 유전체층 위에 금속 재질로 형성된 단위셀 패턴과, 상기 단위셀 패턴 위에 형성된 저항 피막을 포함하는전자파 잔향실
4 4
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,상기 단위셀 패턴은, 다각형, 원형 또는 루프형 중에서 적어도 하나 이상의 형태를 포함하는전자파 잔향실
5 5
제 1 항에 있어서,상기 전자파 흡수 장치는, 주기적으로 배열되어 서로 인접한 상기 단위셀의 상기 단위셀 패턴들이 서로 다른 표면 저항 값을 가지는전자파 잔향실
6 6
제 1 항에 있어서,상기 전자파 흡수 장치는, 상기 단위셀을 주기적으로 배열할 때에 서로 인접한 상기 단위셀 패턴의 구조 또는 표면 저항 값 중에서 적어도 하나 이상이 서로 다르게 배치되도록 교대로 배치한전자파 잔향실
7 7
제 1 항에 있어서,상기 단위셀 패턴은, 정사각형에서 각 변 중앙이 직사각형 모양으로 패인 형태로 중앙에 위치하는 기본 패치와,일정한 각도에 의해 상기 기본 패치의 상측, 하측, 좌측 및 우측의 각 중앙에 일정 간격을 두고 상기 기본 패치와 맞물려 배치된 반 직교다이폴 패치를 포함하는전자파 잔향실
8 8
제 7 항에 있어서,상기 전자파 흡수 장치는, 상기 기본 패치와 상기 반 직교다이폴 패치의 전기적 길이를 결정하는 구조 파라미터, 상기 기본 패치와 상기 반 직교다이폴 패치의 간격, 상기 금속 도체층으로부터 상기 단위셀 패턴까지의 높이, 상기 유전체층의 재료 특성, 상기 단위셀 패턴의 표면 저항 값 중에서 적어도 하나 이상을 조절하여 공진 주파수 및 대역폭을 조절하는전자파 잔향실
9 9
제 7 항에 있어서,상기 기본 패치는, 중앙에 정사각형 구조의 제 1 슬롯이 형성된전자파 잔향실
10 10
제 9 항에 있어서,상기 전자파 흡수 장치는, 상기 기본 패치와 상기 반 직교다이폴 패치의 전기적 길이를 결정하는 구조 파라미터, 상기 기본 패치와 상기 반 직교다이폴 패치의 간격, 상기 금속 도체층으로부터 상기 단위셀 패턴까지의 높이, 상기 유전체층의 재료 특성, 상기 단위셀 패턴의 표면 저항 값, 상기 제 1 슬롯의 크기 중에서 적어도 하나 이상을 조절하여 공진 주파수 및 대역폭을 조절하는전자파 잔향실
11 11
제 9 항에 있어서,상기 기본 패치는, 상기 제 1 슬롯의 각 모서리에 길이가 일정한 정사각형 구조의 제 2 슬롯이 형성된전자파 잔향실
12 12
제 11 항에 있어서,상기 전자파 흡수 장치는, 상기 기본 패치와 상기 반 직교다이폴 패치의 전기적 길이를 결정하는 구조 파라미터, 상기 기본 패치와 상기 반 직교다이폴 패치의 간격, 상기 금속 도체층으로부터 상기 단위셀 패턴까지의 높이, 상기 유전체층의 재료 특성, 상기 단위셀 패턴의 표면 저항 값, 상기 제 1 슬롯의 크기, 상기 제 2 슬롯의 한 변의 길이 중에서 적어도 하나 이상을 조절하여 공진 주파수 및 대역폭을 조절하는전자파 잔향실
13 13
제 7 항에 있어서,상기 반 직교다이폴 패치는, 외곽변의 중앙에 반 직교다이폴 구조의 제 3 슬롯이 형성된전자파 잔향실
14 14
제 13 항에 있어서,상기 전자파 흡수 장치는, 상기 기본 패치와 상기 반 직교다이폴 패치의 전기적 길이를 결정하는 구조 파라미터, 상기 기본 패치와 상기 반 직교다이폴 패치의 간격, 상기 금속 도체층으로부터 상기 단위셀 패턴까지의 높이, 상기 유전체층의 재료 특성, 상기 단위셀 패턴의 표면 저항 값, 상기 제 3 슬롯의 크기 중에서 적어도 하나 이상을 조절하여 공진 주파수 및 대역폭을 조절하는전자파 잔향실
15 15
제 13 항에 있어서,상기 기본 패치는, 중앙에 정사각형 구조의 제 1 슬롯이 형성되며,상기 전자파 흡수 장치는, 상기 기본 패치와 상기 반 직교다이폴 패치의 전기적 길이를 결정하는 구조 파라미터, 상기 기본 패치와 상기 반 직교다이폴 패치의 간격, 상기 금속 도체층으로부터 상기 단위셀 패턴까지의 높이, 상기 유전체층의 재료 특성, 상기 단위셀 패턴의 표면 저항 값, 상기 제 1 슬롯의 크기, 상기 제 3 슬롯의 크기 중에서 적어도 하나 이상을 조절하여 공진 주파수 및 대역폭을 조절하는전자파 잔향실
16 16
제 13 항에 있어서,상기 기본 패치는, 중앙에 정사각형 구조의 제 1 슬롯이 형성되며, 상기 제 1 슬롯의 각 모서리에 길이가 일정한 정사각형 구조의 제 2 슬롯이 형성되고,상기 전자파 흡수 장치는, 상기 기본 패치와 상기 반 직교다이폴 패치의 전기적 길이를 결정하는 구조 파라미터, 상기 기본 패치와 상기 반 직교다이폴 패치의 간격, 상기 금속 도체층으로부터 상기 단위셀 패턴까지의 높이, 상기 유전체층의 재료 특성, 상기 단위셀 패턴의 표면 저항 값, 상기 제 1 슬롯의 크기, 상기 제 2 슬롯의 한 변의 길이, 상기 제 3 슬롯의 크기 중에서 적어도 하나 이상을 조절하여 공진 주파수 및 대역폭을 조절하는전자파 잔향실
17 17
제 7 항에 있어서,상기 전자파 흡수 장치는, 상기 기본 패치와 상기 반 직교다이폴 패치가 각각 다른 표면 저항 값을 가지는전자파 잔향실
18 18
제 8 항, 제 10 항, 제 12항, 제 14 항, 제 15 항 또는 제 16 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 구조 파라미터는, 상기 단위셀 패턴의 한 변의 길이, 상기 반 직교다이폴 패치의 상기 단위셀 패턴에 맞닿아 있는 변의 길이, 상기 반 직교다이폴 패치에서 상기 기본 패치와 맞물려 있는 부분 중 상기 기본 패치와 평행한 방향인 변의 길이, 상기 기본 패치에서 정사각형의 한 변의 길이, 상기 단위셀 패턴의 두께 또는 상기 반 직교다이폴 패치에서 상기 단위셀 패턴의 한 변으로부터 수직한 높이 중에서 적어도 하나 이상을 포함하는전자파 잔향실
지정국 정보가 없습니다
순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - 패밀리정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US09035817 US 미국 FAMILY
2 US20120162001 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - DOCDB 패밀리 정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2012162001 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US9035817 US 미국 DOCDBFAMILY
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 방송통신위원회 한국전자통신연구원 정보통신산업원천기술개발사업 전자파 기반 진단 및 방호기술 연구