입력되는 아날로그 신호(Vin)와 기준신호(Vref)를 비교하여 다수(n)의 디지틀 신호를 만들어 내는 아날로그/디지틀 변환회로에 있어서 ; 상기 기준신호(Vref)를 입력으로 하여 다수의 기준신호(Vr1 내지 Vrn)를 발생시키는 기준신호 발생수단(200), 및 상기 기준신호 발생수단(200)에서 제공하는 기준신호(Vr1 내지 Vrn)를 입력받고 아날로그 신호(Vin1 내지 Vinn)를 입력으로 하여 아날로그 신호(Vin2 내지 Vinn)와 디지틀 변환된 신호를 출력하는 다수(n)의 아날로그/디지틀 변환 스테이지 수단(101 내지 10N)을 구비하는 것을 특징으로 하는 아날로그/디지틀 변환기

제1항에 있어서, 상기 기준신호 발생수단(200)은 기준신호(Vref)를 입력단과 접지 사이에 직렬로 연결된 다수의 저항(R1 내지 Rn)으로 구성되되, 각 저항의 접속점에 상기 아날로그/디지틀 변환 스테이지수단(101 내지 10N)의 기준신호(Vr1 내지 Vrn)입력단이 연결되도록 한 것을 특징으로 하는 아날로그/디지틀 변환기

제1항에 있어서, 상기 아날로그/디지틀 변환 스테이지 수단(101 내지 10N) 중 마지막 아날로그/디지틀 변환 스테이지 수단(10N)을 제외한 나머지 아날로그/디지틀 변환 스테이지 수단(101 내지 10(N-1))은, 상기 아날로그 신호(Vin1 내지 Vinn)와 기준신호 (Vr1 내지 Vrn)를 입력으로 하는 비교기(C1 내지 Cn), 상기 아날로그 신호(Vin1 내지Vinn)와 기준신호(Vr1 내지 Vrn)를 입력으로 하는 섭트랙터(S1 내지 Sn), 상기 비교기(C1 내지 Cn)의 출력단에 입력단이 연결된 제1인버터(INT1 내지 INT(2n-1)), 상기 제1인버터(INT1 내지 INT(2n-1))의 출력단에 입력단이 연결되어 디지틀 변환된 신호를 출력하는 제1인버터(INT2 내지 INT2n), 상기 비교기(C1 내지 Cn)의 출력단에 게이트가 연결되고 상기 섭트랙터(S1 내지 Sn)의 출력단에 드레인이 연결되어 상기 비교수단(C1 내지 Cn)의 출력에 따라 상기 섭트랙터(S1 내지 Sn)의 출력을 스위치하여 출력하는 제1CMOS 트랜지스터(Q2 내지 Q2n), 및 상기 제1인버터(INT1 내지 INT(2n-1))의 출력단에 게이트가 연결되고 상기 아날로그 신호(Vin1 내지 Vin(n-1))입력단에 드레인이 연결되어 상기 제1인버터(INT1 내지 INT(2n-1))의 출력에 따라 상기 아날로그 신호(Vin1 내지 Vin(n-1))입력을 스위칭 출력하여 다음단의 아날로그/디지틀 변환 스테이지 수단에 제공하는 제2CMOS트랜지스터(Q1 내지 Q(2n-1))를 구비하는 것을 특징으로 하는 아날로그/디지틀 변환기

제3항에 있어서, 상기 제1CMOS트랜지스터(Q2 내지 Q2n)의 소오스에 애노우드가 연결되고 다음단의 아날로그/디지틀 변환 스테이지 수단의 아날로그 신호(Vin2 내지 Vinn)입력단에 캐소우드가 연결되어 상기 섭트랙터 수단(S1 내지 Sn)의 출력을 안정화시키는 다이오드(D1 내지 Dn)을 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 아날로그/디지틀 변환기

제1항에 있어서, 상기 마지막 아날로그/디지틀 변환 스테이지 수단(10N)은 상기 아날로그 신호(Vinn)와 기준신호(Vrn)를 입력으로 하는 비교기(Cn), 상기 비교기(Cn)의 출력단에 연결된 제1인버터(INT(2n-1)), 및 상기 제1인버터(INT(2n-1))의 출력단에 연결된 제2인버터(INT 2n)을 구비하는 것을 특징으로 하는 아날로그/디지틀 변환기