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동기식다중장치의BIP검사회로

  • 기술번호 : KST2015073819
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 내용 없음
Int. CL G06F 11/00 (2006.01)
CPC G06F 11/1012(2013.01)
출원번호/일자 1019910009315 (1991.06.05)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0068855-0000 (1993.12.18)
공개번호/일자 10-1993-0001060 (1993.01.16) 문서열기
공고번호/일자 1019930008681 (19930911) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1991.06.05)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김호건 대한민국 대전직할시유성구
2 김홍주 대한민국 대전직할시서구
3 김재근 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전기통신공사 대한민국 서울시종로구
2 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전시유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1991.06.05 수리 (Accepted) 1-1-1991-0053581-93
2 출원심사청구서
Request for Examination		 1991.06.05 수리 (Accepted) 1-1-1991-0053582-38
3 특허출원서
Patent Application		 1991.06.05 수리 (Accepted) 1-1-1991-0053580-47
4 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application		 1993.08.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0021124-40
5 등록사정서
Decision to grant		 1993.12.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0021125-96
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

동기식 다중장치의 TUG21 다중기능 상태 감시를 위한 BIP(Bit Interleaved Paring) 검사회로에 있어서 ; VC12 멀티프레임으로부터 형성된 병렬 TUG21 데이타를 입력으로 하여 V5경로 오버헤드 주기로 상기 각 해당 VC12 멀티플레임에 대한 BIP 값을 계산하여 발생시키는 BIP 값 발생수단(10), 상기 BIP 값 발생수단(10)에 연결되고 864㎑ 클럭과 280㎑클럭과 2㎑ 클럭(OUTV5B1)을 입력으로 하여 상기 BIP 값 발생수단(10)으로 상기 BIP 값 생성을 위해 필요한 BIP 클럭(BIPCK-A, BIPCK-B, BIPCK-C), 시스팀 클럭(SYSCK-A, SYSCK-B, SYSCK-C), BIP리셋 클럭(BIPRES-A, BIPRES-B, BIPRES-C) 및 BIP 래치 클럭(BIPLAT-A, BIPLAT-B, BIPLAT-C)을 생성하여 공급해 주는 BIP타이밍 발생수단(30), 및 상기 BIP 값 발생수단(10)에 연결되어 상기 BIP 값 발생수단(10)에서 계산된 BIP 값과, 상기 TUG21신호로부터 추출된 BIP 값을 비교하는 BIP비교수단(20)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 BIP 검사회로

2 2

제 1 항에 있어서, 상기 BIP 값 발생수단(10)은 상기 병렬 TUG21데이타 중 짝수 비트를 입력으로 하는 제 1 및 제 2 배타적 논리합수단(81,82), 상기 병렬 TUG21 데이타중 홀수비트를 입력으로 하는 제 3 및 제 4 배타적 논리합수단(83,84), 상기 제 1 및 제 2 배타적 논리합수단(81,82)의 출력단에 입력단이 연결된 제 5 배타적 논리합 수단(85), 상기 제 3 및 제 4 배타적 논리합 수단(83,84)의 출력단에 입력단이 연결된 제 6 배타적 논리합수단(86), 및 상기 제 5 배타적 논리합수단(85)의 출력과 상기 타이밍 발생수단(30)으로부터 출력되는 BIP 클럭(BIPCK-A, BIPCK-B, BIPCK-C), 시스팀 클럭(SYSCK-A, SYSCK-B, SYSCK-C), BIP 리셋클럭(BIPRES-A, BIPRES-B, BIPRES-C), 및 BIP 래치 클럭(BIPLAT-A, BIPLAT-B, BIPLAT-C) 및 리셋신호(RESETB)를 입력으로 하는 제1 BIP 발생수단(70), 및 상기 제 6 배타적 논리합수단(86)의 출력과 상기 타이밍 발생수단(30)으로부터 출력되는 클럭을 입력으로 하는 제 2 BIP 발생수단(71)로 구성되는 것을 특징으로 하는 BIP 검사회로

3 3

제 1 항에 있어서, 상기 타이밍 발생수단(30)은 상기 TUG21데이타로부터 상기 BIP 값을 계산하기 위해 해당 데이타를 추출하는 280㎑의 BIP클럭(BIPCK-A, BIPCK-B, BIPCK-C),을 입력으로 하는 제 1, 제 2, 제 3 인버터(61,62,63)로 구성되어 상기 시스팀 클럭(SYSCK-A, SYSCK-B, SYSCK-C)을 발생시키는 시스팀 클럭 발생수단(60), 상기 BIP 클럭 (BIPCK-A, BIPCK-B, BIPCK-C)과 2㎑ 클럭(OTUV5B1)을 입력으로 하여 상기 BIP 래치 클럭(BIPLAT-A, BIPLAT-B, BIPLAT-C)을 발생시키는 BIP 래치클럭 발생수단(40), 및 상기 BIP 래치클럭 발생수단(40)과 시스팀 클럭 발생수단(60)에 연결되어, 상기 BIP 래치클럭 발생수단(40)의 BIP 래치클럭(BIPLAT-A, BIPLAT-B, BIPLAT-C)과 상기 시스팀 클럭 발생수단(60)의 시스팀 클럭(SYSCK-A, SYSCK-B, SYSCK-C)과 864㎑ 클럭을 입력으로 하여 상기 BIP 리셋 클럭(BIPRES-A, BIPRES-B, BIPRES-C)을 발생하는 BIP 리셋 클럭 발생수단(50)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 BIP 검사회로

4 4

제 1 항에 있어서, 상기 BIP 비교수단(20)은 상기 BIP 값 발생수단(10)의 출력단에 연결되어 계산된 2비트의 BIP 값과 상기 TUG21신호로부터 추출된 2비트의 BIP 값을 입력으로 하는 제 1 및 제 2 배타적 논리합 수단(100,101)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 BIP 검사회로

5 5

제 2 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 BIP 발생수단(70,71)은 상기 제 5 및 제 6 배타적 논리합수단(85,86)의 출력과 BIP클럭(BIPCK-A, BIPCK-B, BIPCK-C)을 입력으로 하는 부정논리곱수단(91), 상기 리셋신호(RESETB)를 반전시키는 제 1 인버터수단(92), 상기 BIP 리셋 클럭(BIPRES-A, BIPRES-B, BIPRES-C)을 반전시키는 제 2 인버터수단(93), 상기 제 1 및 제 2 인버터수단(92,93)의 출력을 입력으로 하는 논리곱수단(94), 상기 부정논리곱수단(91)과 논리곱수단(94)의 출력단에 연결되어, 상기 부정논리합수단(91)과 논리곱수단(94)의 출력과 시스팀 클럭(SYSCK-A, SYSCK-B, SYSCK-C)을 입력으로 하는 제 1 D플립플롭(95), 및 상기 제 1 D플립플롭(95)과 제 1 인버터수단(92)의 출력단에 연결되어, 상기 제 1 D플립플롭(95)과 제 1 인버터수단(92)의 출력과 BIP 래치클럭(BIPLAT-A, BIPLAT-B, BIPLAT-C)을 입력으로 하는 제 2 D플립플롭(96)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 BIP 검사회로

6 6

제 3 항에 있어서, 상기 BIP 래치클럭 발생수단(40)은 상기 BIP 클럭(BIPCK-B)을 클럭 입력으로 하고 2㎑ 클럭(OTUV5B1)을 데이타 입력으로 하여 BIP 래치클럭 (BIPLAT-A)을 출력하는 제 1 D플립플롭(41), 상기 제 1 D플립플롭(41)의 출력을 데이타 입력으로 하고, 상기 BIP 클럭(BIPCK-C)을 클럭 입력으로 하여 BIP 래치클럭 (BIPLAT-B)을 출력하는 제 2D플립플롭(42) 및 상기 제 2D 플립플롭(42)의 출력을 데이타 입력으로 상기 BIP 클럭(BIPCK-A)을 클럭 입력으로 하여 BIP 래치 클럭(BIPLAT-C)을 출력하는 제 3 D플롭플립(43)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 BIP 검사회로

7 7

제 3 항에 있어서, 상기 BIP 리셋 클럭 발생수단(50)은 상기 시스팀 클럭(SYSCK-B)과 BIP 래치클럭(BIPLAT-A)을 입력으로 하는 제 1 논리곱 수단(54), 상기 제 1 논리곱수단(54)의 출력을 데이타 입력으로 하고 864㎑ 클럭을 클럭입력으로 하여 BIP리셋 클럭(BIPRES-A)을 출력하는 제 1 D플립플롭(51), 상기 시스팀 클럭(SYSCK-C)과 BIP 래치클럭(BIPLAT-B)을 입력으로 하는 제 2 논리곱수단(55), 상기 제 2 논리곱수단(55)의 출력을 데이타 입력으로 하고 864㎑ 클럭을 클럭 입력으로 하여 BIP리셋 클럭(BIPRES-B)을 출력하는 제 2 D플립플롭(52), 상기 시스팀 클럭(SYSCK-A)과 BIP 래치클럭(BIPLAT-C)을 입력으로 하는 제 3 논리곱수단(56), 및 상기 제 3 논리곱수단(56)의 출력 데이타 입력으로 하고 864㎑ 클럭을 클럭 입력으로 하여 BIP 리셋 클럭(BIPRES-C)을 출력하는 제 3 플립플롭(53)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 BIP 검사회로

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.